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Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Halbleiter-Schaltsysteme bis 54 GHz
Die Isolierung von mindestens 90 dB bei 26,5 GHz oder mindestens 64 dB bei 54 GHz minimiert das Übersprechen von Port zu Port. Die Schaltgeschwindigkeit der Switches beträgt einige Mikrosekunden, darum eignen sie sich ideal für den Einsatz für HF- und Mikrowellen-Schaltanwendungen in der Instrumentierung, Kommunikation, Radar, Schaltmatrizen und anderen Testsystemen, bei denen Geschwindigkeit und Lebensdauer kritische Parameter sind. Um Messungen mit einer Vielzahl von Ein- und Ausgangskanälen zuverlässig und automatisiert durchzuführen, ist ein gesteuertes „Signal-Routing“ bzw. „Signal-Switching“ erforderlich. Switching-Anwendungen lassen sich mit EM- oder Solid-State-Technik durchführen, die Wahl ist abhängig von den jeweiligen Anforderungen an den Test. Bei den Geräten der U942xA/B/C-Serie von Keysight handelt es sich um Solid-State-Switches, die dort eingesetzt werden, wo schnelles, verschleißfreies Schalten gegenüber der Signalleistung Priorität hat. Die U9422/U9424-Schalter bieten eine sehr hohe Isolationsleistung von 100 dB bei bis zu 9 GHz bzw. 70 dB bei bis zu 54 GHz zwischen den Anschlüssen. Die Videoleckströme sind sehr niedrig und betragen weniger als 50 mVpp für einen SPDT (Single Pole Double Throw). Wo hohe Videoleckströme die Messgenauigkeit beeinträchtigen und möglicherweise empfindliche Komponenten oder Geräte beschädigen können, gewährleisten niedrige Videoleckströme die sichere Prüfung empfindlicher Komponenten, wie beispielsweise Mischer und Verstärker. Die besonders hohe Schaltgeschwindigkeit von einigen Mikrosekunden macht die U9422/U9424 Solid-State-Switche außerdem besonders geeignet für Anwendungen in den Bereichen Instrumentierung, Kommunikation, Radar, Schaltmatrizen und verschiedenen anderen Testsystemen, wo Geschwindigkeit und Lebensdauer eines Schalters kritische Parameter sind. Erhältlich sind die U9422/U9424 FET Solid-State-Switches von Keysight u.a. im Webshop von Meilhaus. www.meilhaus.de/ Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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