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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsAgilent zieht sich aus dem AOI- und AXI-Geschäft zurück19. Februar 2009 - Agilent konzentriert sich künftig verstärkt auf seine Kernkompetenzen und zieht sich bis Ende März 2009 aus den Bereichen AOI (automatische optische Inspektion) und AXI (automatische Röntgeninspektion) zurück. Die Bereiche In-Circuit- und Funktionstest werden weitergeführt. Schneller Kennlinien-Analysator für KomponententestFebruar 2009 - Yokogawa stellt einen U/I-Kennlinien Analysator mit hoher Plotgeschwindigkeit für den DC Parametertest an Halbleitern und optischen Komponenten vor. Test-Station für parametrische Bauteil-MessungenFebruar 2009 - Meilhaus bietet einen Testadapter für parametrische Messung von Agilent an, mit dem keine aufwändige Verkabelung und komplizierte Messaufbauten mehr notwendig sind. Schneider & Koch vertreibt PXI-Komponenten der Firma Geotest Inc.14. Februar 2009 - Die Prüftechnik Schneider & Koch GmbH aus Bremen, ist künftig als Distributor für PXI-Messtechnik-Komponenten der Firma Geotest Inc. tätig. Pickering Interfaces stellt neue LXI- und PXI-Module vor26. Januar 2009 - Pickering Interfaces erweitert sein Produktspektrum mit einer LXI-Schaltmatrixserie mit 256x16 elektromechanischen Relais und einem PXI Modul mit 32 digitalen I/O-Kanälen mit programmierbarer Eingangsschwellenspannung.
Testsystem für analoge ICs mit wenigen Pins10. Dezember 2008 - Advantest Kyushu Systems Co., Ltd. stellt ein neuea Testsystem für einen kostengünstigen Test von analogen ICs mit relativ wenigen Pins (bis 32 Pins) vor.
Advantest stellt neues Memory Test System vor20. November, 2008 - Advantest (Europe) GmbH stellt mit dem T5782 einen neuen Memory-Tester vor. Das T5782 Testsystem ist ab November 2008 verfügbar und zeichnet sich durch eine Per-Site-Architektur und eine marktführende Testgeschwindigkeit von 266MHz/533Mbps aus. Weitere Beiträge ...Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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