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Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Baugruppen-Testsystem mit hohem Durchsatz bei kleiner Stellfläche
Das neue massiv-parallele Leiterplatten-Testsystem von Keysight unterstützt bis zu 20 Kerne parallel mit PXI-basierten (PCI eXtensions for Instrumentation) In-Circuit-Testmöglichkeiten. Dadurch ist die Kernkonfiguration variabel und nicht auf eine feste Anzahl von Reihen beschränkt, was die gesamten Computerkosten reduziert. Um die Funktionalität zu erweitern, ermöglicht die Unterstützung von Keysight OpenTAP offene Plattformen für die Integration von Hardware. Je nach Bedarf und mit erweiterbaren Messgeräten und Steckkarten können Anwender die Betriebsmittel einfach skalieren. „Massiv parallele Rechenkerne ermöglichen es modernen Computern, bahnbrechende Leistungen zu erbringen. Das Leiterplatten-Testsystem i7090 bringt eine ähnliche Fähigkeit in den Fertigungstest und die Programmierung von Leiterplatten“, sagte Christopher Cain, Vice President von Keysights Electronic Industrial Products. „Das i7090 verfügt über eine innovative modulare Architektur, die einen bahnbrechenden Durchsatz auf kleinstem Raum ermöglicht. Er ist mit modernster Industrie-4.0-Automatisierung und -Analytik ausgestattet, um beispiellose Fähigkeiten zu bieten, die für eine breite Palette von Herausforderungen in der PCBA-Fertigung mit hohen Stückzahlen optimiert werden können.“ Das neue i7090 von Keysight bietet die folgenden Hauptvorteile:
www.keysight.com/ Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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