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Aktuelle Nachrichten rund um den Test von Elektronik
Donnerstag, den 09. September 2010 um 14:13 Uhr

Programmierbare DC-Quelle mit 8 kW in 2 Höheneinheiten

emv-PB_XR_II_Serie09. September 2010 - Der US-Hersteller Magna-Power Electronics stellt eine überarbeitete Version seiner XR-Serie vor. Die neuen DC-Quellen liefern eine Leistung von bis zu 8 kW und kommen dabei mit 2 Höheneinheiten in einem 19''-Rack aus. Die XR II-Serie verfügt so über die höchste Leistungsdichte der aktuell am Markt verfügbaren programmierbaren DC-Quellen in diesem Gehäuseformat.

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Mittwoch, den 08. September 2010 um 10:21 Uhr

Boundary Scan On-Board Teststeuerung für Debugging und Reparatur

08. September 2010 - JTAG Technologies präsentiert ein neues Support-Paket für Baugruppen- und Systementwickler, die einen einfachen BIT-Zugang (Built-in Test) für den Boundary Scan Test und die On-Board (Um)-Programmierung implementieren möchten.

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Dienstag, den 07. September 2010 um 14:04 Uhr

Schaltsysteme für höheren Durchsatz beim Halbleitertest

Keithley-708B07. September 2010 - Keithley Instruments, Inc. stellt zwei neue Schaltgrundgeräte vor: das Modell 707B mit sechs Steckplätzen und das Modell 708B mit einem Steckplatz. Die neuen Schaltgrundgeräte wurden speziell für den Test von Halbleitern sowohl im Labor, als auch in der Fertigung entwickelt und ermöglichen ohne Code-Änderungen einen deutlich höheren Testdurchsatz.

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Montag, den 06. September 2010 um 09:24 Uhr

Hatec-Run-inTemperiertes Testen von Elektronikbaugruppen

06. September 2010 - Durch den Einsatz von Thermoboxen als Werkstückträger und von Paternoster-Modulen bietet die hatec GmbH, Bad Aibling, jetzt ein völlig neues, hocheffizientes Konzept für das temperierte Testen von Elektronikbaugruppen in der Serienfertigung. Tunneldurchlaufanlagen oder das aufwendige Beschicken von Temperierschränken entfallen, die Anlage ist modular und kann individuell - auch nachträglich - an jede Fertigungsgröße angepasst werden, vom Einzelmodul bis zur Großanlage.

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