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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsCall for Papers für Technologie- und Anwenderkongress VIP201107. Dezember 2010 - Ab sofort läuft das Call for Papers für den 16. Technologie- und Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis" VIP 2011, der am 12. und 13. Oktober 2011 wieder im Veranstaltungsforum Fürstenfeld bei München stattfinden wird. Testcenter für Li-Ionen-Batterien eröffnet06. Dezember 2010 - Akasol Engineering, ein Anbieter von Speicher- und Antriebssystemen für Elektrofahrzeuge, hat im November sein neues Testcenter für Li-Ionen-Batterien in Betrieb genommen. Am Stammsitz in Darmstadt steht den Entwicklern nun eine der modernsten Testumgebungen in Europa für Analyse- und Prüfverfahren für Batterietechnologie zur Verfügung. Spezial-Ohmmeter für den Einsatz in automatischen Testsystemen06. Dezember 2010 - Das neue Spezial-Ohmmeter HIOKI 3542 ist ab sofort bei ASM Automation Sensorik Messtechnik GmbH erhältlich. Es zeichnet sich durch eine ultrahohe Prüfgeschwindigkeit mit einer großen Präzision aus und eignet sich somit ideal für den Einsatz in automatischen Testsystemen. Neue Karten für Reinhardt Testsysteme02. Dezember 2010 - Die REINHARDT System- und Messelectronic GmbH hat für die Multifunktions-Testsysteme drei neue Modultypen vorgestellt: eine kombinierte Mess-Logik-Stimulierungsmatrix, eine Präzisions-Mess-Logikkarte und eine Logikkarte mit 96 Logikkanälen. CD-SEM-Messtechnik-Tool für Fotomasken02. Dezember 2010 - Advantest stellt ein neues SEM-basiertes CD-Messsystem (Critical Dimension) für Fotomasken der nächsten Generation und Patterned Media vor. Das E3630 ist voll kompatibel zum bestehenden CD-SEM-Messsystem E3610/E3620 von Advantest, bietet aber eine um 30 % bessere Wiederholbarkeit bei der Linienbreite. Migration von Boundary Scan Testvektoren auf In-Circuit-Tester02. Dezember 2010 - GÖPEL electronic gibt die Markteinführung einer speziellen Link-Software zur Migration von Testvektoren auf die In-Circuit-Tester (ICT) der Firma Agilent bekannt. Der Vektor-Link wurde im Rahmen des GATE-Programms in Kooperation mit der Firma WG-Test entwickelt und unterstützt den Transfer hybrider Boundary Scan Testsätze auf die parallele Pin-Elektronik bei gleichzeitiger Pin-Level Fehlerdiagnose. Messungen an Glasfaser-, Kupfer- oder WLAN-Netzen01. Dezember 2010 - Für umfassende Messungen an Glasfaser-, Kupfer- oder WLAN-Netzen hat IDEAL INDUSTRIES NETWORKS die neuen LanXPLORER Testgeräte auf den Markt gebracht. Damit sollen Messungen an aktiven Netzen für die Ermittlung von Leistungsraten, die Fehlersuche oder zur Bestimmung der Übertragungsqualität zum Kinderspiel werden. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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