All-about-Test

1. OSM-Testadapter in vier verschiedenen Größen: (Bauteile); OSM-Testadapter in vier verschiedenen Größen 06. März 2023 - Yamaichi Electronics hat neue OSM-Testadapter (Open Standard Module) vorgestellt. Durch den neuen OSM Standard der SGET werden vier unterschiedlich ...; Erstellt am 06. März 2023
2. Digitaltest fertigt künftig auch kundenspezifische Testadapter: (Baugruppen); Digitaltest fertigt künftig auch kundenspezifische Testadapter 28. Januar 2020 - Aufgrund der gestiegenen Nachfrage nach Applikationen und den damit verbundenen Lieferengpässen bei weltweit bekannten ...; Erstellt am 28. Januar 2020
3. Testadapter für SMARC 2.0 Module: (Baugruppen); Testadapter für SMARC 2.0 Module 01. November 2017 - Der Testadapter für den Computer-on-Module-Standard SMARC von Yamaichi Electronics eignet sich auch für die aktuelle Version SMARC 2.0. Der Testadapter ...; Erstellt am 31. Oktober 2017
4. Massiv-paralleler Testadapter für Prüfung von Display-Treiber-ICs: (Bauteile); Massiv-paralleler Testadapter für Prüfung von Display-Treiber-ICs 21. August 2017 – Advantest hat mit dem RND440 Type 3 Testadapter eine optionale Erweiterung für das T6391 Display-Treiber-IC-Testsystem ...; Erstellt am 20. August 2017
5. Testadapter für SMARC-Module: (Baugruppen); Testadapter für SMARC-Module 15. April 2015 – Yamaichi Electronics hat einen neuen Testadapter für den Computer-on-Module-Standard SMARC entwickelt. Er realisiert die perfekte Ausrichtung der Kontakte ...; Erstellt am 15. April 2015
6. Testadapter für DIMM / SO-DIMM Module: (Allgemein); Testadapter für DIMM / SO-DIMM Module 08. Januar 2014 –Yamaichi Electronics stellt einen Testadapter für DIMM und SO-DIMM Module YED900 vor. Der Testadapter für DIMM und SO-DIMM Module zeichnet sich ...; Erstellt am 08. Januar 2014
7. Boundary Scan Modul zum Einbau in In-Circuit-Testadapter: (Baugruppen); Boundary Scan Modul zum Einbau in In-Circuit-Testadapter 24. April 2012 - GÖPEL electronic hat weitere TAP Interface Cards (TIC) für die Boundary-Scan-Hardwareplattform SCANFLEX entwickelt. Die neuen ...; Erstellt am 24. April 2012
8. Testadapter für Bausteine mit Rastermaß von 0,8mm: (Kurznachrichten); 04. Mai 2010 - Der neue Testadapter von uwe electronic GmbH erlaubt einen parallelenTest von bis zu sechs Speicherbausteinen im Rastermaß von 0,8mm, wobei die Kontaktierung mittels gefederter Kontakte ...; Erstellt am 04. Mai 2010
9. Effiziente Leiterplattenklemme für reibungslose Prüfprozesse: (Baugruppen); Effiziente Leiterplattenklemme für reibungslose Prüfprozesse 10. Mai 2024 - In der Elektronikfertigung sind Leiterplatten quasi das Herzstück. Dabei ist es bei einigen Anwendungen notwendig, die Leiterplatte ...; Erstellt am 10. Mai 2024
10. Seica mit neuem Vertriebspartner in Österreich: (Baugruppen); ... beinhaltet, dass ausgewählte Seica-Lösungen, wie z.B. der Flying Probe Test für bestückte Leiterplatten sowie In-Circuit- und Funktionstester und Testadapter unseren Kunden zur Verfügung stehen, zusammen ...; Erstellt am 16. März 2023
11. Geschäftsführerwechsel bei ATX Hardware: (Allgemein); Geschäftsführerwechsel bei ATX Hardware 24. August 2022 - Die ATX Hardware GmbH verfügt über 25 Jahre Erfahrung im Bereich Testsysteme und gehört in Europa zu den führenden Herstellern von Prüfadaptern ...; Erstellt am 24. August 2022
12. Flexible Steckverbindungen im kompakten Format: (Allgemein); ... bei Leiterplattentests Konkret handelt es sich dabei um eine Schnittstelle zwischen den Prüflingen (D/UUT = Device/Unit under Test) und den Testgeräten. Die Prüferseite (Receiver) wird mit dem Testadapter ...; Erstellt am 19. Juli 2022
13. Flexibles DUT-Interface ermöglicht höhere Paralleltestkapazität: (Bauteile); Flexibles DUT-Interface ermöglicht höhere Paralleltestkapazität 01. Juni 2022 - Advantest hat das DUT Scale Duo Interface für die V93000 EXA Scale SoC Testsysteme vorgestellt, das den höchsten Grad an ...; Erstellt am 01. Juni 2022
