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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsInstrument Systems liefert tausendstes Array Spektrometer aus08. Dezember 2010 - Instrument Systems meldet die Auslieferung des tausendsten Array Spektrometers der Baureihe CAS 140CT. Zu den Haupteinsatzgebieten gehören die LED-Messtechnik, die Display-Messtechnik sowie die allgemeinen Spektralanalyse eingesetzt. Mit hochwertigen Detektoren sowie optischen und elektronischen Komponenten ausgestattet, decken die sieben verfügbaren Modelle des CAS 140CT einen Spektralbereich von 200 nm bis 2160 nm ab. Boundary Scan Relaiskarte für die Integration in ICT-Adaptersysteme07. Dezember 2010 - GÖPEL electronic stellt eine spezielle Relaiskarte für die Integration in Adaptersystemen für In-Circuit-Tester (ICT) vor. Die Relaiskarte mit der Bezeichnung CION ICT Adapter wurde speziell für Kundenanforderungen bei der Integration von Boundary Scan in ICT Adapter-Systeme entwickelt. Call for Papers für Technologie- und Anwenderkongress VIP201107. Dezember 2010 - Ab sofort läuft das Call for Papers für den 16. Technologie- und Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis" VIP 2011, der am 12. und 13. Oktober 2011 wieder im Veranstaltungsforum Fürstenfeld bei München stattfinden wird. Testcenter für Li-Ionen-Batterien eröffnet06. Dezember 2010 - Akasol Engineering, ein Anbieter von Speicher- und Antriebssystemen für Elektrofahrzeuge, hat im November sein neues Testcenter für Li-Ionen-Batterien in Betrieb genommen. Am Stammsitz in Darmstadt steht den Entwicklern nun eine der modernsten Testumgebungen in Europa für Analyse- und Prüfverfahren für Batterietechnologie zur Verfügung. Spezial-Ohmmeter für den Einsatz in automatischen Testsystemen06. Dezember 2010 - Das neue Spezial-Ohmmeter HIOKI 3542 ist ab sofort bei ASM Automation Sensorik Messtechnik GmbH erhältlich. Es zeichnet sich durch eine ultrahohe Prüfgeschwindigkeit mit einer großen Präzision aus und eignet sich somit ideal für den Einsatz in automatischen Testsystemen. Neue Karten für Reinhardt Testsysteme02. Dezember 2010 - Die REINHARDT System- und Messelectronic GmbH hat für die Multifunktions-Testsysteme drei neue Modultypen vorgestellt: eine kombinierte Mess-Logik-Stimulierungsmatrix, eine Präzisions-Mess-Logikkarte und eine Logikkarte mit 96 Logikkanälen. CD-SEM-Messtechnik-Tool für Fotomasken02. Dezember 2010 - Advantest stellt ein neues SEM-basiertes CD-Messsystem (Critical Dimension) für Fotomasken der nächsten Generation und Patterned Media vor. Das E3630 ist voll kompatibel zum bestehenden CD-SEM-Messsystem E3610/E3620 von Advantest, bietet aber eine um 30 % bessere Wiederholbarkeit bei der Linienbreite. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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