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Aktuelle Nachrichten rund um den Test von Elektronik
Freitag, den 27. Januar 2012 um 12:40 Uhr

MAC Panel SCOUT kompatible Boundary-Scan-Hardware

Gpel-PXI1149-DAK

27. Januar 2012 - GOEPEL electronic hat mit dem PXI 1149/DAK eine neue Adapterschnittstelle für die  JTAG/Boundary-Scan-Hardwareplattform SCANFLEX auf den Markt gebracht. Diese neue Option für SFX/PXI1149/Cx-FXT-Controller ist kompatibel zu SCOUT, dem Adapter-Schnittstellensystem von MAC Panel. Damit kann der Anwender jetzt die JTAG-/Boundary-Scan-Familie mit den PXI-Verbindungslösungen von MAC Panel kombinieren.
 
Freitag, den 27. Januar 2012 um 08:33 Uhr

Halbleiter-Testsoftware für Zuverlässigkeitsprüfung und Leistungshalbleiter

27. Januar 2012 - Keithley Instruments hat den Funktionsumfang seiner ACS Testumgebung (Automated Characterization Suite) erweitert. Die neue Version unterstützt das neue optionale Zuverlässigkeitstestmodul (Modell ACS-2600-RTM), sowie erweiterte ultraschnelle BTI-Testmöglichkeiten (Bias Temperature Instability), den Hochstromtest von Leistungsbauteilen und neue Projektbibliotheken für Hochspannungszuverlässigkeit, Ladungspumpen, sowie Puls-Stress-Zuverlässigkeits- und Stress-Migrations-Testanwendungen.
 
Donnerstag, den 26. Januar 2012 um 12:42 Uhr

Debug-Tools für die neue Mikrocontroller-Familie XMC4000 von Infineon

26. Januar 2012 - Parallel zur Markteinführung der neuen auf einem ARM-Cortex-M4-Core basierenden Mikrocontrollerfamilie XMC4000 von Infineon Technologies stellt PLS Programmierbare Logik & Systeme mit der Universal Debug Engine (UDE) Version 3.2.1 optimierte Test- und Debug-Werkzeuge für die gleichermaßen leistungsstarken wie energieeffizienten 32-Bit-Mikrocontroller der Serie XMC4500 vor, die als erste Baureihe der XMC4000- Mikrocontrollerfamilie ab März 2012 in Musterstückzahlen verfügbar ist.
 
Donnerstag, den 26. Januar 2012 um 07:38 Uhr

Leistungsstarkes Spektralradiometer für Labor und Produktion

IS-CCD-Array26. Januar 2012 – Mit dem CAS 120 stellt Instrument Systems eine neue Baureihe der bewährten CCD-Array-Spektrometer vor. Das Messgerät wurde speziell für preissensitive Anwendungen in der spektralen Lichtmesstechnik, wie die LED-Produktion oder Qualitätssicherung, entwickelt. Die technischen Innovationen führen trotz reduzierter Kosten zu höherer Zuverlässigkeit und Robustheit.
 


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