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Aktuelle Test- und Messtechnik-News
In-Circuit-Tester mit sehr kurzen Signalwegen
Der ICT i3070 Series 6 von Keysight bietet dem Anwender: Verbesserte Testeffizienz mit bis zu 4mal schnellerem Boundary Scan, Silicon Nails und dynamischer Flash-Programmierung zur Verbesserung des Durchsatzes und der Fertigungsgeschwindigkeit. Minimale Ausfallzeiten für die Softwareinstallation bei 100-prozentiger Abwärtskompatibilität. Erhöhte Betriebseffizienz, verbesserte Einblicke in die Testdaten, geringere Reaktionszeiten und Betriebskosten durch zertifizierte M2M-Funktionen (Machine-to-Machine) wie IPC Connected Factory Exchange (IPC-CFX) und die Standards nach IPC-HERMES-9852. Reduzierte Energiekosten durch ein intelligentes Netzteil, das den Stromverbrauch intelligent überwacht und Energieeinsparungen meldet. Moderne Softwarelizenzierung, die die Lizenzkosten transparent macht, das Lizenzmanagement zentralisiert und die Skalierbarkeit an die Produktionsanforderungen anpasst. „Die Herstellung von bestückten Leiterplatten ist ein globales Unterfangen, das in jüngster Zeit aufgrund makroökonomischer Gegebenheiten die Verlagerung an neue Standorte erlebt hat. Es ist von entscheidender Bedeutung, dass In-Circuit-Testplattformen eine geografisch übergreifende Flexibilität bieten, bei der ein auf einem System geschriebenes Testprogramm schnell zu einem anderen System transportiert werden kann, das möglicherweise Kontinente entfernt ist“, sagt Christopher Cain, Vice President und General Manager für den Bereich Electronic Industrial Products von Keysight. „Die neue In-Circuit-Testplattform i3070 Series 6 bietet transportable Testmöglichkeiten und ergänzt sie durch fortschrittliche Industrie-4.0-Technologie. So können wir unseren Kunden in der Fertigung von bestückten Leiterplatten eine hohe Ausbeute, einen schnellen Durchsatz und eine erstklassige Betriebseffizienz ermöglichen.“ www.keysight.com/ Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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