 |
 |
Hauptmenü
Newsletter abonnieren
News-Bereich
Info-Bereich
Weblinks
Schwerpunkt
Top 5 News der letzten 30 Tage
- 26. Oktober 2018 - Funktionsgenerator mit großem Touchscreen
- 23. Oktober 2018 - Batterietester für Blei-Säure-Akkus
- 25. Oktober 2018 - Yokogawa stellt nächste Generation seiner Mixed-Signal-Oszilloskope vor
- 24. Oktober 2018 - Programmierbarer Widerstandsmodule mit 2,5W, 5W und 10W
- 22. Oktober 2018 - Automotive-Radom-Tester visualisiert und charakterisiert Signaldurchlässigkeit
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Federkontakt mit integrierter Temperatur-Messfunktion
16. November 2018 - uwe electronic stellt mit den Federkontakten 100895-002 und 100895-000 eine vielseitig verwendbare Temperatur-Messfunktion zur Verfügung. Der Thermoelement-Kontakt kann sich durch seinen Aufbau als Federkontakt problemlos an unterschiedliche Oberfläche anpassen. Zudem wird immer ein gleichmäßiger Anpressdruck am Prüfling gewährleistet.
Elektrische Kontaktierung mit integrierter Dichtheitsprüfung
15. November 2018 - Tekon Prüftechnik stellt auf der electronica 2018 einen Prüfadapter mit integrierter Dichtheitsprüfung vor. Dieser ermöglicht parallel zur elektrischen Prüfung eine Dichtheitsabfrage mittels verschiedener Prüfmethoden. Die Adapter sind für die Fertigung von elektrischen und elektronischen Komponenten zum Beispiel für den Einsatz bei Automobilen, Haushaltsgeräten und im Hochspannungsbereich geeignet. Die parallele Prüfung spart Taktzeit und verringert den benötigten Bauraum.
Leistungsfähige und flexible Testprogrammierstation
14. November 2018 - Seica zeigt auf der electronic in München in Halle A3.459 seine neue VIVA Next-Software für die Testprogrammerstellung. Im Technologiebereich des Standes sind mehrere Test- und Programmierstationen der Seica Mini-Linie zu sehen, an denen die Leistungsfähigkeit der 64-Bit-VIVA Next-Software und das Konzept der offenen Architektur präsentiert wird.
Per-Pin Quellen-Messeinheit für parametrische Tests an ICs
13. November 2018 – Advantest hat seinen neuen V93000 SMU8 Parametertester vorgestellt, der den Chiphersteller exakte Messungen erlaubt, die bei der Prozess-Charakterisierung und -überwachung bei Prozesstechnologien von 28 nm bis 3 nm erforderlich sind. Dank der für parametrische AC-Tests konzipierten Per-Pin Quellen-Messeinheiten (engl. SMU) kann das System die Timing- und elektrischen Eigenschaften jedes Pin-Bauteils rasch messen und verifizieren. Dies ermöglicht eine kosteneffizientere Herstellung und schnellere Markteinführung neuer IC-Designs.
electronica 2018: Alle Test- und Messtechnik-Neuheiten auf einen Blick
04. November 2016 - Vom 13. bis 16. November findet in München wieder die Messe electronica statt. Wie immer gibt es auch zahlreiche Neuheiten im Test- und Messtechnik-Bereich, die erstmals auf der electronica ausgestellt werden. Wir haben die wichtigsten Neuerungen für Sie in übersichtlicher Form zusammengestellt. Die Liste erhebt keinen Anspruch auf Vollständigkeit und wird auch noch während der Messe stetig erweitert. Teilweise wurden zu den Neuvorstellungen auch schon detaillierte Einzelmeldungen veröffentlicht, diese finden Sie am Ende der Tabellen unter "Weitere News zum Thema".
Teledyne LeCroy präsentiert Teledyne Test Tools (T3) Produktportfolio
09. November 2018 – Teledyne LeCroy stellt für seine neue Marke Teledyne Test Tools (T3) ein breites Produktspektrum vor. Die neue Marke erweitert das Produktspektrum von Teledyne LeCroy durch eine Vielzahl von Messgeräten im unteren Preissegment. Das Teledyne Test Tools Produktportfolio wurde zusammen mit führenden OEM-Partnern entwickelt und wird von Teledyne LeCroy Mitarbeitern im Vertrieb und Kundendienst betreut.
Testsoftware automatisiert die Messung elektromagnetischer Störaussendungen
08. November 2018 – Rohde & Schwarz stellt neue Optionen für seine EMV-Testsoftware-Familie R&S ELEKTRA vor und ermöglicht damit weitere Applikationen. Laboranwender und EMV-Ingenieure in verschiedensten Branchen, in Testhäusern und in Regulierungsbehörden können damit die Messung elektromagnetischer Störungen in hohem Maße automatisieren und bei der Entwicklung und Zertifizierung von Produkten Zeit und Kosten einsparen.
Weitere Beiträge ...
- Automatische Notabschaltung für Hochleistungs-Tests
- DC-Stromversorgungen mit regenerativem Senkbetrieb
- OTA-Messlösung für 5G NR
- Memory Burn-In-Tester für NAND Flash-Speicher
- Medienkonverter für Automotive Ethernet
- IPTE stärkt seine Vertriebsstrukturen in Europa
- Handheld-Mikrowellen-Spektrumanalysatoren bis 26,5 GHz
- HF-Test von Automotive-Funk- und Kommuniktionsmodulen
- Funktionsgenerator mit großem Touchscreen
- Yokogawa stellt nächste Generation seiner Mixed-Signal-Oszilloskope vor
- Programmierbarer Widerstandsmodule mit 2,5W, 5W und 10W
- Batterietester für Blei-Säure-Akkus
- Automotive-Radom-Tester visualisiert und charakterisiert Signaldurchlässigkeit
- Memory Burn-In-Tester für NAND Flash- und DRAM-Bausteine
- Transceiver für Test von Radarsystemen
Weitere News zum Thema:
Aktuelle Termine
Tag Cloud
Social Media
RSS News-Feed
RSS Feed abonnieren
© All about Test 2018