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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsMulti Components verstärkt Team im Bereich optische Inspektion10. März 2015 - Um der erhöhten Nachfrage im Bereich optischer Inspektionssysteme gerecht zu werden, baut Multi Components sein Expertenteam in diesem Bereich massiv aus. Tom Tu, seit über 10 Jahren für TRI im Bereich Applikation und Sales Support tätig, übernimmt die Funktion des Bereichsleiters für optische Inspektionssysteme im Hause Multi Components. Zudem wird der Vertrieb um zwei neue Mitarbeiter aufgestockt. Modul zum Test von GigaBit-Schnittstellen09. März 2015 - GÖPEL electronic hat ein universell adaptierbares Testmodul für die Prüfung verschiedener High Speed I/O (HSIO) Interfaces entwickelt. Das ChipVORX Modul FXT-X3/HSIO4 ermöglicht das Testen auf Baugruppenebene, quasi von innen heraus. Das Modul lässt sich sowohl im Labor als auch in der Produktion einsetzen. Unterstützt werden dabei die Schnittstellen GBit Ethernet, PCIe, USB 3.0 sowie SATA mit Übertragungsraten im GigaBit-Bereich. Stromzangen-Tastkopf für Oszilloskope für bis zu 50 Ampere06. März 2015 - Rohde & Schwarz erweitert sein Oszilloskop-Zubehör um die neue Stromzange R&S RT-ZC20B mit Rohde & Schwarz-Tastkopfschnittstelle. Durch sie erkennen die Oszilloskope R&S RTO, R&S RTE und R&S RTM bis zu vier parallel angeschlossene Stromzangen automatisch. Einstellungen am Oszilloskop für die vertikale Skalierung und der Abgleich des Nullpunkts erfolgen, ohne dass der Anwender tätig werden muss. Automatisierter Softwaretest für Single und Multi-core Embedded Systems05. März 2015 - iSYSTEM AG hat eine neue Version der iSYSTEM Testsoftware testIDEA vorgestellt. In 2009 noch als einfaches Funktionstestwerkzeug für Softwareentwickler bestimmt, ist testIDEA heute ein umfassendes und flexibles Werkzeug für den Softwartest von Single und Multi-core Embedded Systems. Die iSYSTEM Produkte, bestehend aus Blue Box Hardware und Software, ermöglichen den schnellen Zugriff auf jegliche Art von Single und Multi-Core Prozessor-Hardware über die unterschiedlichsten Ausprägungen von Debug-Schnittstellen. Dabei kann gleichzeitig Software entwickelt und direkt auf der realen Hardware ohne Code-Instrumentierung getestet werden. Neue HF-Vektor-Signalgeneratoren bis 6 GHz von Tektronix05. März 2015 - Tektronix ergänzt seine Hochfrequenz-Testlösungen der mittleren Leistungsklasse mit den neuen Signalgeneratoren der Serie TSG4100A. Die TSG4100A Serie umfasst drei Modelle mit Trägerfrequenzen von DC bis 2,0 GHz, 4,0 GHz und 6,0 GHz. Die Instrumente zeichnen sich durch einen Ausgang mit einem sehr geringen Phasen-Rauschen (-113 dBc/Hz bei 1 GHz), eine hervorragende Amplitudengenauigkeit (<+/-0,4 dB bei 1 GHz, 0 dBm CW Signal von +16 dBm bis -100 dBm) und eine ausgezeichnete Frequenzauflösung (1 μHz bei jeder Frequenz) aus. Leistungsanalyse an Drei-Phasen-Antrieben mit dem Oszilloskop04. März 2015 - Teledyne LeCroy stellt mit dem MDA800 eine neue Modellreihe von Motor Drive Analyzer (MDA) vor. Diese kombinieren erstmals verschiedene Funktionen in einem Gerät: Statische Dreiphasen-Messungen eines Power Analyzers, dynamische Drei-Phasen-Messungen, mechanische Antriebsanalyse und alle Eigenschaften eines Oszilloskops bis 1 GHz zur Fehlersuche in Embedded Control Systemen. Knackratenanalyse nach CISPR 14 & CISPR 16-2-103. März 2015 - Mit der Option CLICK-UG lassen sich die ultraschnellen TDEMI Messempfänger von GAUSS INSTRUMENTS zu einem nach CISPR14 voll normkonformen TDEMI Knackratenanalysator aufrüsten. Dieser vollintegrierte Knackratenanalysator kann erstmalig an allen vier Frequenzen (150 kHz, 500 kHz, 1,4 MHz und 30 MHz) gleichzeitig messen, wodurch die Messzeit im Vergleich zu herkömmlichen Lösungen mit sequentieller Messung deutlich reduziert wird. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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