 |
 |
Hauptmenü
Newsletter abonnieren
News-Bereich
Info-Bereich
Weblinks
Schwerpunkt
Top 5 News der letzten 30 Tage
- 26. April 2019 - Schnelles, automatisches optisches 2D-Inspektionssystem
- 29. April 2019 - Tektronix meldet erneuten Führungswechsel an der Spitze
- 25. April 2019 - Vollständige End-to-End-Messlösung für 5G NR-Mobilfunknetze
- 17. Mai 2019 - Boundary-Scan-Test für Flying-Prober SPEA4080
- 30. April 2019 - Subpixel-Metrologie für mLED und AR/VR Display-Applikationen
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Einsatz von Datenbrillen in der Messtechnik
24. Mai 2019 - Die Notwendigkeit Informationen immer und überall verfügbar zu haben, hat sich in den letzten Jahren verstärkt. Gerade in der Industrie gibt es vielfältige Szenarien, bei denen die direkte Bereitstellung von Informationen wie Messgrößen, Schaltpläne oder Dokumente sinnvoll erscheint. Besonders interessant ist es, wenn diese Informationen direkt in das Sichtfeld des Benutzers eingeblendet werden können. Mit Hilfe der AR-Technologie (Augmented Reality) sind derartige Konzepte realisierbar.
Diskussion über Erhöhung des Frequenzbereichs für abgestrahlte Emissionen
23. Mai 2019 - Laut cetecom gibt es derzeit bei der Normungsorganisation ETSI (Europäisches Institut für Telekommunikationsnormen) Bestrebungen den bei EMV-Prüfungen relevanten Frequenzbereich für abgestrahlte Emission hin zu höheren Frequenzen bis 40 GHz zu erweitern.
Breitbandempfänger mit 120 MHz Echtzeitbandbreite
22. Mai 2019 - Der IZT R5010 ist ein Breitbandempfänger mit einem Frequenzbereich bis zu 6 GHz, 120 MHz Echtzeitbandbreite und Leistungsfähiger interner Signalverarbeitung. Typische Anwendungen sind COMINT-Systeme, Satellitenüberwachung, breitbandige HF-Recorder und Qualitätsmessungen in mobilen Kommunikationsnetzwerken.
Neue Funktionen für Computertomografie-Systeme
21. Mai 2019 - Yxlon hat kürzlich auf der Messe Control in Stuttgart eine neue Release der auf Software-Plattform Geminy basierten, hochauflösenden Computertomografie-Systemfamilie vorgestellt. Außerdem wurde am Mikrofokusröntgensystem YXLON Cheetah EVO Plus eine brandneue ADR-Funktion (Automatic Defect Recognition) vorgeführt, die besonders im Elektronikbereich für sichere Prüfergebnisse und mehr Effizienz sorgen soll.
Multi-Site-Testlösung für Millimeterwellen-Bauteile bis 70 GHz
20. Mai 2019 - Advantest hat eine Erweiterung für sein V93000-System vorgestellt, die einen Test von 5G-NR-Hochfrequenzbauteilen und -Modulen der nächsten Generation ermöglicht. Die neue V93000 Wave Scale Millimeter-Lösung erlaubt hohe Multi-Site-Parallelität und bietet eine hohe Einsatzflexibilität, die für Multi-Band-Millimeterwellen (mmWave) Frequenzen erforderlich ist. Der Betriebsbereich reicht von 24 GHz bis 44 GHz bzw. von 57 GHz bis 70 GHz.
Boundary-Scan-Test für Flying-Prober SPEA4080
17. Mai 2019 - Göpel electronic hat die SYSTEM CASCON Integration für die Flying Probe Systeme der Firma SPEA nun auch für das Modell SPEA4080 freigegeben. Dadurch lässt sich das aktuelle Flaggschiff der Flying Probe Serie von SPEA mit den Fähigkeiten der Embedded JTAG Solutions Umgebung von GÖPEL electronic erweitern.
Digitaler Signalaufbereiter für Rogowski-Spulen
16. Mai 2019 - LEM stellt den Integrator AI-PMUL vor, der LEMs Angebot an Rogowski-Spulen mit flexibler Clip-Montage vervollständigt. AI-PMUL ist ein vielseitiger digitaler Signalaufbereiter für Sekundärausgänge von Rogowski-Spulen, der verschiedene Analog-, Effektiv- und Momentanausgänge bietet.
Weitere Beiträge ...
- Warnung vor starken elektromagnetischen Feldern
- CETECOM modernisiert Messhalle in Düsseldorf
- Automatische Lautsprechermessungen mit Berechnungen
- Dynamischer Leistungsanalysator für Wide-Bandgap-Halbleiterbauelemente
- Test von hochauflösenden Audio-ICs
- Multifunktionale 24-Bit-USB-Messmodule für Temperatur und Spannung
- Stromzange mit hoher Bandbreite und hoher Störfestigkeit
- Kompakte, stapelbare, robuste Prüfkammer für Akustiktests
- Schlussbericht Fachmesse EMV 2019
- EMI-Empfänger mit neuen Time-Domain- und Echtzeit-Scan-Funktionen
- Subpixel-Metrologie für mLED und AR/VR Display-Applikationen
- Tektronix meldet erneuten Führungswechsel an der Spitze
- Schnelles, automatisches optisches 2D-Inspektionssystem
- Vollständige End-to-End-Messlösung für 5G NR-Mobilfunknetze
- Boundary-Scan- und In-Circuit-Test kombiniert
Weitere News zum Thema:
Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
- Wide-band Receiver with up to 120 MHz Bandwidth
- Short Link between EDA Environment and Device Tester
- Software to Characterize Modulation Distortion in Active Devices
- New PCIe-Cards provide up to 80 synchronized AWG-Channels in one PC
- Data Acquisition Instrument integrates 10 universal analog Channels
- Boundary Scan Test Function for SPEA Flying Probe Tester
- Testing of High-Res Audio ICs
- Dynamic Power Device Analyzer
- Automatic Defect Recognition Function for X-Ray Inspection System
- Multi-Site Testing of 5G-NR mmWave Devices up to 70 GHz
Aktuelle Termine
Tag Cloud
Social Media
RSS News-Feed
RSS Feed abonnieren
© All about Test 2018