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Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Boundary Scan DFT-Assistant für PC-Design-Suite

05. März 2018 – Zuken und XJTAG, ein führendes Unternehmen für Boundary-Scan- und DFT-Technologien, haben ein Plugin veröffentlicht, das Zukens CR-8000 um Design-for-Test (DFT)-Fähigkeiten erweitert. Durch die Unterstützung von Design-Prüfungen während der Schaltplanerfassung kann die Testabdeckung erheblich verbessert werden. Die Funktionalität basiert auf dem DFT-Assistant von XJTAG und wurde als kostenloses Plugin für Anwender von Zukens CR-8000 Design Gateway auf der diesjährigen Embedded World in Nürnberg vorgestellt.

 CR-8000 ist eine native 3D-Entwicklungsplattform für das produktzentrische Design von Leiterplatten. CR-8000 unterstützt die Architektur-Definition, das systemübergreifende Multi-Board-Layout, das Co-Design von Chip, Package und Leiterplatte sowie das MCAD-Co-Design in 3D. CR-8000 Design Gateway ist das Paket für die Entwicklung elektrischer Schaltungen und die Prüfung elektronischer Designs.

 Moderne Baugruppen werden immer dichter bestückt, so dass ein direkter Zugriff auf die Anschlüsse vieler Komponenten, wie z. B. Ball-Grid-Arrays (BGAs), kaum mehr möglich ist. JTAG ist ein Prüfverfahren, das ohne den direkten Zugriff auf Bauteilpins auskommt. Für den Erfolg des Verfahrens ist es äußerst wichtig, dass die JTAG-Kette bereits in der Entwurfsphase korrekt angelegt wird. Darüber hinaus sind die vielfältigen Anwendungsgebiete von JTAG bei viele Anwendern immer noch nicht bekannt: neben dem weitverbreiteten CPU-Debug kann JTAG auch für die Test- und In-Circuit-Programmierung eingesetzt werden.

 Tools, die die JTAG-Fähigkeit nutzen, kommen meist erst nach Verfügbarkeit der ersten Hardware zum Einsatz und werden oft nur für die Überwachung der Fertigung herangezogen. Der XJTAG DFT-Assistant sichert die JTAG-Testbarkeit bereits als Teil des Designprozesses und meldet potenzielle Designprobleme bereits vor der Herstellung der Hardware. Diese Möglichkeit einer frühzeitigen Design-Validierung vermeidet Board-Re-Spins und kostspielige Verzögerungen von Entwicklungsprojekten.

 Der XJTAG DFT-Assistant unterstützt die Validierung der korrekten JTAG-Kettenkonnektivität, während der Boundary-Scan-Zugriff und die Abdeckung des Schaltplans durch die vollständige Integration mit CR-8000 Design Gateway angezeigt werden.

 Simon Payne, CEO von XJTAG, sagt: „XJTAG ist stolz, zu den Technologiepartnern von Zuken zu gehören. Unternehmen müssen bereits in der Entwurfsphase ermitteln können, wie die Testabdeckung mit möglichst wenigen Testpunkten maximiert werden kann. Daher ist es wichtig, schon während der Schaltungsentwicklung zu wissen, welcher JTAG-Zugriff in verfügbar ist. Der XJTAG DFT-Assistant für das Design-Gateway CR-8000 von Zuken macht es einfach, den Testzugang bereits bei der Entwicklung des Designs zu sehen. Dadurch können Ingenieure die Tests schon vor der Herstellung ihrer Leiterplatten erheblich optimieren.“

„Zukens CR-8000 beinhaltet jetzt den XJTAG DFT-Assistant, der Ingenieuren eine kostenlose, einfach zu bedienende Schnittstelle zur Überprüfung der korrekten Implementierung und Terminierung der JTAG-Ketten bietet, lange bevor eine Leiterplatte hergestellt wird“, sagt Bob Potock, Vice President Marketing bei Zuken USA, Inc. „Der XJTAG DFT-Assistant ist das Validierungstool, das unsere Kunden benötigen, um sicherzustellen, dass auf ihren Boards zuverlässige Zugangspunkte für Debug (jeglicher JTAG-Komponenten) verfügbar sind sowie zur JTAG-Programmierung oder für den Boundary-Scan-Test, bevor die Hardware produziert wird.“

www.xjtag.com/

www.zuken.com/



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