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Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Cloud-basierte Daten- und Analyse-Plattform für die Halbleiterindustrie

26. Januar 2021 - Advantest hat in Zusammenarbeit mit seinem Partner PDF Solutions zwei neue, innovative Cloud-basierte Softwarelösungen vorgestellt: das Advantest V93000 Dynamic Parametric Test (DPT) System powered by PDF Exensio DPT und ein Edge High Performance Compute (HPC) System. Diese Lösungen sind Teil der kürzlich eingeführten Advantest Cloud Solutions (ACS), einem Ökosystem aus Cloud-basierten Produkten und Dienstleistungen. Zentraler Aspekt dieses Ökosystems bildet die daten- und analyseorientierte Plattform Advantest Cloud powered by PDF Exensio, die Advantest gemeinsam mit PDF Solutions entwickelt hat.

Auf Basis der von PDF Solutions entwickelten Kerntechnologie werden Daten von der Validierung des Halbleiterdesigns über die Fertigung bis hin zum Chip Test und dem Test auf Systemebene, generiert und analysiert. Kunden können ihre Lieferkette, ihr Equipment und ihre Testdaten besser nutzen, um ihre Produktionsausbeute zu optimieren. Gleichzeitig wird die Equipment-Gesamteffizienz durch fortschrittliche Algorithmen, integrierte Arbeitsabläufe und Methoden, die von Advantest Cloud Solutions zur Verfügung gestellt werden, erheblich verbessert.

Trends in der Halbleitertechnologie wie die Miniaturisierung der Prozessknoten, elektrische Skalierung, 2,5D- und 3D-Packaging und ein neuer Fokus auf Systeme, stellen einzigartige Herausforderungen dar, die nur mit umfassenden, softwaregesteuerten Konzepten gelöst werden können. Die Integration traditioneller Datenbanken in der gesamten Halbleiter-Wertschöpfungskette kann die Produktqualität, die Fertigungsausbeute und die Kosteneffizienz erheblich verbessern.

Das Advantest V93000 Dynamic Parametric Testsystem powered by PDF Exensio DPT, wurde gemeinsam von Advantest und PDF Solutions entwickelt und erweitert die Testabläufe der parametrischen Testplattform V93000 SMU8 intelligent und regelbasiert. Die Technologie optimiert Testabläufe innerhalb von Millisekunden automatisch in Echtzeit und erhöht die Testabdeckung. Zudem verbessert diese Methodik die Charakterisierung von abweichenden Messungen, korrigiert Probleme der beteiligten Anlagen und vereinfacht die Erfassung zusätzlicher Daten zur Unterstützung der Ursachenforschung und nachgelagerter Analysen.

Das neue ACS Edge HPC-Produkt führt komplexe Testvorgänge mit Verzögerungen von wenigen Millisekunden aus und ist für Erstanwender verfügbar. Mit vorkonfigurierten Bibliotheken für maschinelles Lernen (ML), Demodulation oder andere Hochleistungs-Berechnungen vereinfacht das System die Implementierung von ML im Halbleitertest. Es ermöglicht den Anwendern nicht nur alle Module aus der Cloud zu tracken, verwalten und zu sichern, sondern bietet auch On-Demand-Zugriff auf zuvor eingegebene Daten über Programmierschnittstellen (APIs) mit integrierten Datenpfaden in beide Richtungen. Kunden können Modelle und Algorithmen des maschinellen Lernens in der Produktion einsetzen, Testabläufe vor Ort optimieren und hochsensible IP mit maximaler Sicherheit aus der Ferne verwalten.

"Advantest bietet durch das Angebot an fortschrittlichsten Testtechnologien einen erheblichen Mehrwert für seine Kunden. Wir arbeiten kontinuierlich daran, zukunftsweisende Lösungen zu finden und unser Produktportfolio mit reaktionsschnellen, kostensparenden Services aus der Cloud zu erweitern“, sagt Doug Lefever, Präsident und CEO von Advantest America Inc. "Wir sehen diese Innovationen als Teil unseres Grand Design Ziels und schaffen damit einen Mehrwert für die gesamte Halbleiterindustrie."

Diese ACS-Produkte und weitere Dienstleistungen sind ab sofort verfügbar.

www.pdf.com/

www.advantest.com/



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