|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
![]() HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
![]() Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Ultra-kompakter JTAG/Boundary-Scan-Controller
PicoTAP ATE bietet eine Steuerplattform mit einem Test Access Ports (TAP) für bis zu 30MHz, sowie 4 zusätzliche, frei programmierbare Auxillary Signale. Dadurch ist die Ausführungen von zahlreichen Testverfahren möglich. Durch seine Kompaktheit lässt sich der PicoTAP ATE sowohl als Desktop-Gerät, als auch zur Integration in andere Systemumgebungen einsetzen. Als Steuerinterface ist ein USB2.0 Highspeed Interface standardmäßig integriert, über welches auch die komplette Stromversorgung des PicoTAP ATE erfolgt. Durch die ultrakompakte Bauweise, gepaart mit der hohen Leistungsfähigkeit des PicoTAP ATE JTAG/Boundary Scan Controllers und seiner multifunktionalen Architektur, bietet der PicoTAP ATE fast unbegrenzte Möglichkeiten alle Technologien, flexibel und mit moderater Performance auf nur einer Plattform zu kombinieren. Durch eine Vielzahl spezieller Konfigurationsfeatures ist der PicoTAP ATE darüber hinaus auch bereits für zukünftige embedded Technologien zum Testen, Validieren, Debuggen und programmieren gerüstet. Gegenüber dem bestehenden PicoTAP bietet der neue Controller die Unterstützung sämtlicher Zugriffstechnologien. Durch sein optimiertes Preis-Leistungsverhältnis ist er auch bei sehr kostensensitiven Applikationen einsetzbar, wobei die integrierten JTAG/Boundary Scan-Softwareplattform SYSTEM CASCON vollständige Unterstützung bietet. Dank der Kompatibilität zur leistungsstarken SCANFLEX II Plattform können die Testprogramme direkt übernommen werden. www.goepel.com/ Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
![]() Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
JTAG
Funktionstest
Oszilloskop
AOI-Test
Rohde & Schwarz
Göpel
PXI
Automotive
National Instruments
EMV-Messtechnik
Inspektion
Röntgeninspektion
Pickering
In-Circuit-Test
Batterietest
LXI
Yokogawa
Flying
Stromversorgung
Meilhaus
Photovoltaik
LTE
Netzwerkanalysator
Handheld
Solarzellen
CAN
Emulation
ICT
Advantest
Leistungsmessung
Schaltmodul
Viscom
ATEcare
Keysight
SPI
|
||
© All about Test seit 2009 |