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Freitag, den 18. Mai 2012 um 11:47 Uhr |
High-Speed Speicher-Testsystem mit Testgeschwindigkeit von 8 Gbps
 18. Mai 2012 – Advantest stellt sein High-Speed DRAM-Testsystem T5511 der nächsten Generation vor, das ab diesem Monat erhältlich ist und die derzeit höchste Testgeschwindigkeit von 8 Gbps bietet. Es wurde speziell für den Test von DRAMs entwickelt. Die inzwischen allgegenwärtige DRAM-Technologie entwickelt sich schnell weiter; zudem gibt es hinsichtlich Geschwindigkeit und Funktionen je nach Anwendungsbereich vielfältige Varianten.
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Mittwoch, den 16. Mai 2012 um 06:27 Uhr |
Prüfkosten mittels "Design for Testability" senken
16. Mai 2012 – Die Firma Prüftechnik Schneider & Koch aus Bremen unterstützt Entwickler und Baugruppenfertiger bei der Optimierung ihrer Designs für den Test in der Produktion. Dadurch lassen sich nicht nur der Zeit- und Kostenaufwand bei der Adaption und Prüfung der Baugruppen reduzieren sondern meistens sind auch kürzere Testzeiten und eine höhere Testabdeckung möglich.
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Dienstag, den 15. Mai 2012 um 09:56 Uhr |
Test- und Debug-Lösung für neue 32-Bit-Multicore-MCUs AURIX
15. Mai 2012 - PLS Programmierbare Logik & Systeme GmbH stellt mit der Universal Debug Engine (UDE) 3.3. die erste optimierte Test- und Debug-Lösung für die neue Multicore-Architektur der neuen 32-Bit Mikrocontrollerfamilie AURIX von Infineon Technologies vor. Die UDE 3.3 erlaubt die Steuerung und Kontrolle der unterschiedlichen TriCore-CPUs innerhalb einer Bedienoberfläche.
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Montag, den 14. Mai 2012 um 13:38 Uhr |
3D-Röntgensystemsoftware berücksichtigt Leiterplatten-Durchbiegung
14. Mai 2012 - GÖPEL electronic hat zur SMT 2012 die neue Systemsoftware OptiCon XI-Pilot 3.0 vorgestellt. Die Weiterentwicklung des Softwarepaketes für die OptiCon X-Line 3D Röntgensysteme ermöglicht höhere Bildaufnahmegeschwindigkeiten bei gesteigerter Empfindlichkeit. Zudem werden neue Features zur Kompensation von Leiterplatten-Durchbiegungen sowie zur automatischen Stabilitätskontrolle der Röntgenbildkette unterstützt.
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