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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestVollständige Design- und Testlösung für DDR5-Speicher
VNA erlaubt Single-Sweep-Messungen von 70 kHz bis 220 GHz
Test Contactoren für Bauteilqualifikation wie HAST, HTOL oder Burn-in
Test von Automobil-SoCs mit hoher Parallelität
Messung und Evaluierung der Schaltparameter von SiC- und GaN-Leistungsbauteilen
Skalierbare Validierungslösung für Netzwerk-SoCs29. Juli 2019 – Synopsys und Ixia, ein Unternehmen von Keysight Technologies, haben eine mehrjährige, strategische Zusammenarbeit bekannt gegeben. Die Unternehmen wollen einen Paradigmenwechsel bei der Systemvalidierung von komplexen Netzwerk-SoCs (System-On-Chip) unter Verwendung von Emulierung und einem virtuellen Tester ermöglichen. Das neue Paradigma ist eine schnellere, effektivere Alternative zur traditionellen In-Circuit-Emulation, die nicht mehr für die Portdichte und Softwarekomplexität von Netzwerk-SoCs der nächsten Generation skaliert. Dazu wird ein Emulationssystem verwendet, das an eine echte virtuelle Testerlösung angeschlossen ist. Phasenrausch-Testsystem für HF- und Mikrowellenbauteile
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19. März 2020 – Keysight Technologies stellt die weltweit erste Design- und Test-Workflow-Lösung vor, die die Produktentwicklungszeit für DDR5-DRAM-Systeme (Double-Data-Rate Dynamic Random-Access Memory) reduziert. Eine Hauptkomponente ist der PathWave ADS Memory Designer.
27. Februar 2020 – Anritsu stellt mit den Breitband-Vektor-Netzwerkanalyzer (VNA) VectorStar ME7838G den branchenweit ersten VNA vor, mit dem sich Messungen von 70 kHz bis 220 GHz in einem Single Sweep durchführen lassen. Der neue Analyzer bietet eine beispiellose Frequenzabdeckung und ermöglicht Entwicklern, Komponenten und Systeme über einen viel breiteren Frequenzbereich präziser und effizienter zu charakterisieren, um genaue Modelle zu erstellen.
08. November 2019 – Yamaichi Electronics präsentiert auf der productronica die neue Generation der Y-RED Halbleiter Test Contactoren. Diese zeichnen sich durch standardisierte Elemente und eine einfache und benutzerfreundliche Montage aus. Als erstes Produkt der neuen Generation Y-RED wird der Standardsockel für Anwendungen zur Bauteilqualifikation wie HAST, HTOL oder Burn-in verfügbar sein. Das Rastermaß startet bereits bei 0,30mm. Der Anwendungstemperaturbereich ist von -40°C bis 150°C spezifiziert. Die Y-RED Sockel sind für die Packages LGA, QFN und BGA sowie (WL)CSP konzipiert.
04. November 2019 – Advantest hat seine T2000 Plattform um zwei neue Module und einen Test Head erweitert, die speziell für die Prüfung von Bauteilen in der Automobilindustrie entwickelt wurden. Das neue Equipment verbessert die Testabdeckung, ermöglicht höhere Parallelität und senkt die Testkosten für System-on-Chip (SoC)-Bauteile in Automobilen.
15. Oktober 2019 - Tektronix stellt ein neues Software-Plugin für den Arbiträr-/Funktionsgenerator AFG31000 vor, mit dem sich Doppelpuls-Tests in weniger als einer Minute durchführen lassen, sodass gegenüber anderen Methoden viel Zeit eingespart werden kann. Mit der neuen Doppelpuls-Test Software lassen sich die Pulsparameter über den Touchscreen des AFG31000 schnell definieren und dann die für den Leistungstest erforderlichen Signale erzeugen – alles in weniger als einer Minute. Die Anwendung ermöglicht eine Impedanzanpassung über die Pulsbreite und den Zeitabstand zwischen den einzelnen Pulsen bei bis zu 30 Pulsen. Die Pulsbreite ist von 20 ns bis 150 µs einstellbar.
10. Juli 2019 – Keysight Technologies hat ein neues Phasenrauschmesssystem für „Power-User“ vorgestellt, das es ermöglicht, die Leistung neuer Designs zu optimieren und zu testen, die betrieblichen Anforderungen zu erfüllen sowie den Zeitplan und das Budget einzuhalten.