News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Test Contactoren für Bauteilqualifikation wie HAST, HTOL oder Burn-in

Yamaichi Y RED 08. November 2019 – Yamaichi Electronics präsentiert auf der productronica die neue Generation der Y-RED Halbleiter Test Contactoren. Diese zeichnen sich durch standardisierte Elemente und eine einfache und benutzerfreundliche Montage aus. Als erstes Produkt der neuen Generation Y-RED wird der Standardsockel für Anwendungen zur Bauteilqualifikation wie HAST, HTOL oder Burn-in verfügbar sein. Das Rastermaß startet bereits bei 0,30mm. Der Anwendungstemperaturbereich ist von -40°C bis 150°C spezifiziert. Die Y-RED Sockel sind für die Packages LGA, QFN und BGA sowie (WL)CSP konzipiert.

Test von Automobil-SoCs mit hoher Parallelität

Advantest DPS192A 04. November 2019 – Advantest hat seine T2000 Plattform um zwei neue Module und einen Test Head erweitert, die speziell für die Prüfung von Bauteilen in der Automobilindustrie entwickelt wurden. Das neue Equipment verbessert die Testabdeckung, ermöglicht höhere Parallelität und senkt die Testkosten für System-on-Chip (SoC)-Bauteile in Automobilen.

Messung und Evaluierung der Schaltparameter von SiC- und GaN-Leistungsbauteilen

Tek AFG31000s 15. Oktober 2019 - Tektronix stellt ein neues Software-Plugin für den Arbiträr-/Funktionsgenerator AFG31000 vor, mit dem sich Doppelpuls-Tests in weniger als einer Minute durchführen lassen, sodass gegenüber anderen Methoden viel Zeit eingespart werden kann. Mit der neuen Doppelpuls-Test Software lassen sich die Pulsparameter über den Touchscreen des AFG31000 schnell definieren und dann die für den Leistungstest erforderlichen Signale erzeugen – alles in weniger als einer Minute. Die Anwendung ermöglicht eine Impedanzanpassung über die Pulsbreite und den Zeitabstand zwischen den einzelnen Pulsen bei bis zu 30 Pulsen. Die Pulsbreite ist von 20 ns bis 150 µs einstellbar.

Skalierbare Validierungslösung für Netzwerk-SoCs

29. Juli 2019 – Synopsys und Ixia, ein Unternehmen von Keysight Technologies, haben eine mehrjährige, strategische Zusammenarbeit bekannt gegeben. Die Unternehmen wollen einen Paradigmenwechsel bei der Systemvalidierung von komplexen Netzwerk-SoCs (System-On-Chip) unter Verwendung von Emulierung und einem virtuellen Tester ermöglichen. Das neue Paradigma ist eine schnellere, effektivere Alternative zur traditionellen In-Circuit-Emulation, die nicht mehr für die Portdichte und Softwarekomplexität von Netzwerk-SoCs der nächsten Generation skaliert. Dazu wird ein Emulationssystem verwendet, das an eine echte virtuelle Testerlösung angeschlossen ist.

Phasenrausch-Testsystem für HF- und Mikrowellenbauteile

Keysight N5511A 10. Juli 2019 – Keysight Technologies hat ein neues Phasenrauschmesssystem für „Power-User“ vorgestellt, das es ermöglicht, die Leistung neuer Designs zu optimieren und zu testen, die betrieblichen Anforderungen zu erfüllen sowie den Zeitplan und das Budget einzuhalten.

Hochgeschwindigkeits-I/O Testmodule für PAM4

Advantest V93000 04. Juli 2019 – Advantest hat mit MultiLane Module entwickelt, welche die Funktionalität der V93000-Plattform für den kostengünstigen Test von digitalen Hochgeschwindigkeitsschnittstellen der nächsten Generation erweitern. Die MultiLane Instrumente bieten Testdatenraten von bis zu 112Gbps in PAM4 und 56Gbps in NRZ mit Scope-Analysefunktionen bei 50GHz Bandbreite.

Zeit- und Frequenzbereich in einer einzigen Aufnahme analysieren

TLC WavePulser 14. Juni 2019 – Teledyne LeCroy stellt mit dem High-Speed-Interconnect-Analyzer WavePulser 40iX eine einzigartige Lösung für das umfassende Testen und Validieren vieler Verbindungstypen vor. Der WavePulser 40iX ist das ideale Tool (Stand Alone) zur Charakterisierung und Analyse von Verbindungen und Kabeln für serielle High-Speed Protokolle wie PCI Express, HDMI, USB, SAS, SATA, Fibre Channel, InfiniBand, Gigabit Ethernet und Automotive Ethernet.

Hauptmenü

Newsletter abonnieren

News-Bereich

Info-Bereich

Weblinks

Marktübersichten

Top 5 News der letzten 30 Tage

News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Test Contactoren für Bauteilqualifikation wie HAST, HTOL oder Burn-in

Test von Automobil-SoCs mit hoher Parallelität

Messung und Evaluierung der Schaltparameter von SiC- und GaN-Leistungsbauteilen

Skalierbare Validierungslösung für Netzwerk-SoCs

Phasenrausch-Testsystem für HF- und Mikrowellenbauteile

Hochgeschwindigkeits-I/O Testmodule für PAM4

Zeit- und Frequenzbereich in einer einzigen Aufnahme analysieren

Weitere Beiträge ...

Weitere News zum Thema:

Aktuelle Termine

Tag Cloud

Social Media