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Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Optimierung von Flash- und Testprozessen in der Elektronikproduktion

ProMik SmartICT07. Juni 2021 - Die Komplexität von Elektronikprodukten nimmt von Jahr zu Jahr zu. Da auch immer mehr Funktionen in Form von Software anstatt von Hardware realisiert werden, wird zudem die Menge der in die Geräte zu ladende Software stetig größer. Für die Elektronikproduktion bedeutet dies, dass die Programmierzeiten ansteigen und komplexe Testkonzepte für die Hardware erforderlich sind. ProMik bietet innovative Lösungen und Dienstleistungen an, um die Effizienz vom Testen des ersten Prototyps bis hin zur Serienfertigung zu steigern.

Um einen maximalen Yield und höchste Kapazitätsauslastung erreichen zu können, sind in der Produktion durchdachte Programmier- und Testkonzepte notwendig. Eine Möglichkeit besteht darin, die Taktzeiten der Prozesse auszubalancieren. Liegt der Engpass beim Testen, dann lassen sich beispielsweise Testfunktionen vom In-Circuit-Test (ICT) und Funktionstest (FCT) auf die Flash-Programmierstation verlagern. Sofern der Leiterplattennutzen erst nach dem Flashen getrennt wird, kann das Prüfen der Baugruppen parallel erfolgen. Dies führt zu einer erheblichen Reduzierung der Testzykluszeit und somit zu einer deutlichen Optimierung des Linientakts. In einigen Fällen kann dadurch ein separater Testplatz eingespart werden.

All-In-One-Lösung für Test und Programmierung

Mit einer Kombination der vorhandenen Flash-Lösung mit SMART ICT von ProMik lässt sich die Durchsatzmenge oder Kapazität durch kürzere und balancierte Taktzeiten erhöhen. SMART ICT ermöglicht High-Speed-Übertragungsraten nicht nur bei der Programmierung, sondern auch beim Testen. Ohne zusätzliche Hardware nur mit dem ProMik Programmiersystem, können Applikationen mit oder ohne JTAG/Boundary Scan flexibel und universell geprüft und programmiert werden. Hier knüpft ProMiks innovative SMART ICT Technologie an. SMART ICT Testfunktionen werden direkt auf der Applikation ausgeführt. Benötigte Testpunkte beschränken sich somit auf den zentralen Mikrocontroller/SoC. Selbst bei Boundary Scan Tests sind mithilfe von SMART ICT Taktzeiteinsparungen möglich. Deutliche Einsparungspotenziale ergeben sich unter anderem in Hinblick auf Testabdeckung, -ausrüstung und -entwicklung.

Modular, universell, flexibel

Je nach Produktionskonzept bietet ProMik mehrere Möglichkeiten. Das Stand-alone-System SAP2100-Auto von ProMik eignet sich für sämtliche On-Board-Programmier- und Testanforderungen. Dieses ermöglicht eine vollständige parallele Programmierung und Prüfung von bis zu 200 Targets. Plug & Play Adapterlösungen von ProMik ergänzen die Komplettlösung und je nach Produktionsbedarf kann die Lösung auch in kleinere Systeme von ProMik implementiert werden.

Die Technologien sind nicht nur leistungsstark, sondern auch einfach in sämtliche Fertigungskonzepte integrierbar. Herausragend ist dabei vor allem eine mögliche Kabellänge von bis 1,5 Metern. Anstatt in den projektspezifischen Wechseladapter können Programmer von ProMik direkt in die Produktionsanlage integriert werden. Vor allem bei Produktionsanlagen, welche auf die Produktion verschiedener Projekte ausgelegt sind, führt die rasche Projektanpassung zu signifikanten Kosteneinsparungen. Unabhängig vom verwendeten Handler und mechanischen Kontaktierungskonzept lassen sich ProMik Lösungen in jedes System integrieren. Zudem ist die Erweiterung mit SMART ICT Hardware Modulen und kundenspezifischer Hardware für dedizierte Testfunktionen möglich.

https://promik.com/



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