|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsPrüftechnologie-Forum: Baugruppentest vom Design bis End-of-Line11. Februar 2014 - Die Firma GÖPEL electronic veranstaltet am 3. und 4. März 2015 in Weimar erstmals das Prüftechnologie-Forum. Die Fachveranstaltung deckt alle Bereiche der Prüfung elektrischer Baugruppen zur Qualitätssicherung in der Elektronikproduktion ab, und zwar von der Entwicklung bis hin zum Endtest fertiger Produkte. Testsockel und Contactor für M2M-Module10. Februar 2015 - Yamaichi Electronics präsentiert Test-Kontaktoren für Machine-to-Machine (M2M) Module. M2M-Module regeln die globale Positionierung und Datenübertragung in industriellen Produkten, wie auch in Konsumenten- und Automatisierungsprodukten. Um M2M-Module zu testen, hat Yamaichi Electronics im Rahmen der YED274-Serie eine Test-Contactor-Lösung entwickelt. Der Contactor wird individuell an die unterschiedlichen M2M-Module angepasst und eignet sich beispielsweise für Prüfstand- oder Zuverlässigkeitstests von -50 °C bis zu +150 °C. Programmierbare PCI- und PXI-Widerstandsmodule09. Februar 2015 – Pickering Interfaces erweitert seine Palette der PCI und PXI programmierbaren Widerstandsmodule um zwei neue Produkte: die kombinierten, programmierbaren Widerstands- und Relaismodule 50-294 (PCI) und 40-294 (PXI). Pickering Interfaces setzt damit seine Idee der Unterstützung unterschiedlicher Plattformen fort und bietet die beiden Widerstandsmodule mit denselben Optionen für den PCI- und PXI-Formfaktor an. Optisches Inspektionssystem für Bestückungs-, LED-, Stecker- und Display-Test06. Februar 2015 - Seit Anfang Januar ist das automatisierte optische Inspektionssystem Platiscan auch wieder direkt über die Firma Amarant-Software erhältlich. Diese hatte das System zusammen mit dem Unternehmen WG-Test ursprünglich entwickelt. Die bisherigen Vertriebs- und Kooperationspartnerschaften bleiben bestehen. Das Platiscan VI (Visual Inspection) System ermöglicht eine automatisierte optische Qualitätskontrolle in der Fertigung elektronischer Baugruppen und ist als eigenständiges Prüfsystem, Inline- oder in den Prüfadapter integrierte Lösung verfügbar. Keysight Technologies steigt in den Markt für Leistungsanalysatoren ein05. Februar 2015 – Keysight Technologies präsentiert mit dem zweikanaligen Keysight IntegraVision PA2201A ein Gerät, das hochgenaue Leistungsmessfunktionen mit einer Touch-Screen-Bedienung und den Visualisierungsmöglichkeiten eines Oszilloskops kombiniert. Der neue Leistungsanalysator ermöglicht eine präzise Messung von Strömen, Spannungen und Leistungen sowie die Visualisierung des Zeitverlaufs dieser Signale bei der Entwicklung von Leistungselektronik. Eine Vier-Kanal-Version für Messungen an dreiphasigen Systemen soll im Herbst folgen. Demo-Baugruppe zur Überprüfung der Fehlerabdeckung04. Februar 2015 - Mit Integra V1 stellt GÖPEL electronic ein spezielles Boundary-Scan Demo-Modul vor, mit dem sich eine Kombination von verschiedenen Testverfahren, wie Funktionstest, In-Circuit-Test, Manufacturing Defect Analyzer und Flying Probe Test, ausprobieren lassen. Das Hardwaremodul beinhaltet verschiedene Boundary-Scan-Strukturen aber auch Komponenten, die Boundary Scan nicht unterstützen. Durch die interaktive Kombination unterschiedlicher Testverfahren lässt sich so eine Verbesserung der Fehlerabdeckung praktisch demonstrieren. RoodMicrotec ernennt Martin Sallenhag zum CTO03. Februar 2015 - Die Geschäftsleitung der RoodMirotec N.V. hat Herr Martin Sallenhag MSc zum 1. März 2015 als technischen Leiter (CTO), als Nachfolger von Herrn Norbert Wirth, ernennt. Herr Wirth war seit 2011 CTO der RoodMicrotec; leider verstarb er Ende 2014 nach langer Krankheit. Aufsichtsrat, Geschäftsleitung und die Mitarbeiter sind über seinen Tod tief betroffen und werden seine Erfahrung und sein Wissen vermissen. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |