Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Infineon Technologies tritt dem Semiconductor Test Consortium bei

02. August 2006 - Das Semiconductor Test Consortium, Inc. (STC), eine Organisation zur Förderung der weltweiten Verbreitung des OPENSTAR-Standards (Open Semiconductor Test Architecture), meldet, dass Infineon Technologies AG (FSE/NYSE: IFX) dem Konsortium beigetreten ist.


Damit konnte das STC die Zahl der europäischen Mitglieder nun auf 13 Unternehmen erhöhen, was 28 Prozent aller Mitglieder entspricht. "Infineon hat ein weites Produktportfolio, das von diskreten Bauteilen über Power- und Automotive-, bis hin zu HF- und Mixed-Signal-ICs reicht", erklärt Klaus Luther, Senior Director of Corporate Test Technology bei Infineon und Co-Vice Chairman des STC. "Durch den Einsatz des offenen Plattformkonzepts können wir nicht nur eine höhere Flexibilität erreichen sondern zudem auch die Kompetenzen unserer Testingenieure besser über verschiedene Anwendungen und Produktgenerationen nutzen. Bei Infineon wollen wir redundante Entwicklungskosten möglichst vermeiden, wie beispielsweise für Schnittstellen- und Softwarekonvergenz unserer Testlösungen beim Umstieg zwischen unterschiedlichen Architekturen.." Die nächste STC-Hauptversammlung in Europa wird am 19. September in München/Deutschland abgehalten. Die nächste STC-Hauptversammlung in den USA ist für den 15.-16. August in Boston, Massachusetts geplant.

 

Die OPENSTAR-Plattform wurde mit dem Ziel entwickelt, als offene Testlösung eine echte Hardware- und Softwarekompatibilität und damit einzigartige technische und wirtschaftliche Vorteile zu bieten, weshalb sie mittlerweile von mehr als 86 Halbleiter-, Anlagen- und Messtechnikunternehmen, aber auch Universitäten, STIL-Anwendern (Standard Test Interference Language) und anderen Anwendern weltweit unterstützt wird. Die auf der Basis einer vom STC erarbeiteten Standard-Spezifikation definierte Architektur ist für alle Anbieter von Testprodukten offen, wodurch diese bestmögliche Testlösungen anbieten können. Außerdem bietet die in hohem Maß skalierbare und flexible OPENSTAR-Plattform eine problemlos erweiterbare Leistungsfähigkeit, um auch für die in Zukunft weiter steigenden Testanforderungen gerüstet zu sein.



Weitere News zum Thema:

Keine weiteren News zu diesem Thema vorhanden


Aktuelle Termine

embedded world 2024
09. bis 11. April
zur Terminübersicht...
Control 2024
23. bis 26. April
zur Terminübersicht...
Automotive Testing Expo Europe
04. bis 06. Juni
zur Terminübersicht...

  Weitere Veranstaltungen...
  Messe-/Kongresstermine
  Seminare/Roadshows

 


Banner-Werbung