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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Neue Version für Freeware-Testautomatisierung EXAM geplant10. März 2014 - Die MicroNova AG hat vom Volkswagen Konzern grünes Licht für die Weiterentwicklung der konzernweiten Testautomatisierung EXtended Automation Method (EXAM) erhalten. Version 4.0 der Methodik zur grafischen Entwicklung von Testfällen im Bereich der Testautomatisierung wird über eine neuartige IT-Architektur verfügen, die den weltweiten Einsatz der Lösung erleichtert. Haupteinsatzgebiete bleiben die Hardware-in-the-Loop-Simulation (HiL), die Software-in-the-Loop-Simulation (SiL) und die Prüfstandsautomation. Die Programmierarbeiten sollen nach derzeitigem Stand Ende 2014 abgeschlossen sein.
Kompakter Drive Test Scanner für Optimierung von Mobilfunknetzen07. März 2014 — Auf dem Mobile World Congress 2014 präsentierte Rohde & Schwarz mit dem R&S TSME einen neuen, hochkompakten Drive Test Scanner für Mobilfunkstandards heutiger und künftiger Bänder. Er ist mit seinen Abmessungen von 151 mm x 47 mm x 93 mm und nur 650 g Gewicht wesentlich kleiner und leichter als vergleichbare Geräte und verbraucht nur wenig Strom. Das macht ihn zur idealen Lösung, um die Qualität des Funkkanals im Feld sowie innerhalb von Gebäuden mit hohem Datenverkehr zu überprüfen. Die dabei erzielten Messraten liegen deutlich über denen vergleichbarer Geräte.
Hohlleiter-Leistungssensor für hochgenaue E-Band-Leistungsmessungen07. März 2014 – Agilent Technologies präsentiert den neuen Hohlleiter-Leistungssensor E8486A. Der neue Leistungssensor mit WR-12-Flansch ermöglicht hochgenaue Leistungsmessungen im E-Band von 60 bis 90 GHz und ist damit eine ideale Lösung für E-Band-Telekommunikations-Anwendungen, deren Zahl ständig zunimmt. Der Leistungsmessbereich des E8486A geht von –30 dBm bis +20 dBm oder von –60 dBm bis +20 dBm (Option 80 dB Dynamikbereich). SMU mit hoher Geschwindigkeit, Kanaldichte und Flexibilität06. März 2014 – National Instruments erweitert mit der System Source Measure Unit (System-SMU) NI PXIe-4139 sein SMU-Produktportfolio. Das NI PXIe-4139 beinhaltet die Technologie NI SourceAdapt, dank derer der Anwender das Regelverhalten der SMU an die zu prüfende Last anpassen kann. Prüflinge werden dadurch geschützt und die Systemstabilität verbessert. Zusätzlich kann die System-SMU NI PXIe-4139 Messungen bei 1,8 MS/s durchführen und ist somit um den Faktor 100 schneller als traditionelle SMUs.
Rigol erweitert Mixed-Signal-Oszilloskop-Familie06. März 2014 – Die RIGOL Technologies EU GmbH stellt mit der Mixed Signal Erweiterung für die Serien DS1000Z und DS2000A eine neue MSO-Digital-Oszilloskop-Serie vor. Alle MSO Geräte nutzen die Ultra-Vision-Technologie aus der DS6000-Serie. Die analogen Spezifikationen entsprechen den bisherigen DS2000A und DS1000Z Geräten und wurden um 16 digital Logic-Analyser Kanäle erweitert. Die Abtastrate liegt bei 1 GS/s (8 DIO´s) und 500MS/s (16 DIO´s).
Prozessor-Emulation in Kombination mit Boundary Scan05. März 2014 - GÖPEL electronic hat unter dem Namen TIC122 weitere TAP Interface Card (TIC) für die modulare Boundary-Scan-Hardwareplattform SCANFLEX vorgestellt. Die neuen TIC-Module verfügen über ein programmierbares Multi-Bus-Interface, welches eine fast unlimitierte Kompatibilität zu einer Vielzahl von standardisierten und proprietären Debug-Protokollen von Mikroprozessoren ermöglicht; gleichzeitig aber auch sämtliche Boundary-Scan-Standards unterstützt.
Seminare zu HF-Schaltungsentwicklung und Load-Pull-Charakterisierung05. März 2014 - Die bsw TestSystems & Consulting und Agilent Technologies veranstalten vom 18. bis 27. März eine Reihe von kostenlose Workshops in verschiedenen Städten zur HF-Schaltungsentwicklung und Load-Pull-Charakterisierung von Verstärkern. Ziel des Seminars ist es zu zeigen, wie Entwickler mittels Modellierung sowie Schaltungssimulation und -messung Ihr Verstärkerdesign in Bezug auf Ausgangsleistung, Effizienz (PAE) und Intermodulation (IM3, IP3) einfach optimieren können. Zudem werden auch thermische Aspekte von Verstärkern und Transistoren betrachtet. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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