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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestQualitätsprüfung von μLED-Arrays
Kompetenzzentrum für Batterie- und Brennstoffzellen21. September 2022 - In Barleben bei Magdeburg hat die japanische Horiba-Gruppe ihr neues Kompetenzzentrum für Batterie- und Brennstoffzellen offiziell eröffnet. Auf rund 7000 Quadratmetern Produktionsfläche plus Büros produziert das Tochterunternehmen Horiba Fuelcon Prüfstände für Batterien, Brennstoffzellen und Elektrolyse, die vor allem im Entwicklungsbereich eingesetzt werden. Der Betrieb im neuen Werk war nach rund 18 Monaten Bauzeit bereits im April aufgenommen worden, die offizielle Eröffnung erfolgte aber erst jetzt. Einheitlicher Modellierungs-Workflow für Halbleiterbauelemente
Validierung komplexer HF- und Millimeterwellen-Designs
Erfassung des Stromverlaufs in Brennstoffzellen
Single-Sweep VNA-Spektrum-Analyzer von 70 kHz bis 220 GHz
Testlösung für Komponentencharakterisierung auf Waferebene
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27. September 2022 – Instrument Systems zeigt auf der Light+Building in Frankfurt Halle 8.0 H38 seine spektral erweiterte 2D-Farbmesskamera LumiTop 4000 zur Prüfung von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen. Die 12 MP Kamera misst die Einzel-LEDs des Arrays simultan und umgeht durch ihre hohe Messgeschwindigkeit die Temperaturabhängigkeit von Hochleistungs-LEDs. In Kombination mit einem High-end Spektralradiometer CAS 140D liefert das auf Leuchtdichte (in cd/m2) kalibrierte System hochgenaue Messwerte. Dadurch ist es insbesondere für die Qualitätskontrolle von Gleichförmigkeit, Helligkeit und Farbe bei μLED-Arrays hervorragend geeignet.
19. September 2022 – Keysight Technologies kündigte eine neue Modellgenerator (MG)-Umgebung an, mit der sich die Produktivität der Entwickler von Halbleiterbauelementen durch eine verbesserte Automatisierung des gesamten Workflows erhöhen lässt. Die Entwickler von Halbleiterbauelementen benötigen automatisierte Tools zur Erstellung präziser Simulationsmodelle und Prozess-Design-Kits (PDK) für Basisband- und Hochfrequenz-IC-Designs, die sowohl Silizium- (CMOS) als auch III-V-Verbundtechnologien umfassen.
07. September 2022 – Keysight Technologie hat seine Zusammenarbeit mit Synopsys ausgeweitet und integriert PathWave RFIC Design (GoldenGate) in die Design-Umgebung Synopsys Custom Compiler und die Schaltungssimulationslösungen Synopsys PrimeSim. Dadurch können Entwickler komplexe Hochfrequenz- und Millimeterwellen-Designanforderungen für 5G/6G System-on-Chip (SoC)- und Subsystem-Designs in der Synopsys Custom Design Familie validieren.
06. September 2022 - Die Messmodule „IntelliProbe U02“ von SMART TESTSOLUTIONS ermöglichen eine zeitsynchrone Erfassung des Stromverlaufs und der Einzelzellspannungen in einem Brennstoffzellenstapel. Der Stuttgarter Spezialist für Technologien zur Zellspannungsüberwachung an Brennstoffzellen präsentiert die neuen Module Anfang Oktober auf der Branchenmesse f-cell. Die IntelliProbe-U02-Module unterscheiden sich optisch nicht von den restlichen CVM-Modulen der Produktfamilie für die Überwachung der Einzelzellspannungen an Brennstoffzellen, die weltweit bei namhaften Fahrzeugherstellern und Automobilzulieferern im Einsatz sind.
30. August 2022 – Anritsu Company erweitert sein Angebot an VectorStar-Vektor-Netzwerk-Analyzer (VNA) um umfassende Spektrumanalyse-Funktionen und stellt nun den branchenweit ersten Single-Sweep VNA-Spektrum-Analyzer vor, der 70 kHz bis 220 GHz abdeckt. Wenn die Spektrum-Analyzer-Option installiert ist, kann der VectorStar VNA- und spektrumbasierte Messungen mit einer einzigen Verbindung durchführen, um eine effizientere und genauere Testumgebung zu schaffen, mit der sich aktive und passive Bauelemente während des Designs, der Fehlerbehebung und Charakterisierung verifizieren lassen.
27. Juli 2022 - Rohde & Schwarz bietet jetzt eine Testlösung für die vollständige Charakterisierung der HF-Performance von Prüflingen auf Waferebene an. Diese Lösung kombiniert den leistungsstarken R&S ZNA Vektornetzwerkanalysator von Rohde & Schwarz mit den branchenführenden Probe-Stationen von FormFactor. Sie ermöglicht Halbleiterherstellern die zuverlässige und reproduzierbare On-Wafer-Charakterisierung von Bauteilen während der Entwicklung, der Produktqualifizierung und in der Produktion.