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Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Universelle Schnittstellenkarte für JTAG-Tests

Goepel SFX2 TIC21. Januar 2020 - Das SFX II TIC120/LX ist eine neue Interface Card als Plug-In Lösung für die Embedded JTAG Solutions Controller SCANFLEX II CUBE und SCANFLEX II BLADE von Göpel electronic. Es bildet das Frontend-Modul in Richtung Prüfling (UUT) und ist daher von besonderer Wichtigkeit für die zuverlässige und korrekte Ansteuerung der angeschlossenen Busse. Durch die Rekonfigurierbarkeit des Moduls und die Programmierbarkeit der Interface-Parameter wird einerseits die Universalität der Lösung maximiert und gleichzeitig die Investition auch gegenüber zukünftigen Anwendungen geschützt.

Da sämtliche Protokolle hardware-resident parallel implementiert sind, entfallen z.B. für Produktionsanwendungen jegliche Umrüstzeiten infolge großer Prüflings-Typenvielfalt. Außerdem ist die Nutzung der verschiedenen Protokolle mit keinerlei Folgekosten verbunden, was die Planbarkeit von Investitionen verbessert.

Softwareseitig wird das SFX II TIC120/LX von der integrierten Embedded JTAG Solutions Plattform SYSTEM CASCON unterstützt. Mit Hilfe der darin verfügbaren VarioTAP- Technologie können somit Prozessoren und Microcontroller ohne jegliche Firmware zu sehr leistungsfähigen, eingebetteten Test- und Programmierinstrumenten transformiert werden. Darüber hinaus lassen sich mit der neuen Karte auch Boundary-Scan-Tests gemäß IEEE1149.x realisieren, was Kombinationstests mit höchster statischer und dynamischer Fehlerabdeckung erlaubt.

Basierend auf dem firmeneigenen CION/LX- Schaltkreis bietet das SFX II TIC120/LX einen programmierbaren Spannungsbereich von 0,9V…3,6V und weitere Features wie programmierbare Impedanz, programmierbare Eingangsspannung, spezielle Schutzfunktion, sowie einen integrierten Universalschalter. Diese Flexibilität ermöglicht eine optimale Anpassung an den jeweiligen Prüfling und die Prüfaufgabe.

www.goepel.com/



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