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Baugruppen-Testsystem mit hohem Durchsatz bei kleiner Stellfläche

22. März 2021 – Keysight Technologies hat das neue massiv-parallele Leiterplatten-Testsystem i7090 vorgestellt. Das System wurde dabei speziell für die parallele Durchführung von Tests an mehreren Baugruppen entwickelt. So wird ein hoher Volumendurchsatz erreicht, was die Markteinführung beschleunigt und die Testkosten reduziert. Aktuelle Systeme auf dem Markt nutzen nur bis zu vier Kerne parallel, wodurch mehrere Systeme für den gleichen Durchsatz erfoderlich sind. Dadurch entstehen Skalierungs- und Infrastrukturkosten, ein größerer Platzbedarf und zusätzlicher Arbeitsaufwand für Support und Wartung.

Das neue massiv-parallele Leiterplatten-Testsystem von Keysight unterstützt bis zu 20 Kerne parallel mit PXI-basierten (PCI eXtensions for Instrumentation) In-Circuit-Testmöglichkeiten. Dadurch ist die Kernkonfiguration variabel und nicht auf eine feste Anzahl von Reihen beschränkt, was die gesamten Computerkosten reduziert. Um die Funktionalität zu erweitern, ermöglicht die Unterstützung von Keysight OpenTAP offene Plattformen für die Integration von Hardware. Je nach Bedarf und mit erweiterbaren Messgeräten und Steckkarten können Anwender die Betriebsmittel einfach skalieren.

„Massiv parallele Rechenkerne ermöglichen es modernen Computern, bahnbrechende Leistungen zu erbringen. Das Leiterplatten-Testsystem i7090 bringt eine ähnliche Fähigkeit in den Fertigungstest und die Programmierung von Leiterplatten“, sagte Christopher Cain, Vice President von Keysights Electronic Industrial Products. „Das i7090 verfügt über eine innovative modulare Architektur, die einen bahnbrechenden Durchsatz auf kleinstem Raum ermöglicht. Er ist mit modernster Industrie-4.0-Automatisierung und -Analytik ausgestattet, um beispiellose Fähigkeiten zu bieten, die für eine breite Palette von Herausforderungen in der PCBA-Fertigung mit hohen Stückzahlen optimiert werden können.“

Das neue i7090 von Keysight bietet die folgenden Hauptvorteile:

• 20 parallele Kerne bieten flexible Skalierbarkeit und Konfiguration sowie die Möglichkeit, Tests auf mehreren Geräten durchzuführen.
• Eine kleine Systemstandfläche – 600 mm in der Breite – spart Platz und Durchlaufzeit.
• Die Fertigung von hohen bis extrem hohen Stückzahlen reduziert die Systeminvestitionen und unterstützt bei Bedarf die Testzeiten in der Produktion.
• Unpowered und Vectorless Test Extended Performance (VTEP) Technologien sorgen für schnellen Testdurchsatz, reduzierte Kostenvorrichtungen und hohe Fehlerabdeckung.
• Die Integration von Messgeräten mit der Keysight OpenTAP-Software innerhalb derselben Plattform ermöglicht effiziente Funktionstestmessungen und PXI-Unterstützung für Messgeräte von Keysight und anderen Herstellern.
• Unterstützung für Multiplattform-Hardware in einem Standard-48-cm-Rack ermöglicht die funktionale Integration.
• Die Integration von Programmierfunktionen ermöglicht eine In-System-Programmierung mit 160 Kanälen parallel, was den Systemdurchsatz erhöht.

www.keysight.com/