Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Details

Testlösung für Leistungshalbleiter

23. November 2010 - Advantest Europe GmbH präsentiert zwei neue Testlösungen für Leistungsbauteile basierend auf dem SoC-Testsystem T2000. Die neue IPS-Testlösung (Integrated Power Device Solution) besteht aus einem Hochleistungsmodul, einem Matrixmodul und einem Mixed-Signal-Hochspannungsmodul, die zusammen eine umfassende, konfigurierbare Lösung für den Test von multifunktionellen Leistungs-ICs für Automotive- und Konsumelektronik-Komponenten bilden.

DieTestlösung wird durch verschiedene Software-Tools unterstützt, die speziell für die spezifischen Testanforderungen dieser Bereiche entwickelt wurden. Die neue integrierte IGBT-Testlösung (Insulated Gate Bipolar Transistor) ermöglicht die Einspeisung und Messung von sehr hohen Strömen und Spannungen für Zuverlässigkeitstests von IGBT-Leistungsbauteilen, die in Automotive- und anderen Anwendungen verbreitet sind.

Durch die zunehmende Beliebtheit von Hybrid- und Elektrofahrzeugen steigt die Nachfrage bei Mixed-Signal-Bauteilen und Leistungsmanagement ICs. Gleichzeitig spielen diese Bauteile im Prozess der Fahrzeugentwicklung eine wichtige Rolle, um Fahrzeuge mit mehr Intelligenz auszustatten und den Stromverbrauch zu reduzieren. Die neuen integrierten Testlösungen für Leistungsbauteile (IPS) von Advantest wurden speziell im Hinblick auf diese Anwendungsbereiche entwickelt und ermöglichen einen kostengünstigen Zuverlässigkeitstest von Leistungsbauteilen.

IPS-Testlösung (Integrated Power Device)

Bisherige Testsysteme für Mixed-Signal-Bauteile und Leistungsmanagement-ICs für den Automotive-Bereich erforderten eine Konfiguration von dedizierten Modulen für jede Testart, wie DC-Test, Funktionstest und Zeitmessungen, was längere Debug-Zeiten, sowie Einschränkungen bei Multisite-Tests und bei der Integration von Zusatzschaltungen auf den Testboards zur Folge hat.

Die neue integrierte Testlösung für Leistungsbauteile von Advantest kombiniert mehrere Testfunktionen in einem Modul und ermöglicht dadurch einen Multisite-Test mit einer vierfach höheren Kapazität als bisher. Die T2000 IPS Konfiguration von Advantest erlaubt eine kundenspezifische Anpassung der Testsysteme, so dass Bauteile mit unterschiedlichen Pinzahlen mit einer jeweils optimalen Konfiguration getestet werden können.

IGBT-Testlösung

Auf Grund der steigenden Nachfrage nach IGBT-Bauteilen in Leistungsschaltern und anderen Anwendungen ergibt sich ein Bedarf für flexible Tests mit unterschiedlichen Arten von Modulen auf einer einzigen Testplattform.

IGBTs werden hauptsächlich in Japan und Europa hergestellt und wurden bislang mit elektronischen Messinstrumenten getestet. Durch die zunehmende Diversifizierung bei IGBT-Produkten, einschließlich Bauteilen für kleinere und höhere Spannungen, wächst auch die Nachfrage nach Testsystemen, die sich einfacher programmieren lassen und bei denen sich Module austauschen lassen, was eine Reduzierung der Testkosten ermöglicht. Die neue IGBT-Testlösung von Advantest nutzt die Flexibilität der T2000-Plattform, um eine optimale Testlösung für IGBT-Chips und IPMs (integriertes Leistungsmodul) mit integrierten Hochleistungs- und Hochspannungsmodulen zur Verfügung zu stellen. Dies erlaubt eine weitere Senkung der Testkosten durch einen höher parallelen Test mehrerer Bauteile mit mittlerer und kleiner Leistung.