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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestFlying Probe Tester mit Thermal SCAN Funktion22. März 2010 - Die AERIAL Flying Prober Familie von Seica ist ab sofort auch mit "Flying IC Thermal Detection Units" erhältlich. Je zwei IC Thermal Detection Einheiten sind auf jeder Seite des Prüflings angeordnet und erfassen das thermische Profil der mit Spannung versorgten Bauteile. Der Vergleich der Temperaturen der einzelnen Bauteile auf der zu prüfenden Baugruppe mit vorab von fehlerfreien Baugruppen erlernten Daten erlaubt eine schnelle Erkennung von fehlerhaften Komponenten.
Software zur IEC 62301 konformen Leistungsmessung19. März 2010 - Yokogawa bietet zu seinen Leistungsmessgeräten der WT-Serie eine kostenlose Software an, die Parametrierung, Messung und Protokollerstellung gemäß IEC 62301 EuP Direktive Lot6 unterstützt. Damit können normkonform Standby & Off-Mode-Verluste bei Haushaltsgeräten, IT-Geräten und ähnlichem ermittelt werden. In-System Emulationstechnik für Microchip Mikrocontroller17. März 2010 - GÖPEL electronic hat für seine Emulationstechnologie VarioTAP® eine spezielle Modellbibliothek für die High Performance Mikrocontroller PIC32MX mit MIPSTM Core von Microchip entwickelt. Die als VarioTAP®-Modell bezeichneten Bibliotheken sind modular als intelligente IP strukturiert und ermöglichen eine vollständige Fusion von Boundary Scan Test und JTAG Emulation. Einfacher Verbindungstest für WLAN-Geräte11. März 2010 - Willtek Communications hat heute mit dem 1491 WiFi Connectivity Test Package eine Lösung für einfache Funktionstests an Endgeräten mit WiFi-Schnittstelle vorgestellt. Reparaturzentren können damit die WLAN-Schnittstellen von Produkten wie beispielsweise Smartphones und Router überprüfen. Multi-Applikationstestsystem für optische Komponenten und Übertragungssysteme10. März 2010 - Bei der Yokogawa Multi-Applikationssystem-Serie AQ2210 handelt es sich um die derzeit modernste Version eines multifunktionalen optischen Testsystems: Ein modulares System, welches dem Anwender größtmögliche Flexibilität durch die Nutzung aller aktuellen Schnittstellen zur Datenausgabe bietet und dies mit höchster Messgeschwindigkeit kombiniert. Universelle LXI-Testplattform09. März 2010 - EADS Test & Services stellt mit der Universal Source/Measure Switching Unit Modell 1830 ein neues Subsystem für die Realisierung von automatisierten Testsystemen für den Einsatz in der Fertigung, Instandsetzung und im Burn-In vor. Die moderne Architektur ermöglicht eine deutliche Reduzierung der Testkosten sowie eine Erhöhung des Testdurchsatzes. Kostengünstiger Boundary Scan Controller für PCI Bus09. März 2010 - GÖPEL electronic präsentiert unter der Bezeichnung SCANBOOSTER/PCI-DT einen leistungsfähigen Low-cost Controller seiner SCANBOOSTER Familie. Der neue Controller ergänzt das bereits vorhandene SCANBOOSTER Produktspektrum um eine Lösung gemäß der PCI-Bus Spezifikation und unterstützt JTAG/Boundary Scan Test, VarioTAP Emulationstest, PLD Programmierung und In-System Programmierung von Flash mit moderater Größe. Weitere Beiträge ...
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