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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Batterietester zur Bestimmung wichtiger Batterieparameter11. März 2014 - Das portable Universal-Messgerät CTL400 misst in kurzer Zeit mit hoher Genauigkeit die wesentlichen Parameter von Einzelzell- oder Multizell-Batteriemodulen. Mithilfe von Spannungsmessungen und DC-Widerstandstests des CTL400 lässt sich das Rätselraten über den Zustand von Batterien eliminieren. Messergebnisse werden auf dem beleuchteten Grafik-LCD-Display angezeigt und im internen Flash-Memory gespeichert. Das Gerät erfasst die Messwerte mit einer Genauigkeit von vier Stellen.
USB-Mess- und Steuerboxen mit 8 Kanälen und 12 Bit Auflösung10. März 2014 - Die beliebte RedLab Modul-Serie von Meilhaus Electronic bekommt Zuwachs. Die beiden neuen Modelle haben die Bezeichnung RedLab-201 und RedLab-204. Bei einer Abmessung von gerade mal 118 x 83 x 29 (mm) bieten die pfiffigen, kleinen Messboxen 8 single-ended Analog-Eingänge mit einem Bereich von ±10 V und einer Sample-Rate von 100 kS/s (RedLab-201) oder 500 kS/s (RedLab-204) bei einer Auflösung von 12 Bit. Ein externer Trigger-Eingang sowie ein A/D-Timer-Ausgang für eine Synchronisierung stehen zur Verfügung.
Neue Version für Freeware-Testautomatisierung EXAM geplant10. März 2014 - Die MicroNova AG hat vom Volkswagen Konzern grünes Licht für die Weiterentwicklung der konzernweiten Testautomatisierung EXtended Automation Method (EXAM) erhalten. Version 4.0 der Methodik zur grafischen Entwicklung von Testfällen im Bereich der Testautomatisierung wird über eine neuartige IT-Architektur verfügen, die den weltweiten Einsatz der Lösung erleichtert. Haupteinsatzgebiete bleiben die Hardware-in-the-Loop-Simulation (HiL), die Software-in-the-Loop-Simulation (SiL) und die Prüfstandsautomation. Die Programmierarbeiten sollen nach derzeitigem Stand Ende 2014 abgeschlossen sein.
Kompakter Drive Test Scanner für Optimierung von Mobilfunknetzen07. März 2014 — Auf dem Mobile World Congress 2014 präsentierte Rohde & Schwarz mit dem R&S TSME einen neuen, hochkompakten Drive Test Scanner für Mobilfunkstandards heutiger und künftiger Bänder. Er ist mit seinen Abmessungen von 151 mm x 47 mm x 93 mm und nur 650 g Gewicht wesentlich kleiner und leichter als vergleichbare Geräte und verbraucht nur wenig Strom. Das macht ihn zur idealen Lösung, um die Qualität des Funkkanals im Feld sowie innerhalb von Gebäuden mit hohem Datenverkehr zu überprüfen. Die dabei erzielten Messraten liegen deutlich über denen vergleichbarer Geräte.
Hohlleiter-Leistungssensor für hochgenaue E-Band-Leistungsmessungen07. März 2014 – Agilent Technologies präsentiert den neuen Hohlleiter-Leistungssensor E8486A. Der neue Leistungssensor mit WR-12-Flansch ermöglicht hochgenaue Leistungsmessungen im E-Band von 60 bis 90 GHz und ist damit eine ideale Lösung für E-Band-Telekommunikations-Anwendungen, deren Zahl ständig zunimmt. Der Leistungsmessbereich des E8486A geht von –30 dBm bis +20 dBm oder von –60 dBm bis +20 dBm (Option 80 dB Dynamikbereich). SMU mit hoher Geschwindigkeit, Kanaldichte und Flexibilität06. März 2014 – National Instruments erweitert mit der System Source Measure Unit (System-SMU) NI PXIe-4139 sein SMU-Produktportfolio. Das NI PXIe-4139 beinhaltet die Technologie NI SourceAdapt, dank derer der Anwender das Regelverhalten der SMU an die zu prüfende Last anpassen kann. Prüflinge werden dadurch geschützt und die Systemstabilität verbessert. Zusätzlich kann die System-SMU NI PXIe-4139 Messungen bei 1,8 MS/s durchführen und ist somit um den Faktor 100 schneller als traditionelle SMUs.
Rigol erweitert Mixed-Signal-Oszilloskop-Familie06. März 2014 – Die RIGOL Technologies EU GmbH stellt mit der Mixed Signal Erweiterung für die Serien DS1000Z und DS2000A eine neue MSO-Digital-Oszilloskop-Serie vor. Alle MSO Geräte nutzen die Ultra-Vision-Technologie aus der DS6000-Serie. Die analogen Spezifikationen entsprechen den bisherigen DS2000A und DS1000Z Geräten und wurden um 16 digital Logic-Analyser Kanäle erweitert. Die Abtastrate liegt bei 1 GS/s (8 DIO´s) und 500MS/s (16 DIO´s). Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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