News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Prüfstand für Gebläse

MCD Gebläsetest 23. August 2017 - MCD Elektronik hat im Kundenauftrag eine End-of-Line Prüfanlage für Gebläse entwickelt. Die Querstromgebläse sind Teil von Kleinheizern, die in Klimaanlagen und in Bodenheizgeräten für Busse und Bahnen integriert werden. Mit dem Testgerät werden die verschiedenen Stufen der Gebläse überprüft, Spannungs- und Strommessungen sowie Dichtheitsprüfungen vorgenommen. Die Prüfeinrichtung befindet sich auf einem Rollwagen, der bequem an seinen Einsatzort gefahren werden kann. Die Bedienperson kontaktiert die Gebläse mit Schnelladaptern. Über einen Touchscreen- Monitor erfolgt die Eingabe und Anwahl der Fertigungsaufträge innerhalb der Serienfertigung.

Massiv-paralleler Testadapter für Prüfung von Display-Treiber-ICs

Advantest T6391 21. August 2017 – Advantest hat mit dem RND440 Type 3 Testadapter eine optionale Erweiterung für das T6391 Display-Treiber-IC-Testsystem (DDI) vorgestellt. Die Erweiterung ermöglicht einen massiv parallelen Test von CoF-Packages (Chip-on-Film) für die neuste Generation von Smartphone-Displays. Der Adapter wurde speziell entwickelt, um auf die immer höheren Pin-Zahlen von DDIs, höhere Geschwindigkeiten der Schnittstellen und hoch integrierte Funktionen hochauflösender Displays reagieren zu können.

Kompakter Vektornetzwerkanalysator für S-Parameter-Messungen

RS ZNLE 16. August 2017 - Mit dem neuen Vektornetzwerkanalysator R&S ZNLE bringt Rohde & Schwarz herausragende HF-Performance und außergewöhnlich hohe Messgeschwindigkeit in die untere Preisklasse. Der R&S ZNLE adressiert die Anforderungen von Kunden, die HF-Messungen zur Charakterisierung von Komponenten wie Antennen, Dämpfungsgliedern, Filtern und Leiterplatten durchführen möchten. Das neue Tischgerät wiegt nur 6 kg und benötigt mit einer Stellfläche von 408 mm x 235 mm bis zu zwei Drittel weniger Platz auf dem Arbeitstisch als vergleichbare Produkte.

Höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs

Advantest MPT3000 14. August 2017 – Advantest ermöglicht durch Optimierungen der MPT3000 Serie eine höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs (Sold-State-Drive). Durch die Erweiterungen kann die Produktlinie, von der bereits Hunderte Systeme installiert sind, mehr Test-Insertions in der Entwiclung, der Produktion kleiner Stückzahlen und in BIST-Anwendungen (Built-in Self-Test) abdecken. Dies ist mit der selben MPT3000 Architektur und derselben Software möglich. Die modulare Tester-per-DUT-Architektur (Device under Test) und einzigartige Hardware-Beschleunigung des MPT3000 unterstützt nun alle Protokolle und Formfaktoren von SSDs.

Test von hochauflösenden Wandlern, Consumer-Audio-ICs und IoT-Bauteilen

03. August 2017 – Advantest hat seine Wave Scale MX Produktfamilie um eine hochauflösende, hochgenaue Mixed-Signal-Kanalkarte ergänzt. Damit wurden die Testmöglichkeiten der Serie auf den Test von Analog-Digital- und Digital-Analog-Wandlern erweitert. Die neue Wave Scale MX Karte ermöglicht der Advantest V93000-Testplattform eine hohe Genauigkeit und Linearität beim Test von Analog- und Digital-Wandlern. Außerdem können die Testkosten und die Time-to-Market für Consumer-Audio- und IoT-Bauteile reduziert werden.

Tests nach UNECE R10 und R100 für Zulassung von Elektrofahrzeugen

BU Testing klein 13. Juli 2017 - Ab sofort bietet die Batteryuniversity GmbH den Test und die Zertifizierung von batteriebetriebenen Elektrofahrzeugen nach United Nations Economic Commission for Europe (UNECE) R100 und R10 an. Diese sind für die Erfüllung europäischer Verordnungen und Richtlinien verbindlich vorgeschrieben. Zusammen mit dem niederländischen Kooperationspartner DEKRA prüft die Batteryuniversity alle Anforderungen und führt die Zulassung bei der nationalen Behörde durch.

Charakterisierung breitbandiger Millimeterwellen-Designs

Keysight N5291A 12. Juli 2017 – Keysight präsentiert mit dem N5290/91A eine breitbandige Millimeterwellen-Netzwerkanalysatorlösung mit bislang unerreichter Systemgenauigkeit über den gesamten Frequenzbereich bis 120 GHz. Die neue Testlösung bietet eine extrem hohe Amplituden- und Phasenstabilität von <0,015 dB bzw. <0,15° über 24 Stunden und ermöglicht dadurch eine äußerst genaue Charakterisierung und Modellierung von Wafern, Bauteilen und Geräten.

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