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News - Baugruppen- und System-TestKI-basierte Assistenzfunktion für Verifikations- und Reparaturplätze
Doppelseitige 3D-Prüfung von THT-Baugruppen
Synchronisation zwischen ALM-Systemen und Testautomatisierung
Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen
Neues 3D AOI System reduziert Pseudofehler
Power Device Analyzer/Doppelpuls-Tester für Leistungsmodule
Ultra-kompakter JTAG/Boundary-Scan-Controller
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