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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestSÜSS MicroTec stellt neue |Z| Probe Technologie vor16. Juni 2009 - SUSS MicroTec Test Systems stellt seine neue 1MXTM Technologie für die Prüfspitzen-Linie |Z| Probe® für HF-Prüfungen auf Wafer-Ebene vor. Sie reduziert Signalverluste und -reflektionen, sowie das Übersprechen auf ein Minimum, und verbessert durch die Erweiterung des Frequenzbereichs die Hochfrequenzleistung der |Z| Probe erheblich. Advantest stellt neues DDR3-Speichertestsystem vor
3. Juni 2009 - Advantest Corporation stellt eine erweiterte Konfiguration seines neuen schnellen Speichertestsystems T5503 vor, das mit bis zu 256 DDR3-Bauteilen die derzeit höchste verfügbare parallele Testkapazität bietet. Das Testsystem mit der erweiterten Konfiguration ist unter der Produktbezeichnung T5503 8448 Channel Test Head ab sofort erhältlich. Advantest gehört seit 21 Jahren in Folge zu den zehn besten Systemanbietern28. Mai 2009 - Advantest Corporation gehört laut der in jedem Jahr vom Marktforschungsunternehmen VLSI Research Inc. durchgeführten Untersuchung zur Kundenzufriedenheit zum 21. Mal in Folge zu den zehn weltweit führenden Anbietern von Test- und Handling-Systemen. Teradyne und OptimalTest vereinbaren Zusammenarbeit22. Mai 2009 - Im Zuge einer strategischen Zusammenarbeit bieten Teradyne und das israelische Unternehmen OptimalTest umfassende Halbleiter-Testlösungen für die Testsysteme von Teradyne an, mit denen eine Reduzierung der Testzeit um bis zu 30 Prozent, ein um bis zu 20 Prozent effizienterer Betrieb und eine um bis zu 5 Prozent höhere Ausbeute (Yield) erreicht werden kann. Die Software verbessert zudem die kritische Yield-Lernkurve beim Hochfahren der Produktion. Elmos & Advantest vereinbarten Zusammenarbeit bei Halbleitertest08. Mai 2009 - Advantest Corporation, ein Anbieter von Halbleitertestsystemen und ELMOS Semiconductor AG, ein Anbieter von Automotive-Halbleitern, werden im Bereich des Halbleitertests zusammenarbeiten. Elmos wird künftig die T2000 Plattform von Advantest für den Bauteiltest einsetzen. Keithley erweitert Halbleiter-Charakterisierungssystem für den Test von Solarzellen
20. März 2009 - Keithley Instruments stellt eine Reihe von Hardware-, Firmware- und Software-Erweiterungen für sein Halbleiter-Charakterisierungssystem Modell 4200-SCS vor. Der Upgrade beinhaltet neun neue Testbibliotheken, einen erweiterten Frequenzbereich für die C-V-Messfunktion und eine Unterstützung für das neue Instrumenten-Chassis mit neun Steckplätzen. Protokoll-basiertes Testsystem für RFID-Komponenten03. April 2009 - Konrad Technologies hat eine komplette Familie von Protokoll-basierter Tester für den Test von RFID-Tags, RFID-Readern, Smartcards, schlüssellosen Zugangssystemen, Reifendrucksensoren, usw. entwickelt. Weitere Beiträge ...Weitere News zum Thema: |
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