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Neue Generation von JTAG/Boundary-Scan-Controllern

27. Juli 2017 - GÖPEL electronic präsentiert mit dem SCANFLEX II Cube eine neue Generation modularen JTAG/Boundary-Scan-Controllern, die auf modernsten Multi-Core Prozessoren und FPGAs basieren. Das System eröffnet damit neue Wege zur Unterstützung der Embedded JTAG Solutions. Mittels einer Test- und Validierungsmethodikvon Embedded Instruments lassen sich komplexe Boards testen und programmieren. Daraus resultiert eine hohe Testtiefe bei geringerem Einsatz externer Testhardware.

Durch die multifunktionale Architektur der SCANFLEX II Cube kann der Anwender zahlreiche Technologien flexibel und mit hoher Performance auf nur einer Plattform kombinieren. Embedded Board Test bietet den Vorteil einer deutlich verbesserten Prüftiefe für komplexe Boards auch ohne Einsatz von Nadeln. So kann beispielsweise ein Embedded Functional Test realisiert werden, während Embedded Programming externe Programmer überflüssig machen.

Durch acht unabhängige, echt parallele Test Access Ports (TAP) für bis zu 100MHz gelingt die synchronisierten Ausführungen von Test-, Debug- und Programmier-Operationen via Embedded JTAG Solutions (Boundary Scan, Prozessor Emulation, Chip Embedded Instruments). SCANFLEX II Cube kann über USB 3.0, Gbit LAN und Cabled PCI Express angesteuert werden.

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