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PXIe Boundary Scan Controller für Entwicklung und Produktion

24. November 2022 - GÖPEL electronic hat mit einem zweiten PXIe Controller die neue SFX II Produktreihe von JTAG/Boundary Scan Controllern erweitert. Der SFX II PXIe C4/LX wendet eine neue Test- und Validierungsmethodik an, welche im Design eingebettete Instrumente nutzt, um komplexe Boards mit stark reduziertem physikalischem Zugriff zu testen und zu programmieren. In diesem Kontext bietet der multifunktionale mixed signal Controller eine einheitliche Steuerplattform mit vier unabhängigen, echt parallelen Test Access Ports (TAP) für bis zu 100MHz.

Dadurch gelingt die synchronisierte Ausführung von embedded Test-, Debug- und Programmier-Operationen via Boundary Scan (IEEE1149.x), Prozessor Emulation, Chip integrated Instruments oder dem Embedded Diagnostics Verfahren.

Die Leistungsfähigkeit des eingesetzten JTAG/Boundary Scan Controllers SFX II PXIe C4/LX hat einen fundamentalen Einfluss auf die praktische Umsetzbarkeit der embedded Testtechnologien. Durch seine multifunktionale Architektur bietet er fast unbegrenzte Möglichkeiten, alle Technologien, inklusive Mixed Signal Tests, flexibel und mit höchster Performance auf nur einer Plattform zu kombinieren.

Dieser Lösungsansatz bietet nicht nur den Vorteil einer deutlich verbesserten Testtiefe für komplexe Boards auch ohne Einsatz von Nadeln, sondern er minimiert auch die Zahl notwendiger Instrumente. Er kann beispielsweise durch eingebettete Funktionstests die Erkennung und Diagnose dynamischer Fehler realisieren. So ist eine high speed In-System-Programmierung (ISP) für Flash Komponenten möglich ohne Mikro-Controller und PLD/FPGA stand alone Programme zu verwenden. Durch eine Vielzahl spezieller Erweiterungs- und Konfigurationsfeatures ist der SFX II PXIe C4/LX bereits für zukünftige embedded Technologien zum Testen, Validieren, Debuggen und Programmieren gerüstet. Unter Nutzung der PXI Express Plattform lassen sich somit externe Funktionstests einfach mit Embedded Prozeduren kombinieren.

Das System ist sowohl für die Entwicklung, als auch für die Produktion geeignet. Dadurch reicht der Einsatzbereich von der Designverifikation von Prototypen, über das Hardware Debugging, die Programmierung von Flash bis hin zum Gang Test von high Volume Stückzahlen und der Diagnose defekter Baugruppen aus dem Feld zur Gewinnung der notwendigen Reparaturinformationen. Gleichzeitig ist der neue Controller kompatibel zu den PXIe Produkten der ersten SCANFLEX Generation.

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