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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsiPad und iPhone als Messgerät25. März 2014 - Die StanTronic Instruments GmbH hat mit Oscium, einem in den USA ansässigen Hersteller von iPad/iPhone Messgeräteaufsätzen eine Vertriebsvereinbarung gültig für Deutschland, Österreich, die Schweiz, England und Frankreich unterzeichnet. Die Produktlinie von Oscium besteht derzeit aus 5 verschiedenen Messgerätemodulen, die auf die Apple-Produkte iPad bzw. iPhone aufgesteckt werden. Hintergrund: Stabilität von Leiterplatten mit Dehnungsmessstreifen testenGanz gleich, ob in Autos, Nutzfahrzeugen oder Smartphones − Leiterplatten von elektronischen Komponenten müssen viel aushalten, wenn sie mobil im Einsatz sind. Schon durch minimale Risse kann die gesamte Elektronik ausfallen. Damit das nicht passiert, testen die Hersteller die mechanische Stabilität der Leiterplatten mit Dehnungsmessstreifen.
Zwei-/Vierkanal-Mixed-Signal-Oszilloskope mit schneller Display-Aktualisierung24. März 2014 - PLUG-IN Electronic präsentiert die „Super-Phosphor“-Oszilloskope der SDS2000-Serie von Siglent. Die SPO-Technologie (Super-Phosphor-Oscilloscope) erlaubt eine schnelle Echtzeit-Aktualisierung des Displays um Glitches und selten auftretende Ereignisse zuverlässig zu erkennen. Damit erreichen die Mixed-Signal-Oszilloskope (MSO) eine Waveform-Capture-Rate von bis zu 110.000 Signalformen/s. Zudem zeichnen sich die Geräte durch zahlreiche sehr genaue, hardware-basierende Triggerfunktionen mit einer Triggerzeit von 1 ns, einer hohen Empfindlichkeit, geringem Jitter und einer einstellbaren Rauschreduzierung aus.
Oszilloskop-Familie mit integriertem 2-Kanal-Funktionsgenerator21. März 2014 – Die RIGOL Technologies EU GmbH stellt die Digital-Oszilloskop-Serie DS2000A-(S) vor. Die Geräte bieten umfangreiche Trigger-Funktionen, erweiterte hardwarebasierte Echtzeit-Wellenform-Aufzeichnung sowie Wiedergabe-, Such- und Analyse-Funktionen. Das neue mehrsprachige User Interface erlaubt das einfache Konfigurieren der Oszilloskope in der jeweiligen Landessprache.
BER-Testlösungen für Design-Verifikation von schnellen Digitalsystemen21. März 2014 - Agilent Technologies präsentiert die hochintegrierten, skalierbaren BER-Testlösungen der Familie M8000 für die Charakterisierung, Validierung und Konformitätstest der Physical-Layer von Empfängern für Multigigabit-Digital-Designs. Die neue BER-Testlösung M8000 unterstützt eine Vielzahl von Datenraten und Standards; sie liefert genaue und verlässliche Ergebnisse, die eine schnelle Analyse der Leistungsreserven von Hochgeschwindigkeitsdigitaldesigns für Computer, Consumerprodukte, Server, mobiles Computing und Datencenter-Produkte ermöglichen. StanTronic Instruments vertreibt HF-Produktlinie von Transcom Instruments20. März 2014 - StanTronic Instruments GmbH mit Sitz in der Wedemark bei Hannover und Vertriebsbüros in Wertheim/Süddeutschland, Frankreich und Grossbritannien hat mit Transcom Instruments, einem in Shanghai/China ansässigen Anbieter von HF-Messtechnik, eine Vertriebsvereinbarung für Deutschland, Österreich, die Schweiz, England und Frankreich unterzeichnet.
OpenTop Test Contactor für BGA/CSP, SOP und QFP Bauteile20. März 2014 – Yamaichi Electronics präsentiert den neuen OpenTop Test Contactor der YED274 Serie für BGA/CSP, SOP und QFP Halbleiterbausteine. Der Test Contactor eignet sich sowohl zum manuellen als auch automatischen Beladen von Halbleiterbausteinen. Ein typischer Anwendungsfall ist die Programmierung von Speicherbausteinen. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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