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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestInfineon Technologies tritt dem Semiconductor Test Consortium bei02. August 2006 - Das Semiconductor Test Consortium, Inc. (STC), eine Organisation zur Förderung der weltweiten Verbreitung des OPENSTAR-Standards (Open Semiconductor Test Architecture), meldet, dass Infineon Technologies AG (FSE/NYSE: IFX) dem Konsortium beigetreten ist. Schneller Kennlinien-Analysator für KomponententestFebruar 2009 - Yokogawa stellt einen U/I-Kennlinien Analysator mit hoher Plotgeschwindigkeit für den DC Parametertest an Halbleitern und optischen Komponenten vor. Test-Station für parametrische Bauteil-MessungenFebruar 2009 - Meilhaus bietet einen Testadapter für parametrische Messung von Agilent an, mit dem keine aufwändige Verkabelung und komplizierte Messaufbauten mehr notwendig sind. Testsystem für analoge ICs mit wenigen Pins10. Dezember 2008 - Advantest Kyushu Systems Co., Ltd. stellt ein neuea Testsystem für einen kostengünstigen Test von analogen ICs mit relativ wenigen Pins (bis 32 Pins) vor.
Advantest stellt neues Memory Test System vor20. November, 2008 - Advantest (Europe) GmbH stellt mit dem T5782 einen neuen Memory-Tester vor. Das T5782 Testsystem ist ab November 2008 verfügbar und zeichnet sich durch eine Per-Site-Architektur und eine marktführende Testgeschwindigkeit von 266MHz/533Mbps aus. Weitere News zum Thema: |
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