News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Schneller Produktionstest von UV-LEDs

IS UV LED Test 09. Januar 2019 - Instrument Systems hat ein Messsystem bestehend aus einer Ulbricht-Kugel mit PTFE-Beschichtung und einem hochpräzisen Spektralradiometer für die schnelle 24/7-Qualitätskontrolle von UV-LEDs vorgestellt. Das kombinierte Messsystem ermöglicht präzise und gleichzeitig schnelle Messungen der UV-Strahlungsleistungen sowie weiterer spektraler Größen.

Astronics verkauft Halbleiter System Level Test Geschäft an Advantest

08. Januar 2019 – Advantest Corporation hat die Übernahme des Halbleiter System Level Test Geschäfts von Astronics Corporation für $185 Million zuzüglich einer erfolgsabhängigen Earn-Out-Meilensteinzahlung von bis zu $30 Millionen bekanntgegeben. Der Test Systems Bereichs von Astronics ergänzt nicht nur das bestehende Produktportfolio von Advantest, sondern stärkt auch die Position des Unternehmens im Bereich von Systemebene-Tests.

LCR-Pinzetten-Meter mit Überspannungsschutz

Meilhaus LCR Meter 07. Januar 2019 – Das LCR Elite2 ist das neueste Handheld-LCR Meter der Elite-Serie aus dem Hause LCR Research. Es handelt sich um ein erweitertes Basis-LCR-Pinzetten-Meter mit hoher Genauigkeit und Überspannungsschutz. Das LCR Elite2 bietet einige zusätzliche Funktionen, die das Durchführen von LCR-Messungen noch komfortabler machen. Die Basisgenauigkeit liegt beim LCR Elite2 bei 0,2% (Widerstand), 0,2% (Kapazität), 0,4% (Induktivität).

Test von Hochspannungs-ICs

Advantest EVA HVI 14. Dezember 2018 – Advantest hat ein neues Modul für sein EVA100 Messsystem eingeführt, welches Prüfungen von Hochspannung-ICs für volumenstarke Verbraucheranwendungen ermöglicht. Dank des neuen HVI-Moduls (Hochspannungs-VI-Source und Messung) können Chip-Hersteller die Zuverlässigkeit von Leistungshalbleitern in weitverbreiteten Anwendungen wie AC/DC- und DC/DC-Wandlern, Motorreglern, LED-Treibern und Gate-Treibern durch eine präzise Messung des Leckstroms und der Durchbruchspannungen gewährleisten.

Konvertierungssoftware für Halbleiter-Testpattern

05. Dezember 2018 – Test Systems Strategies, Inc. (TSSI), ein Anbieter von Design-To-Test Pattern Konvertierungs-, Simulations- und Validierungswerkzeugen, und Advantest CloudTesting ServiceTM (CTS), Entwickler des ersten On-Demand Testservices für die Halbleiterindustrie, kündigen ein neues Softwaremodul zur Konvertierung von EDA Formaten (Electronic Design Automation) (z.B. VCD, EVCD, WGL, STIL) für die Advantest CTS CX1000 Plattform an.

Per-Pin Quellen-Messeinheit für parametrische Tests an ICs

13. November 2018 – Advantest hat seinen neuen V93000 SMU8 Parametertester vorgestellt, der den Chiphersteller exakte Messungen erlaubt, die bei der Prozess-Charakterisierung und -überwachung bei Prozesstechnologien von 28 nm bis 3 nm erforderlich sind. Dank der für parametrische AC-Tests konzipierten Per-Pin Quellen-Messeinheiten (engl. SMU) kann das System die Timing- und elektrischen Eigenschaften jedes Pin-Bauteils rasch messen und verifizieren. Dies ermöglicht eine kosteneffizientere Herstellung und schnellere Markteinführung neuer IC-Designs.

Memory Burn-In-Tester für NAND Flash-Speicher

Advantest B6700d 02. November 2018 – Advantest Corporation hat zwei weitere Produkte seiner B6700 Familie von Memory Burn-In Testern auf den Markt gebracht. Die neuen Modelle B6700L und B6700S wurden konzipiert, um die Testkosten zu senken und gleichzeitig die Paralleltest-Kapazität für NAND-Flash-Speicher, die im Zuge von Server- und mobilen Datenspeicherlösungen eine hohe Nachfrage verzeichnen, zu erhöhen.

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