News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Elmos & Advantest vereinbarten Zusammenarbeit bei Halbleitertest

08. Mai 2009 - Advantest Corporation, ein Anbieter von Halbleitertestsystemen und ELMOS Semiconductor AG, ein Anbieter von Automotive-Halbleitern, werden im Bereich des Halbleitertests zusammenarbeiten. Elmos wird künftig die T2000 Plattform von Advantest für den Bauteiltest einsetzen.

Keithley erweitert Halbleiter-Charakterisierungssystem für den Test von Solarzellen

20. März 2009 - Keithley Instruments stellt eine Reihe von Hardware-, Firmware- und Software-Erweiterungen für sein Halbleiter-Charakterisierungssystem Modell 4200-SCS vor. Der Upgrade beinhaltet neun neue Testbibliotheken, einen erweiterten Frequenzbereich für die C-V-Messfunktion und eine Unterstützung für das neue Instrumenten-Chassis mit neun Steckplätzen.

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Protokoll-basiertes Testsystem für RFID-Komponenten

03. April 2009 - Konrad Technologies hat eine komplette Familie von Protokoll-basierter Tester für den Test von RFID-Tags, RFID-Readern, Smartcards, schlüssellosen Zugangssystemen, Reifendrucksensoren, usw. entwickelt.

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Infineon Technologies tritt dem Semiconductor Test Consortium bei

02. August 2006 - Das Semiconductor Test Consortium, Inc. (STC), eine Organisation zur Förderung der weltweiten Verbreitung des OPENSTAR-Standards (Open Semiconductor Test Architecture), meldet, dass Infineon Technologies AG (FSE/NYSE: IFX) dem Konsortium beigetreten ist.

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Schneller Kennlinien-Analysator für Komponententest

Februar 2009 - Yokogawa stellt einen U/I-Kennlinien Analysator mit hoher Plotgeschwindigkeit für den DC Parametertest an Halbleitern und optischen Komponenten vor.

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Test-Station für parametrische Bauteil-Messungen

Februar 2009 - Meilhaus bietet einen Testadapter für parametrische Messung von Agilent an, mit dem keine aufwändige Verkabelung und komplizierte Messaufbauten mehr notwendig sind.

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Testsystem für analoge ICs mit wenigen Pins

10. Dezember 2008 - Advantest Kyushu Systems Co., Ltd. stellt ein neuea Testsystem für einen kostengünstigen Test von analogen ICs mit relativ wenigen Pins (bis 32 Pins) vor.

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Advantest stellt neues Memory Test System vor

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