14. Compliance Testlösung für MultiGBASE-T1 Automotive Ethernet Standard: (Baugruppen); ... und einfach zu bedienen. Die Berichtserstellung umfasst Pass/Fail-Ergebnisse und vollständig kommentierte Screenshots. Es wird eine komplette Testlösung einschließlich Testadapter und Kabel geliefert. ...; Erstellt am 18. Mai 2022
15. Hochleistungs-Impedanzmessungen bis 10 MHz: (Bauteile); ... erforderliche Software und Hardware ist erhältlich, von Fernsteuerung und Ergebnisprotokollierung über den Gestelleinbau des Geräts bis hin zu einer vollständigen Palette von Testadaptern für verschiedenste ...; Erstellt am 16. März 2022
16. Batteriezellenmessung für High-Power-Rundzellentests bis 63 A: (Bauteile); ... Koch-Testadaptersysteme sind auf alle Umgebungen und Anforderungen an Batterietest-Lösungen vorbereitet. Neu im Portfolio ist seit kurzem die High-Power Version der Koch-Testadapter. Mit dieser können ...; Erstellt am 09. Juni 2021
17. INGUN findet Käufer für Geschäftsfeld Ausgebaute Prüfadapter: (Baugruppen); INGUN findet Käufer für Geschäftsfeld Ausgebaute Prüfadapter 08. März 2021 - Die INGUN Prüfmittelbau GmbH hat für das Geschäftsfeld Ausgebaute Prüfadapter einen neuen Käufer gefunden. Die G&C Germany ...; Erstellt am 08. März 2021
18. INGUN verkauft Geschäftsfeld Ausgebaute Prüfadapter: (Baugruppen); INGUN verkauft Geschäftsfeld Ausgebaute Prüfadapter 26. November 2020 - INGUN will künftig den vollen Fokus auf seine Kernkompetenz legen. Diese umfassen die Entwicklung, Herstellung und den Vertrieb ...; Erstellt am 26. November 2020
19. Vollautomatischer Adapterwechsel für Baugruppentester: (Baugruppen); Vollautomatischer Adapterwechsel für Baugruppentester 22. April 2020 - CRS Prüftechnik hat ein vollautomatisches Adapterwechselkonzept für CRS Inline-Prüfstationen entwickelt. Mit dem AFC von CRS Prüftechnik ...; Erstellt am 22. April 2020
20. Kontaktierung winziger elektronischer Baugruppen: (Baugruppen); Kontaktierung winziger elektronischer Baugruppen 26. November 2019 – Die Kontaktierung hochkomplexer und winzig kleiner Baugruppen wird zunehmend zur Herausforderung. Hier setzt Yamaichi Electronics ...; Erstellt am 26. November 2019
21. FIXTEST mit neuem Eigentümer und neuer Führung: (Baugruppen); FIXTEST mit neuem Eigentümer und neuer Führung 14. August 2019 - Seit mehr als 35 Jahren entwickelt und produziert die FIXTEST Prüfmittelbau GmbH für zahlreiche Kunden exklusive und passgenaue Schnittstellen ...; Erstellt am 14. August 2019
22. Test-Handler mit deutlich kürzerer Handlingzeit: (Baugruppen); ... Darüber hinaus besticht die Produktreihe der IPTE Test-Handler durch geringe Kosten, sowohl hinsichtlich der Anschaffung des Test-Handlers selbst, als auch bei den Kosten für die Testadapter und di ...; Erstellt am 23. November 2018
23. Elektrische Kontaktierung mit integrierter Dichtheitsprüfung: (Baugruppen); Elektrische Kontaktierung mit integrierter Dichtheitsprüfung 15. November 2018 - Tekon Prüftechnik stellt auf der electronica 2018 einen Prüfadapter mit integrierter Dichtheitsprüfung vor. Dieser ermöglicht ...; Erstellt am 15. November 2018
24. Testsystemoberfläche um Adapterverwaltung erweitert: (Baugruppen); Testsystemoberfläche um Adapterverwaltung erweitert 02. Mai 2018 - LXinstruments, Systemintegrator aus Sindelfingen, hat seine Testsystemoberfläche TSCOE4 (TestSystem Common Environment) um eine optionale ...; Erstellt am 29. April 2018
25. Intelligenter Prüfadapter erkennt frühzeitig Störungen: (Baugruppen); Intelligenter Prüfadapter erkennt frühzeitig Störungen 08. November 2017 - Tekon Prüftechnik stellt ein neues Informationsmodul zur frühzeitigen Erkennung von Störungen bei der Prüfung von elektronischen ...; Erstellt am 06. November 2017
