|
||||
| Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestAdvantest und PDF Solutions entwickeln Cloud-basierte Datenanalyselösung02. September 2020 - Advantest Corporation, ein Anbieter von Halbleiter-Testlösungen, und PDF Solutions, ein Anbieter von softwarebasierten Datenanalyselösungen für die Halbleiterindustrie, entwickeln eine Cloud-basierte Softwarelösung auf der Basis der Softwareanalyse-Plattform Exensio von PDF. Im Zuge der Zusammenarbeit beteiligt sich Advantest zudem durch den Kauf von neu ausgegebenen Stammaktien an PDF Solutions. Online-Portal von Advantest bietet Zugang zu Produkten und Dienstleistungen03. August 2020 - Advantest hat ein neues Online-Portal eingeführt, mit dem Kunden direkt Bestellungen aufgeben und die sofortige Lieferung der cloudbasierten Dienstleistungen und Softwareprodukte von Advantest erhalten können. Die Artikel sind bei Bedarf jederzeit und überall verfügbar. Benutzer können auf das myAdvantest-Portal von jedem mit dem Internet verbundenen Gerät aus zugreifen. Die Installation einer App oder eines Softwareprogramms ist nicht nötig. Speichertester mit integrierter Burn-In-Testfunktion
Optische Waferprüfung für uLEDs
Test von Wi-Fi 6E und anderen Konnektivitäts-ICs bis zu 8 GHz27. Mai 2020 – Advantest hat die neueste Generation seiner Wave Scale RF-Kanalkarten für die V93000-Plattform vorgestellt. Dadurch wird der wachsenden Marktnachfrage nach Wi-Fi 6E, 5G-NR-Transceivern, LTE-Advanced Pro und IoT-Kommunikationsbauteilen, die bei Frequenzen bis zu 8 GHz arbeiten, Rechnung getragen. Die neue V93000 Wave Scale RF8-Karte, die sowohl hochparallele Multi-Site- als auch In-Site-Paralleltests durchführen kann, reduziert die Testkosten und die Markteinführungszeit für zukunftsweisende Hochfrequenz-Halbleiter (RF). Gleichzeitig ermöglicht die Karte den Test zukünftiger 5G-NR-Bausteine. Vollständige Design- und Testlösung für DDR5-Speicher
VNA erlaubt Single-Sweep-Messungen von 70 kHz bis 220 GHz
Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema: |
Aktuelle TermineTag CloudBoundary Scan
JTAG
Funktionstest
Oszilloskop
AOI-Test
Rohde & Schwarz
Göpel
PXI
Automotive
National Instruments
EMV-Messtechnik
Inspektion
Röntgeninspektion
Pickering
In-Circuit-Test
Batterietest
LXI
Yokogawa
Flying
Stromversorgung
Meilhaus
Photovoltaik
LTE
Netzwerkanalysator
Handheld
Solarzellen
CAN
Emulation
ICT
Advantest
Leistungsmessung
Schaltmodul
Viscom
ATEcare
Keysight
SPI
Social Media |
||
|
© All about Test seit 2009 |
||||
How to resolve AdBlock issue? 
21. Juli 2020 – Advantest hat seine H5600-Speichertester-Familie um das vielseitige Testsystem H5620ES erweitert. Das Testsystem ist sowohl für Burn-in von Hochgeschwindigkeits-ICs als auch für den Speichertest der DDR4- und nachfolgenden DDR5-Generation unter Laborumgebungen ausgelegt. Zudem unterstützt es Low-Power-Double-Data-Rate ICs (LPDDR). Durch Rationalisierung des benötigten Zubehörs, sowie Verkürzung der benötigten Zeit zwischen Burn-in und Speichertests, werden die Testkosten für die Evaluierung von Speicherchips für 5G Anwendungen drastisch gesenkt.
15. Juli 2020 – Instrument Systems bietet für μLED-Wafertesting eine einzigartige kamerabasierte Messlösung an, die 2-dimensional, pixelgenau und innerhalb vorgegebener Taktzeiten optische Analysen erstellt. Die LumiTop 4000 besitzt eine 12 MP Auflösung und detektiert kleinste Defekte und Inhomogenitäten auf dem Wafer. Dank 100 mm Makro-Objektiv ermöglicht die Kamera eine schnelle parallele Inline-Analyse aller μLEDs auf einem Wafer in einer einzigen Teststation.
19. März 2020 – Keysight Technologies stellt die weltweit erste Design- und Test-Workflow-Lösung vor, die die Produktentwicklungszeit für DDR5-DRAM-Systeme (Double-Data-Rate Dynamic Random-Access Memory) reduziert. Eine Hauptkomponente ist der PathWave ADS Memory Designer.
27. Februar 2020 – Anritsu stellt mit den Breitband-Vektor-Netzwerkanalyzer (VNA) VectorStar ME7838G den branchenweit ersten VNA vor, mit dem sich Messungen von 70 kHz bis 220 GHz in einem Single Sweep durchführen lassen. Der neue Analyzer bietet eine beispiellose Frequenzabdeckung und ermöglicht Entwicklern, Komponenten und Systeme über einen viel breiteren Frequenzbereich präziser und effizienter zu charakterisieren, um genaue Modelle zu erstellen.