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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Allgemeine Test- und MesstechnikAll-about-Test jetzt auch in Englisch03. August 2010 - All-about-Test erscheint ab sofort auch in einer englischsprachigen Variante. Während der Schwerpunkt der Berichterstattung der deutschsprachigen Seite vorwiegend auf dem Raum Deutschland, Schweiz und Österreich liegt, konzentriert sich die neue englischsprachige Website (www.all-about-test.eu) auf Meldungen aus ganz Europa. NI LabVIEW 2010: neue Funktionen und schnellere Ausführung03. August 2010 - National Instruments stellt mit LabVIEW 2010 die neueste Version der grafischen Programmierumgebung für Design-, Prüf-, Mess-, Steuer- und Regelanwendungen vor. Neben neuen Funktionen ermöglichen neueste Compiler-Technologien eine um durchschnittlich 20 Prozent schnellere Ausführung der Anwendungen. Zudem gibt es nun eine große offene eCommerce-Plattform für die Evaluierung und den Erwerb von Add-on-Toolkits. Optisches Sampling-Oszilloskop30. Juli 2010 - Polytec bietet ein optisches Sampling-System mit einer Bandbreite von 500 GHz an. In der optischen Nachrichtentechnik werden direkte Messungen von Signalen mit sehr hohen Baudraten durch die Bandbreiten elektrischer Sampling-Oszilloskope begrenzt. 70 bis 80 GHz bilden dabei die Obergrenze. Um in den Bereich oberhalb 100 GBit/s vorzudringen, stellen optische Sampling-Oszilloskope die einzige Lösung dar. Technologie- und Anwenderkongress VIP 201029. Juli 2010 - Am 27. und 28. Oktober veranstaltet National Instruments bereits zum 15. Mal den Technologie- und Anwenderkongress VIP 2010 „Virtuelle Instrumente in der Praxis". Technologie- und Anwendervorträge, eine große Fachausstellung mit über 30 Produktpartnern und Systemintegratoren sowie Workshops machen den Kongress im Veranstaltungsforum Fürstenfeld bei München zu einer einzigartigen Wissensplattform mit einem breit gefächerten Themenangebot. Dieses Jahr findet der Kongress wieder zweitägig statt. Technologie-Roadshow vermittelt Theorie und Praxis von JTAG/Boundary Scan27. Juli 2010 - Unter der Bezeichnung „Boundary Scan on Tour" führt GÖPEL electronic zum vierten Mal eine deutschlandweite Roadshow zur JTAG/Boundary Scan Technologie gemäß Standard IEEE 1149.x durch. Vom 13. 09. bis 01.10.2010 haben Interessenten dabei die Möglichkeit, sich sowohl über die Theorie der Test-, Programmier- und Emulationsmethodik zu informieren, als auch Praxisinformationen und Applikationsbeispiele aus erster Hand zu erleben. Superhelle LED-Beleuchtung für Bildverarbeitung26. Juli 2010 - Die Polytec GmbH aus Waldbronn bei Karlsruhe wird auf der im November in Stuttgart stattfindenden Fachmesse „VISION" eine neue Serie von superhellen „high-brightness" LED-Beleuchtungen vorstellen. Die neue Beleuchtungsserien LATAB-SAH und -SAW basieren auf der bisherigen LATAB LED Beleuchtung und dekcen das komplette Beleuchtungsspektrum der industriellen Bildverarbeitung ab. iTAC und SmartRep schließen Kooperationsvertrag23. Juli 2010 - Die SmartRep GmbH hat mit iTAC, einem Hersteller von Manufacturing Execution System (EMS) und Traceability - Software, eine Zusammenarbeit vereinbart. SmartRep hat langjährige Erfahrung im Vertrieb von Traceability-Software und tritt als Solution-Partner für iTAC auf. Weitere Beiträge ...
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