26. productronica 2017: Die wichtigsten Neuheiten im Überblick: (Allgemein); ... Instrument Systems A1.150 Optik Prüfsystem für LED-Lichtmodule ATE Solutions A1.139 Radar-Test Test von Radar-Automotive-Komponenten ENGMATEC A1.459 Testadapter SMARC ...; Erstellt am 05. November 2017
27. Manueller Prüfadapter mit Kniehebelmechanik: (Baugruppen); Manueller Prüfadapter mit Kniehebelmechanik 14. November 2016 - Der neue manuelle Flachbaugruppenadapter Typ 82C zum Kontaktieren von bestückten Platinen für den Funktionstest und den In-Circuit-Test ...; Erstellt am 13. November 2016
28. Kelvin-Testkontaktierung für QFN-, SOP- und QFP-Gehäuse: (Bauteile); Kelvin-Testkontaktierung für QFN-, SOP- und QFP-Gehäuse 05. September 2016 – Yamaichi Electronics präsentiert Kelvin-Testsockel für Halbleiterbausteine im QFN-, SOP- und QFP-Gehäuse zum Einsatz im Labor ...; Erstellt am 04. September 2016
29. Komplettlösung für USB 3.1 Type-CTM-Sendertests: (Baugruppen); ... Testsoftware läuft auf den Echtzeit-Oszilloskopen der Keysight Infiniium V-Serie und Z-Serie mit Bandbreiten ab 16 GHz. Der Signalabgriff erfolgt über den Type-C-High-Speed-Testadapter N7015A in Verbindung ...; Erstellt am 08. Juni 2016
30. Konformitätstest-Applikation zur Charakterisierung von LPDDR4-Designs: (Baugruppen); ... Signalabgriff erfolgt über die LPDDR4-BGA-Testadapter von Keysight. LPDDR4 ist eine für Embedded- und mobile Anwendungen optimierte Dynamic-Random-Access-Speichertechnologie. Aufgrund ihres geringen ...; Erstellt am 19. Januar 2015
31. Interview: Unsere Kernkompetenz ist die Fine-Pitch-Kontaktierung: (Interviews); ... Testadapter, die aus der eigentlichen Kontaktierung und einer Vorrichtung zur Fixierung des Halbleiters oder Moduls bestehen. Bei Modulen erfolgt die Kontaktierung in der Regel mit unseren Fine-Pitch-Kontaktstiften ...; Erstellt am 08. Mai 2014
32. Schnelle optische Inspektion als Ergänzung für In-Circuit- und Funktionstest: (Baugruppen); ... ist als eigenständiges System, direkt in einen Testadapter integriert oder in einer vollautomatischen Inline-Fertigungslinie einsetzbar. Standardmäßig verfügt das System über einen Industrierechne ...; Erstellt am 07. Mai 2014
33. Fixtest erweitert Technik- und Vertriebsteam: (Allgemein); Fixtest erweitert Technik- und Vertriebsteam 07. Mai 2014 - FIXTEST, ein Anbieter von Kontaktstiften und Testadaptern, hat sein Technik- und Vertriebsteam um zwei neue Kollegen erweitert. Herr Oleg Merker ...; Erstellt am 07. Mai 2014
34. Erstellungscenter für Nadelbettadapter: (Baugruppen); Erstellungscenter für Nadelbettadapter 31. März 2014 - Zur Erstellung von Prüfadaptern für Testsysteme bietet die Firma REINHARDT seit 1990 auch ein sogenanntes Erstellungscenter an. Dieses erlaubt ...; Erstellt am 31. März 2014
35. Sichere Hochspannungs-Durchbruchtests bis zu 10 kV: (Bauteile); ... die Haube eines Hochspannungs-Testadapters nicht geschlossen ist. Dies ist ein kritisches Element, das in anderen Produkten nicht immer verfügbar ist. Außerdem haben diese analoge Niederspannungsausgänge, ...; Erstellt am 28. März 2014
36. Universaltester für Hardware-Feldausfälle: (Baugruppen); ... die Verwaltung der Testergebnisse übernimmt. Alle Kanäle sind auf ein hochwertiges Testsignalinterface der Marke VPC geführt. Um ein Steuergerät auf das Testsystem zu applizieren, müssen ein Testadapter ...; Erstellt am 19. Februar 2014
37. Konformitätstest- und Debugging-Lösung für HDMI 2.0: (Baugruppen); Konformitätstest- und Debugging-Lösung für HDMI 2.0 30. Januar 2014 – Tektronix stellt eine vollautomatische Konformitätstest- und Debugging-Lösung für die vor kurzem freigegebene HDMI 2.0-Spezifikation ...; Erstellt am 30. Januar 2014
38. Automatische Konformitätstestlösung für BroadR-Reach PHY: (Baugruppen); ... empfiehlt einen Testadapter mit einem Mechanismus, der ein Störsignal hinzufügt, um die Verzerrungsmessungen (Distortion) auszuführen. Diese gehören zu den von der Spezifikation empfohlenen wichtigsten ...; Erstellt am 08. November 2013
