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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestPXI Batterie-Simulator für Automotive Applikationen11. November 2009 - Pickering Interfaces erweitert seine Produktpalette an kundenorientierten PXI-Modulen mit dem Batteriesimulator 41-752. Das Produkt ergänzt die Reihe der seit über 4 Jahren verfügbaren Batteriesimulatoren.
Präzisions-Leistungsanalysator für den Transformatortest06. November 2009 - Yokogawa stellt mit dem neuen WT3000T ein Präzisions-Leistungsmessgerät vor, das speziell auf die Anforderungen der Transformatorindustrie abgestimmt ist.
Weltweit erste 300 mm Testlösung für 3D-gestapelte Strukturen07. September 2009 - SÜSS MicroTec hat mit der neuen Probe Station PA300PS 3D eine Lösung für die elektronische Prüfung von dreidimensional gestapelten Strukturen auf 300 mm Wafer-Ebene entwickelt und adressiert somit gezielt den Markt der 3D-Integration. Die flexible Prüfstation erlaubt verschiedene Tests während der Entwicklung sowie zur Funktionsprüfung nach der Wafer-Herstellung und vor weiteren Stapelvorgängen oder dem endgültigen Packaging.
RoodMicrotec investiert in neue Burn-In Prozesstechnologie01. September 2009 - Das unabhängige Testhaus RoodMicrotec baut auf Grund der steigenden Nachfrage nach Burn-In-Service mit Echtzeit-Überwachung seine Burn-In-Kapazitäten weiter aus.
Neues Wafer-Testsystem mit paralleler Testkapazität von 768 Bauteilen30. Juli 2009 - Advantest Europe GmbH stellt das neue Speichertestsystem T5385 für DRAM-Wafer vor, welches 768 Bauteile parallel testen kann. Dies ist die derzeit höchste verfügbare parallele Testkapazität und doppelt so viel wie beim Vorgängermodell. "Yield Learning Solution" verkürzt Time-to-Market und maximiert Fertigungsausbeute24. Juli 2009 - Verigy stellt unter der Bezeichnung „Yield Learning Solution" eine umfassende Testlösung vor, die eine Echtzeit-Datenerfassung und statistische Analyse elektrischer Fehler von komplexen SoCs ermöglicht. Zero-Footprint-Tester für kostensensible ICs und Mikrocontroller23. Juli 2009 - Verigy, ein amerikanischer Hersteller von Halbleiter -Testsystemen, stellt unter der Modellbezeichnung V101 ein neues Low-Cost, Zero-Footprint, 100-MHz-Tester-On-BoardTM-System zur Durchführung von Wafer Sort und Endtests an kostensensiblen ICs und Mikrocontrollern (MCUs) vor. Weitere Beiträge ...
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