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Top 5 News der letzten 30 Tage
- 24. Oktober 2019 - HF-Signal-Generator mit standardmäßiger IQ-Modulation
- 25. Oktober 2019 - Protokoll-Analysator zur Verifizierung von USB4 und USB 3.2
- 28. Oktober 2019 - 3D-Inspektion von THT-Lötstellen im Fertigungsprozess
- 07. November 2019 - productronica 2019: Die wichtigsten Neuheiten im Überblick (Update)
- 29. Oktober 2019 - Echtzeitverhalten von Hardware untersuchen
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Software-Suite optimiert Verarbeitung und Analyse von Testdaten
22. November 2019 – Keysight Technologies kündigt die Software-Suite PathWave Test 2020 an, mit der Ingenieure aus den Bereichen 5G, IoT und Automotive, die Verarbeitung und Analyse von Testdaten optimieren können. Dies beschleunigt die Markteinführung von Produkten und verschafft den Anwendern einen Wettbewerbsvorteil.
3D AOI-System mit künstlicher Intelligenz
21. November 2019 - Eine der größten Herausforderungen bei der Programmierung von AOI-Systemen (Automatic Optical Inspection) ist die Herausforderung, dass, je genauer geprüft wird, desto mehr Pseudofehler erzeugt werden. Dies führt häufig zu einer langen Debuggingzeit und einer komplexen Programmierung. Das voll 3D AOI-System vom Typ ISO-Spector M1A von Mek (Marantz Electronics) nutzt einen selbstlernenden Algorithmus für die Lötstellenprüfung, der Abweichungen außerhalb der zu erwarteten Standardlötstelle erkennt.
Kontaktierung für Test von Batteriezellen bis 600 A
20. November 2019 - Die aktuelle Entwicklung in der Elektromobilität und das rasant wachsende Feld der Batteriefertigung stellen ganz neue Anforderungen an die Kontaktierungstechnik. Feinmetall hat für die Hochstromkontaktierung den neuen und modular aufgebauten Kontaktblock HC01 für Anwendungen bis 600 A Dauerstrom vorgestellt. Dieser Kontaktblock wurde insbesondere für die Kontaktierung von prismatischen Zellen und Pouch-Zellen entwickelt und kann je nach Kundenwunsch mit Sense-Kontakten und/oder Temperatursensoren ausgestattet sein.
Evaluierung von 400- und 800-GbE-Übertragungssystemen
19. November 2019 - Anritsu stellt seinen PAM4 Errordetektor (ED) vor, der Bitfehlerraten-(BER-)Tests mit bis zu 116 GBit/s unterstützt. Das neue Modul für die Signal Quality Analyzer-R MP1900A Serie von Anritsu ist das einzige Instrument, das eine fehlerfreie Messung von PAM4-Signalen mit 116 GBit/s ermöglicht. Zusammen mit dem zuvor vorgestellten PAM4 Pattern Generator der Serie MP1900A unterstützt das neue Modul hochpräzise BER-Messungen von PAM4-Signalen.
Multifunktionelles SPI-System kann mehr als nur Lotpasteninspektion
18. November 2019 - Auf der productronica hat OMRON ein neues 3D SPI System zur Inspektion des Lotpastenauftrags in der Elektronikfertigung vorgestellt. Das System ist mit 3 verschiedenen Auflösungen verfügbar: 25, 20 oder 15µm. Jede dieser Auflösungen kann jeweils pro Field of View (FOV) nochmals gedrittelt werden, sodass auch kleinste Strukturen sauber gemessen und dargestellt werden können. Dadurch ist ein optimaler Kompromiss zwischen Geschwindigkeit und Genauigkeit möglich.
Handheld-Microwave-Analysator für bis zu 40 GHz
15. November 2019 – Der Ceyear 4957 ist ein Handheld-Microwave-Analysator mit einem breitem Frequenz-Bereich von 30 kHz bis 40 GHz. Ebenso wie sein Vorgängermodell zeichnet sich der Ceyear 4957 durch ein breites Spektrum unterschiedlicher Testfunktionen aus. Diese umfassen: vektorielle Dual-Port-Netzwerkanalyse, Kabel- und Antennen-Zuführungs-Test, Vektorspannungs-Messung, Spektrum-Analyse (Kanal-Leistung, Nachbarkanal-Leistung, belegte Bandbreite, Interferenz-Analyse und Frequenz-Zählung), Feldstärke-Messfunktion und USB-Leistungs-Messung.
Mass Interconnect Lösung für Baugruppentest
14. November 2019 - Auf der diesjährigen productronica zeigt ODU mit der ODU-MAC Black-Line eine Mass Interconnect Lösung für das Testen von Leiterplatten und elektronischen Baugruppen. Als Schnittstelle zwischen den Prüflingen und den Testgeräten zeichnet sich die ODU-MAC Black-Line durch eine innovative, elektromechanische und bisher einzigartige Verriegelungsart aus. Die Verbindung von Prüflingen und Testgerät erfolgt mittels Knopfdruck. Der branchenübliche Handhebel entfällt. Die Handhabung ist komfortabel und ergonomisch.
Weitere Beiträge ...
- Neue Oszilloskope mit 12-Bit-Technologie
- EMV-Empfänger mit Frequenzabdeckung bis 44 GHz
- Isolierter Stromsensor für AC-Messungen im Hochspannungsbereich
- Test Contactoren für Bauteilqualifikation wie HAST, HTOL oder Burn-in
- productronica 2019: Die wichtigsten Neuheiten im Überblick (Update)
- Spektrum-/Vektor-Netzwerk-Analysatoren für Rundfunküberwachung
- Signalqualitätsanalysator für PCI Express 4.0 mit PCI-SIG-Zulassung
- Test von Automobil-SoCs mit hoher Parallelität
- FEC-fähiges Layer-1-Testsystem für 400GE-Komponenten
- AWGs mit bis zu 48 synchronen Kanälen
- Echtzeitverhalten von Hardware untersuchen
- 3D-Inspektion von THT-Lötstellen im Fertigungsprozess
- Protokoll-Analysator zur Verifizierung von USB4 und USB 3.2
- HF-Signal-Generator mit standardmäßiger IQ-Modulation
- Flexibler Test kamerabasierter Systeme
Weitere News zum Thema:
Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
- Flexible Wireless Wideband Protocol Analyzer
- RIGOL expands popular Digital Oscilloscopes Series with 200MHz Model
- IPTE presented new Design and increased Standardization
- Keysight launched next Generation of i3070 In-Circuit-Testers
- Semiconductor Test Contactor for HAST, HTOL and Burn-in
- Wideband Digitizer with 6.5 GHz Bandwidth and continuous Data Transfer
- PAM4 Error Detector for evaluating 400 and 800GbE Transmissions
- Programmable DC Electronic Load for Voltages up to 800 V
- HDMI & DisplayPort Tester for Functional and Protocol Compliance Testing
- RF Signal Generator with IQ Generation
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