39. Schnelle optische Inspektion von Steckern auf elektronischen Baugruppen: (Baugruppen); ... bis 16 Millisekunden. Besonders hervorzuheben ist die einfache Bedienung des Systems und die schnelle Erstellung von Testprogrammen. PlatiScan ist als eigenständiges System, direkt in einen Testadapter ...; Erstellt am 14. Oktober 2013
40. Mechanische Adapter mit und ohne Wechselkassette: (Baugruppen); Mechanische Adapter mit und ohne Wechselkassette 22. Mai 2013 – Für Funktionstests und kleinere In-Circuit-Test-Anwendungen hat FEINMETALL die neuen mechanischen Adapterserien FMA und FMWA entwickelt, ...; Erstellt am 22. Mai 2013
41. Charakterisierung von Leistungshalbleitern auf Wafer-Ebene: (Bauteile); ... sich für einen Test mit halb- und vollautomatischen Probern. Keithley bietet zudem die ACS Basic Edition Software für die Charakterisierung von Halbleiter-Bauteilen mit manuellen Probern oder Testadapter ...; Erstellt am 25. April 2013
42. Mixed-Signal-Oszilloskop mit Abtastraten bis 20 GSa/s: (Allgemein); ... Die MSOs verwenden die gleiche 90-polige Steckverbindung wie die Logikanalysatoren von Agilent. Dadurch kann der Anwender auf ein reichhaltiges Angebot an Testadaptern zurückgreifen, darunter: • ...; Erstellt am 07. März 2013
43. Konformität von USB-Schnittstellen mit dem Oszilloskop verifizieren: (Baugruppen); ... Konformitätstests mit seinen Oszilloskopen der RTO-Familie. Die Software läuft auf einem Steuer-PC und steuert das Oszilloskop und das Messobjekt, welches über einen Testadapter kontaktiert wird. Grafische ...; Erstellt am 19. November 2012
44. Test-Contactor-System für Embedded-Module: (Baugruppen); Test-Contactor-System für Embedded-Module 09. November 2012 – Zum Testen und Programmieren von Embedded-Modulen stellt Yamaichi Electronics einen im European Design Center entwickelten Testadapter ...; Erstellt am 09. November 2012
45. Erweiterbare PXI RF-Schaltkarten für bis zu 300 MHz: (Allgemein); ... vereinfachen den Verdrahtungsaufwand zum Testadapter erheblich. Die 75 Ohm Varianten sind mit MiniSMB Buchsen ausgerüstet. Zur einfachen Erweiterbarkeit in X-Richtung kann jede Matrix mit einer Loop-Through ...; Erstellt am 08. November 2012
46. Kombination von Kennlinienschreiber und Parameteranalysator: (Bauteile); Kombination von Kennlinienschreiber und Parameteranalysator 22. Oktober 2012 - Keithley Instruments stellt sieben Messtechnik-, Software- und Testadapterkonfigurationen zur Charakterisierung von Leistungsbauteilen ...; Erstellt am 22. Oktober 2012
47. Mechanischer Wechseladapter mit neuer patentierter Andruckeinheit: (Kurznachrichten); 29. August 2012 - GPS-Prüftechnik GmbH präsentiert den mechanischen Wechseladapter WA-M-1600 mit neuer patentierter Andruckeinheit. Die sehr stabile parallel schließende Andruckmechanik verfügt über ein ...; Erstellt am 29. August 2012
48. Testautomatisierung für Datenübertragung in MOST Netzwerken: (Baugruppen); ... Darüber hinaus steht eine große Zahl erprobter Testfälle aus dem MOST Compliance-Prozess zur Verfügung. Neben dem Standardsystem bietet RUETZ SYSTEM SOLUTIONS zusätzliche Testadapter für CAN-Bus ...; Erstellt am 05. Juni 2012
49. SMT/HYBRID/PACKAGING 2012: Stand-alone-Tester für In-Circuit- und Funktionsprüfung: (Baugruppen); SMT/HYBRID/PACKAGING 2012: Stand-alone-Tester für In-Circuit- und Funktionsprüfung 03. Mai 2012 - ENGMATEC stellt mit seiner “Smart Contact Cell” ein innovatives Tandem-Shuttle-System vor. Das Prüfgerät ...; Erstellt am 03. Mai 2012
50. Keithley stellt High Voltage System SourceMeter vor: (Allgemein); ... sichere Verbindung mehrerer SMUs mit einem Prober-System, Bauteil-Handler oder anderen Testadaptern von externen Anbietern zu vereinfachen. Verfügbarkeit Die Auslieferung beginnt im Mai, die Lieferzeit ...; Erstellt am 22. März 2012

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