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Top 5 News der letzten 30 Tage
- 13. November 2019 - Neue Oszilloskope mit 12-Bit-Technologie
- 15. November 2019 - Handheld-Microwave-Analysator für bis zu 40 GHz
- 12. November 2019 - EMV-Empfänger mit Frequenzabdeckung bis 44 GHz
- 14. November 2019 - Mass Interconnect Lösung für Baugruppentest
- 21. November 2019 - 3D AOI-System mit künstlicher Intelligenz
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
FEC-fähiges Layer-1-Testsystem für 400GE-Komponenten
31. Oktober 2019 – Keysight Technologies hat zwei neue Lösungen vorgestellt – die FEC-fähige (Forward Error Correction) Compliance-Testlösung N4891A 400GBASE, die Leistungs- und Interoperabilitätsprobleme frühzeitig im Design- und Validierungsprozess von Geräten im Rechenzentrum findet, und das Multiport-Testsystem A400GE-QDDD 400GE, das die tatsächliche Bitfehlerrate (Bit Error Rate, BER) und die FEC-Leistung von Halbleiter-Kommunikationsbauteilen charakterisiert und quantifiziert.
AWGs mit bis zu 48 synchronen Kanälen
30. Oktober 2019 - Spectrum Instrumentation bietet jetzt einen AWG-Signalgenerator mit bis zu 48 synchronen Kanälen in einem 19-Zoll-Gehäuse an. Die neue Serie von Arbitrary-Waveform-Generatoren wurde für Ingenieure und Wissenschaftler entwickelt, die viele Testsignale gleichzeitig erzeugen müssen. Die acht verschiedenen Varianten eignen sich ideal für automatisierte Testanwendungen mit mehreren Kanälen. Sie lassen sich problemlos in nahezu jedes Testsystem integrieren, da sie eine vollständige Fernsteuerung über Ethernet/LXI von jedem beliebigen PC direkt oder über das LAN (Local Area Network) ermöglichen.
Echtzeitverhalten von Hardware untersuchen
29. Oktober 2019 – Eine gemeinsame Toolbox für die effiziente Visualisierung und Analyse von Echtzeitsystemen bieten PLS Programmierbare Logik & Systeme und INCHRON an. Das optimal aufeinander abgestimmte Hard- und Software-Paket der beiden Unternehmen ermöglicht Entwicklern komplexer echtzeitkritischer Anwendungen im Automotive- und Industrie-Umfeld eine umfassende und exakte Beurteilung von Abhängigkeiten verschiedenster Ereignisse und deren Zeitverhalten in einem realen Steuergerät.
3D-Inspektion von THT-Lötstellen im Fertigungsprozess
28. Oktober 2019 - 3D AOI ist im SMD-Bereich zur Erkennung von Baugruppenfehlern etabliert. Diese Inspektionstechnologie wird zunehmend auch für durchsteckbare THT-Komponenten (Through-Hole-Technology) gefordert, da 3D-Informationen einen Mehrwert für die Qualitätssicherung liefern. Das Inline-Inspektionssystem THT Line von GÖPEL electronic führt diese Prüfaufgaben mit einem neuen 3D-Kameramodul schnell und kosteneffizient aus. Damit sorgt es für eine bessere Qualitätssicherung von Elektronikbaugruppen mit THT- und SMD-Komponenten.
Protokoll-Analysator zur Verifizierung von USB4 und USB 3.2
25. Oktober 2019 - Teledyne LeCroy erweitert den Voyager M4x Protokoll-Analysator um eine USB 3.2-Analyse. Der Voyager M4x wurde Anfang des Jahres als erste Testlösung der Branche ausgeliefert, welche eine USB4- und Thunderbolt 3-Protokollanalyse ermöglicht. Diese Lösung unterstützt nun auch USB 3.2, um Systeme zu testen, die Dual 10Gb/s Links oder 20Gb/s aggregierte Bandbreite über USB Type-C Kabel verwenden.
HF-Signal-Generator mit standardmäßiger IQ-Modulation
24. Oktober 2019 – Rigol hat seine HF-Signalgenerator-Familie DSG800 mit den Modellen DSG821(A) und DSG836(A) erweitert. Die A-Modelle verfügen standardmäßig über Anschlüsse für IQ-Modulationen (Quadraturamplituden-Modulation). Die HF-Signalgeneratoren der DSG-Serie zeichnen sich durch ihre starke Leistung und ihren großen Funktionsumfang sowie durch ihr robustes und gleichzeitig kompaktes Design aus. Der Frequenzbereich der neuen Modelle liegt bei 9 kHz bis 2,1 GHz (DSG821/A) und 9 kHz bis 3,6 GHz (DSG836/A).
Flexibler Test kamerabasierter Systeme
23. Oktober 2019 - Herkömmliche Umgebungen zum Testen von kamerabasierten Assistenzsystemen stoßen bei aktuellen Kameragenerationen an ihre Grenzen. Das Abfilmen eines aufgezeichneten oder auch synthetisch erzeugten Szenarios von einem Monitor etwa birgt ein großes Fehlerpotenzial. Beispielsweise können Eingangsdaten für Lichtassistenzfunktionen durch licht- und kontrastschwache Monitore nur unzureichend erzeugt werden oder es werden fehlerhafte Reaktionen der Algorithmen aufgrund fehlender Bildsynchronisation provoziert.
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