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Embedded JTAG Solutions integriert in Teradyne In-Circuit-Plattform

18. Juli 2017 - Durch die Integration der Embedded JTAG Solutions von GÖPEL electronic lässt sich der Prüfumfang der In-Circuit-Tester TSi-052 von Teradyne erhöhen und mittels paralleler Prozessabläufe die Testzeiten deutlich reduzieren. Die Kombination der Testtechnologien eignet sich insbesondere für hochvolumige Produktion komplexer elektrischer Baugruppen, bspw. im Automotive-Bereich.

Die Systemintegration ermöglicht es dem Anwender nach dem In-Circuit-Test (ICT) die Baugruppe über verschiedene Schnittstellen zu testen und zu programmieren. Im Fokus stehen dabei Programmierung und Inbetriebnahme von Infineon AURIX und Renesas Mikroprozessoren. Mittels spezieller Embedded-Technologien und Parallelisierung lassen sich die Taktzeiten enorm verkürzen.

Die Hardware für die Integration besteht aus einem SCANFLEX-Controller. Mit einer separaten Pylon-Schnittstelle werden acht differentielle TAPs (Test Access Port) in den Adapterbereich geführt. Die Teradyne-Software „Navigate“ ruft über den Testplan die Embedded JTAG Solutions Software SYSTEM CASCON auf und bindet die Testergebnisse in das Produktionsfenster ein.

Das für eine geringe Stellfläche optimierte Inline-Testsystem TSi-052 basiert auf der Technologie der Teradyne Teststation LH/LX, welche sich ebenso mit Embedded JTAG Solutions Systemintegrationen von GÖPEL electronic ausstatten lassen.

www.goepel.com/