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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestSoC-Tester unterstützt softwarebasierte Funktions- und HSIO SCAN-Tests
Probe-Card-Technologie für PIC-Wafer-Level-Tests
Advantest erweitert Produktspektrum durch Übernahme von R&D Altanova23. November 2021 - Advantest Corporation hat das US-amerikanische Unternehmen R&D Altanova, Inc. übernommen. R&D Altanova ist ein Anbieter von Test Interface Boards, Substraten und Verbindungstechnologien für High-End-Anwendungen. Das Unternehmen bietet Simulation, Design, Layout, Herstellung und Montage von Test Interface Boards an, die in Testgeräten bei der Prüfung von neuesten ICs eingesetzt werden. Prüfung der Lasersicherheit bei 3D-Sensoren27. Oktober 2021 – Instrument Systems hat ein praxistaugliches Konzept zur Lasersicherheitsbewertung von VCSEL entwickelt. Mit absolut kalibrierten und modularen Testsystemen, wie dem Pulsed VCSEL Tester PVT 100/110 und der kamerabasierten VTC 2400, kann eine vollständige Charakterisierung gepulster VCSEL-Arrays durchgeführt werden. Da VCSEL-Arrays ein drastisches Wachstum bei 3D-Sensoranwendungen - wie z.B. Face ID, Automotive LiDAR und Human-Machine-Interfaces (AR/VR) - verzeichnen, wird der Nachweis ihrer Augensicherheit immer wichtiger. Bestimmung der Hochfrequenzeigenschaften von Materialien
Parametrisches Testsystem für Halbleiterchip-Produktion
Optimierung dynamischer parametrischer Halbleitertests01. Oktober 2021 - Advantest und PDF Solutions haben ihre erste gemeinsam entwickelte Lösung seit der Gründung ihrer Partnerschaft im Juli 2020 präsentiert. Das neue Advantest Cloud Solutions (ACS) „Dynamic Parametric Test (DPT) powered by PDF Exensio“ Produkt wird bereits von einem großen Halbleiterhersteller in der Fertigung eingesetzt. ACS ist eine hochsichere, skalierbare Datenplattform, die ein offenes Lösungsökosystem ermöglicht. Es unterstützt unsere Kunden bei der Bewältigung ihrer derzeit größten Herausforderungen im Umgang mit einer intelligenten Fertigungsumgebung. Weitere Beiträge ...
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03. Dezember 2021 - Advantest stellt mit der Link Scale Produktreihe neue digitale Karten für die V93000 Plattform vor. Diese ermöglichen softwarebasierte Funktionstests und USB / PCI Express (PCIe) SCAN-Tests bei Halbleitern der nächsten Generation. Die Plattform wird um systemähnliche Test-Funktionen erweitert und erlaubt es Schnittstellen beim Testen im vollständigen Protokollmodus zu betreiben.
01. Dezember 2021 - Final-Tests sind ein wichtiger Bestandteil der Supply Chain von elektronischen Bauteilen. Für integrierte Schaltkreise (ICs) sind diese fest etabliert – für integrierte photonische Schaltkreise (PICs) ist das Test-Eco-System noch im Aufbau. Einen essenziellen Baustein für neuartige PIC-Wafer-Level-Tests liefert Jenoptik mit der opto-elektronischen UFO Probe Card. RoodMicrotec setzt diese bereits ein und profitiert von einer schnellen und unkomplizierten Integration und hoher Flexibilität.
13. Oktober 2021 - Advantest hat eine optionale Hochfrequenzauflösung für sein optisches Terahertz-Probenentnahme-Analysesystem TAS7400TS angekündigt. Die neue Option zeichnet sich durch ein hervorragendes Preis-Leistungsverhältnis und einfache Bedienung aus. Sie bietet ein innovatives Messverfahren zur Bestimmung der Hochfrequenzeigenschaften von Funkwellenabsorbern sowie speziellen Materialien. Diese hochwertigen Komponenten sind für die Kommunikationstechnologie der nächsten Generation 6G und Millimeterwellen-Radartechnologien für ADAS Anwendungen (Advanced Driver Assistance Systems) unerlässlich.
05. Oktober 2021 - Tektronix stellt die neue Software-Version KTE V7.1 für das parametrische Testsystem der Serie S530 von Keithley vor und beschleunigt durch neue Fuktionen die Herstellung von Halbleiterchips. Zu den neuen, mit der Version KTE V7.1 erstmals verfügbaren Optionen zählen eine neue Paralleltestfunktion sowie eine innovative Hochspannungs-Kapazitäts-Testoption für neue Leistungs- und Wide-Bandgap-Anwendungen. KTE V7.1 verkürzt die Testzeiten gegenüber KTE V5.8 um mehr als 10 Prozent.