Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Inline-In-Circuit-Testsystem mit bis zu 5760 Kanälen

Keysight i3070 7i28. November 2023 – Keysight Technologies stellt das neue Inline-Testsystem Keysight i3070 Serie 7i vor, ein automatisiertes In-Circuit-Testsystem (ICT), das eine erhöhte Kapazität und einen höheren Durchsatz bietet und es Herstellern ermöglicht, die komplexen Testanforderungen bei bestückten Leiterplatten mit einer hohen Knotenanzahl wirtschaftlich zu erfüllen. Der Tester zeichnet sich zudem durch einige neue Funktionen aus, wie schnelle Kurzschlusstests, integrierte Tests für Superkondensatoren und Kompatibilität zu den Vorgängermodellen.

Die Verbreitung von Hochimpedanzknoten hat zugenommen, da die Forderungen nach hoher Signalqualität, geringerem Stromverbrauch und verbesserter Funktionalität weiter zunehmen. Dadurch erhöht sich jedoch auch die Dauer von Kurzschlusstests, was eine Herausforderung für die Testeffizienz darstellt. Das Testen von Hochgeschwindigkeits-Baugruppen kann eine zeitraubende und entmutigende Aufgabe sein, die oft mehrere Zyklen für umfassende Tests erfordert und die Fertigung verlangsamt.

Die Keysight i3070 Serie 7i löst dieses Problem durch einen automatisierten Testprozess, der die Gesamttestzeit erheblich reduziert. Das ICT-System i3070 Serie 7i erhöht die Kapazität auf bis zu 5760 Knoten auf einer schlanken Inline-Fläche, um komplexe Testanforderungen zu erfüllen und die Verarbeitung größerer Panels zu ermöglichen.

Die Keysight i3070 Serie 7i bietet die folgenden Vorteile:

  • Beschleunigte Kurzschlusstests: Ein erweiterter Kurzschlusstest-Algorithmus, der aus zwei Phasen besteht – einer Erkennungsphase und einer Isolierungsphase – beschleunigt das Testverfahren im Vergleich zu herkömmlichen Methoden um 50 %.
  • Doppelte Anzahl von Testknoten: Durch den Einsatz der neuesten Quad-Density-Pin-Karten können bis zu 5760 Testknoten untergebracht werden, wobei die kompakte Grundfläche erhalten bleibt.
  • Integrierte Tests für Superkondensatoren: Ermöglicht das Testen von Superkondensatoren bis zu 100 Farad durch eine erhältliche Integrationslösung, die den Bedarf an individueller Adapterelektronik überflüssig macht.
  • Die bewährte Keysight Kurzdraht-Befestigung: Behebt Probleme, die oft mit der Langdrahtbefestigung verbunden sind, wie z. B. Rauschen, das die Teststabilität beeinträchtigt. Das Ergebnis sind übertragbare, konsistente und zuverlässige Tests, sowohl für den internationalen Einsatz als auch für den Einsatz an verschiedenen Produktionsstandorten.

Carol Leh, Vice President und General Manager für das Center of Excellence der Keysight Electronic Industrial Solutions Group, sagte: „Wir möchten erstklassige Lösungen anbieten, die unsere Kunden in die Lage versetzen, innovativ und erfolgreich zu sein. Die Hersteller sehen sich mit einer wachsenden Nachfrage nach effizienteren und komplexeren Tests konfrontiert, und Keysight stellt sich dieser Herausforderung direkt. Die Serie 7i bietet einen bahnbrechenden neuen Ansatz, der von Anfang an eine verbesserte Kapazität und einen erweiterten Erfassungsbereich mit hoher Effizienz bietet. Dank der Abwärtskompatibilität können die Kunden zudem beruhigt ihren Weg fortsetzen, mit dem Wissen, dass bestehende Investitionen geschützt sind.“

www.keysight.com/



Weitere News zum Thema:

Aktuelle Termine

LOPEC 2024
05 bis 07. März
zur Terminübersicht...
emv 2024
12. bis 14. März
zur Terminübersicht...
embedded world 2024
09. bis 11. April
zur Terminübersicht...

  Weitere Veranstaltungen...
  Messe-/Kongresstermine
  Seminare/Roadshows

 


Banner-Werbung