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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestAdvantest übernimmt CREA13. Juni 2022 - Advantest hat die Übernahme des italienischen Unternehmens CREA - Collaudi Elettronici Automatizzati S.r.l. ("CREA") bekanntgegeben. CREA ist ein Anbieter von Testsystemen für Leistungshalbleiter. Seine Produkte werden zum Testen aller Arten von Leistungs-ICs verwendet und von globalen Halbleiterunternehmen weltweit eingesetzt. CREA, mit Hauptsitz in Ciriè in der Nähe von Turin, Italien, wird eine hundertprozentige Tochtergesellschaft von Advantest Europe GmbH, Advantest’s europäischer Tochtergesellschaft werden. Der Abschluss der Transaktion ist an das behördliche Genehmigungsverfahren gebunden. Flexibles DUT-Interface ermöglicht höhere Paralleltestkapazität01. Juni 2022 - Advantest hat das DUT Scale Duo Interface für die V93000 EXA Scale SoC Testsysteme vorgestellt, das den höchsten Grad an Parallelität beim Testen innovativer Halbleiter ermöglicht. Das Interface vergrößert den nutzbaren Platz auf DUT Boards und Probe Cards um 50 Prozent und ermöglicht bei Wafer-Probe- und Endtest-Setups dreifache Bauteilhöhen. Adaptive Reinigung von Probe Cards für den Chiptest10. Mai 2022 - Advantest präsentiert die branchenweit erste ACS Adaptive Probe Cleaning (APC) Lösung und optimiert damit den Reinigungszyklus von Probe Cards. Als Teil des offenen ACS Lösungsökosystems von Advantest hat sich APC bereits bei Kunden in Asien und Europa bewährt. STMicroelectronics hat die Lösung an zwei seiner Produktionsstandorte installiert. Dadurch konnten die Reinigungszyklen erheblich verkürzt, und somit die Ausbeute beachtlich verbessert, die Lebensdauer der Probe Card verlängert und die verfügbare Systemzeit für Tests erhöht werden. Nahfeldanalyse von schmalbandigen optischen Emittern
Hochleistungs-Impedanzmessungen bis 10 MHz
Testsysteme für Laserdioden
Parametrisches Testsystem für Wafer-Tests
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02. Mai 2022 – Instrument Systems präsentierte auf der LASER WoP 2022 seine neueste Infrarot-Kamera VTC 4000 zur Nahfeldanalyse von schmalbandigen Emittern wie z.B. VCSEL oder Lasern. Industrieübliche VCSEL emittieren in mehr als einem Polarisationszustand mit jeweils unterschiedlichen Polarisationswinkeln und erschweren so ihre fehlerfreie Vermessung. Dank neuartigem One-Shot-Verfahren misst die VTC 4000 simultan die räumliche Polarisation einzelner Emitter eines Arrays und liefert notwendige Informationen, um die Polarisationsabhängigkeit des Messaufbaus zu reduzieren.
16. März 2022 – Rohde & Schwarz erweitert mit einer komplett neuen Familie von Hochleistungs-LCR-Metern den von seinen Messgeräten abgedeckten Frequenzbereich für Impedanzmessungen deutlich. Damit lassen sich nun auch Wechselstrom-Bauelemente mit Betriebsfrequenzen von 4 Hz bis 10 MHz vermessen. Die R&S LCX LCR-Meter sind zur Durchführung aller gängigen Impedanzmessungen sowie spezialisierter Messungen für ausgewählte Bauelementtypen in der Lage.
28. Februar 2022 - Instrument Systems präsentiert auf der LASER WoP 2022 sein umfangreiches Testportfolio für IR-Emitter und VCSEL. Neue Produktentwicklungen im Bereich der Spektralradiometer der CAS-Serie und der VTC Near-/Far-Field-Kameras bedienen den immens gewachsenen Markt der Laserdioden-Produktion für den kurzwelligen Infrarot-Bereich von 900 bis 1700 nm. Mit dem passenden LIV-Test-Equipment - zusätzlich bestehend aus Ulbricht-Kugeln, Photodioden, Source-Measure-Units (SMUs) und Temperaturreglern - können Laserdioden vollumfänglich optisch charakterisiert werden.
20. Januar 2022 – Keysight Technologies hat das parallele parametrische Testsystem Keysight P9002A vorgestellt. Das Testsystem bietet einen kosteneffizienten Wafertest mit hohem Durchsatz sowie eine flexible Optionsstruktur für bis zu 100 Kanäle paralleler Testressourcen, einschließlich der für parametrische Tests an jeder Testressource erforderlichen Testfunktionen. Ein neuer Adapter für Tastkopfkarten und die SPECS-Software unterstützen zudem einen reibungslosen Produktionsanlauf.