|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Neue Testfunktionen für LTE-Advanced und VoLTE28. Februar 2014 - Auf dem Mobile World Congress in Barcelona zeigt Rohde & Schwarz neue Funktionen für seinen Wideband Radio Communication Tester . Diese unterstützen neue Features wie Carrier Aggregation für LTE-Advanced und VoLTE, aber auch Erweiterungen des 3G-Standards. Mit Carrier Aggregation können Netzbetreiber flexible Kombinationen von Frequenzbändern unterschiedlicher Bandbreite schaffen und so das Frequenzspektrum für höheren Datendurchsatz noch besser ausschöpfen.
Testsystem für Zertifizierung von LTE-Advanced Endgeräten27. Februar 2014 – Das HF-Conformance-Testsystem ME7873L von Anritsu ist laut Angabe des Unternehmens das weltweit erste Testsystem mit GCF-Zulassung, welches mehr als 80% der Testfälle für LTE-Advanced Carrier-Aggregation abdeckt. Conformance-Testsysteme müssen mindestens 80% der spezifizierten Testfälle abdecken, damit sie für den Einsatz in der Terminal-Zertifizierung durch das Global Certification Forum (GCF) anerkannt werden.
Agilent Technologies verbessert Benutzerschnittstelle bei Infiniium-Oszilloskopen27. Februar 2014 - Agilent Technologies präsentiert eine neue verbesserte Benutzerschnittstelle für seine Echtzeit-Oszilloskope der Familie Infiniium. Agilent will durch eine konsequente Nutzung neuer Bildschirmtechnologien die Dokumentation der Messergebnisse vereinfachen und benutzerdefinierbare Ansichten ermöglichen; dadurch soll sowohl der Nutzwert des Oszilloskops gesteigert als auch der Bedienungskomfort verbessert werden.
Rohde & Schwarz erweitert Oszilloskop-Portfolio mit neuer Produktfamilie26. Februar 2014 - Rohde & Schwarz hat heute auf der Embedded World in Nürnberg die neue Oszilloskop-Familie R&S RTE mit Bandbreiten von 200 MHz bis 1 GHz vorgestellt. Mit einer Erfassungsrate von mehr als 1 Million Messkurven pro Sekunde, einer Abtastrate von 5 GSample pro Sekunde sowie einer maximalen Speichertiefe von 50 MSample pro Kanal ermöglicht das R&S RTE eine detailgetreue Aufzeichnung langer Signalsequenzen, die beispielsweise bei der Analyse von Dateninhalten serieller Protokolle wie I2C oder CAN notwendig sind.
Software für automatisierte EMV-Prüfungen26.Februar 2014 - ETS-Lindgren stellt mit TILE!7 die neueste Version der TILE (Total Integrated Lab Environment) Software für automatisierte EMV-Prüfungen bei Herstellern, in Testhäusern sowie behördlichen EMV-Prüflaboren vor. Zu den wesentlichen Neuerungen gehören eine weiterentwickelte, graphische Benutzeroberfläche (GUI) mit vereinfachter Navigation sowie die Kompatibilität mit den Windows-Versionen XP, 7 und 8.
Neues Oszilloskop von Tektronix enthält sechs verschiedene Messinstrumente25. Februar 2014 - Die neuen Mixed-Domain-Oszilloskope der Serie MDO3000 von Tektronix enthalten einen Spektrumanalysator, Logikanalysator, Protokollanalysator, einen Arbiträr-Funktionsgenerator und ein digitales Voltmeter. Das MDO3000 stellt dem Entwickler damit alle notwendigen Tools für den Test und das Debugging von praktisch allen Embedded Designs zur Verfügung. Dadurch benötigt man nicht mehr eine ganze Reihe von kostspieligen, spezialisierten Geräten und hat außerdem mehr Platz auf seinem Tisch frei.
USB-Oszilloskop mit acht hochauflösenden Kanälen25. Februar 2014 -Pico Technology präsentiert auf der Embedded World in Nürnberg das neue kompakte 8-kanalige PC-Oszilloskop PicoScope 4824. Es verfügt über eine Auflösung von 12 Bit, eine SuperSpeed USB 3.0-Schnittstelle und einen integrierten Generator für beliebige Signalformen (AWG) mit 14 Bit Auflösung. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |