All-about-Test - JTAG-Testlösung für In-Circuit-Tester
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JTAG-Testlösung für In-Circuit-Tester

Göpel MTS3006. Februar 2018 - GÖPEL electronic bietet eine Integrationsmöglichkeit für seine Embedded JTAG Solutions in die MTS30 In-Circuit-Tester (ICT) von Digitaltest an. Das vollintegrierte Softwarepaket erlaubt eine komfortable Testentwicklung mit dedizierten Schnittstellen für den Datenaustausch beider Systeme. Anwendung findet die kombinierte Testlösung in unterschiedlichen Bereichen, von der individuellen Diagnose einzelner hochwertiger Boards bis hin zur hochvolumigen Fertigung von Automotive-Produkten.

Dabei steht auch das sogenannte „Branding“ immer mehr im Fokus, d.h. die Standardhardware wird erst nach dem ICT mit anwenderspezifischer Software programmiert und anschließend funktionell getestet. Mittels spezieller Embedded-JTAG-Technologien und Parallelisierung lassen sich dabei die Programmier- und Testzeiten enorm reduzieren.

Das platz- und kostenoptimierte ICT-Modul Sparrow MTS30 wurde von der Firma Digitaltest speziell für den Einbau in 19 Zoll Racks konzipiert und bietet somit eine Ergänzung für die Integration in gesamte Testkonzepte für funktionelle Tests. Durch Nutzung des „Embedded System Access“ lässt sich die zu prüfende Baugruppe über ihre nativen Schnittstellen (JTAG, SWD, BDM oder SBW) testen, programmieren und auch funktionell evaluieren. Damit schließt sich der Kreis rund um das teils individuelle Testkonzept einer modernen, elektronischen Baugruppe.

Die Transceiverkarte von GÖPEL electronic beruht auf der SCANFLEX Plattform und stellt 6 vollwertige Test Access Ports (TAP) zur Verfügung. Dabei wird nur ein Slot in der MTS30 benötigt.

www.goepel.com/



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