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Boundary-Scan- und In-Circuit-Test kombiniert

24. April 2019 - CGS bietet jetzt die Möglichkeit, Boundary Scan (B-Scan) mit In-Circuit-Test (ICT) in einem hocheffizienten System zu kombinieren, das die automatisierte Prüfung von Komponenten mit mittleren und hohen Stückzahlen vereinfacht. Mit B-Scan werden nur wenige Nadeln benötigt, was die Systemanpassung bequem und kostengünstig macht. Der Einsatz von B-Scan in der ITS (Inline-Teststation) von CGS vereinfacht die Handhabung zusätzlich indem kein separates Testsystem benötigt wird.

Die Testzeit kann verkürzt oder an die Zykluszeiten mittels „Gang Embedded Test“ oder „Gang Flash Programming“ angepasst werden.

Mit dem B-Scan-System von Göpel electronic ist es möglich, B-Scan mit einem ICT zu kombinieren, um die Testabdeckung zu erhöhen. Die üblichen Lücken zwischen dem B-Scan-Test und dem ICT können von beiden Systemen interaktiv geschlossen werden, wodurch der Zugriff auf das zu testende Gerät (DUT) erhöht wird. Je nach Prüfling und Testanforderungen können alle Tests in einem Kopf ausgeführt werden oder auf zwei Köpfe aufgeteilt werden, um den Durchsatz zu erhöhen.

Eine 1-Kopf-ITS für 100 x 100 mm DUTs ist nur 65 cm breit. Neben dem geringen Platzbedarf ermöglichen integrierte Rollen auch den einfachen Transport innerhalb Büros und Laboratorien, falls die Produktionshalle noch nicht zugänglich ist oder ein dediziertes Offline-Desktopsystem nicht zur Verfügung steht. Ein Vorteil, der auch die Markteinführungszeit der Produkte verkürzen kann.

www.cgs-gruppe.de/