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Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Neue Testsystem-Plattform für Baugruppentest
Zusätzlicher 19"-Bauraum sowie die Übergabe von Vakuum und Pneumatik schaffen vielfältige Möglichkeiten der Systemkonfiguration sowie der Prüfadaptergestaltung. Durch die hohe Skalierbarkeit sowohl in der Anzahl der Testpunkte als auch in der Parallelität der Prüfung sind die Systeme für sämtliche Arten von elektronischen Baugruppen geeignet. Die direkte Anbindung der Messsignale an die Prüfadapterschnittstelle sowie die direkte Verschaltung der Signale über die ABex Analogbus-Backplane stehen für herausragende Signalintegrität. Für die Produktionsmitarbeiter steht mit dem LEON Operator Interface eine einfach konfigurierbare und übersichtliche Bedienoberfläche zur Verfügung. Die offene LEON-Software-Plattform und das zugrundeliegende Windows-Betriebssystem erlauben die flexible Integration von kundenspezifischer Prüfsoftware. Um ein Höchstmaß an Flexibilität zu erreichen, werden die Prüfabläufe in NI TestStand erstellt. Die mitgelieferte Entwicklungsumgebung für den In-Circuit-Test sowie der Konrad System Manager bieten eine ausgezeichnete Unterstützung im Bereich der Testprogrammerstellung und des Debuggings. „Zuverlässige und effiziente Testlösungen stellen für unsere Kunden eine hohe Qualität und Funktionalität ihrer elektronischen Baugruppen sicher. Mit LEONBench und LEONInline erweitern wir unsere modulare und skalierbare LEON-Testsystem-Familie um Interface-Up-Systeme und noch bessere Signalintegrität. Bei der Software haben wir einen neuen CAD-Konverter auf Basis von Aster TestWay implementiert und ein vektorloses Testverfahren in die LEON-Plattform integriert.“ – Andreas Millinger, Leiter der Forschung und Entwicklung Hardware bei Konrad Technologies. „Um den Testprozess weiter zu vereinfachen und die Effizienz zu steigern, haben wir einen CAD-Konverter hinzugefügt, der automatisiert ICT-Tests auf Basis von Aster Testway erstellt und die Option für vektorlose Tests integriert.“ www.konrad-technologies.com/ Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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