|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Allgemeine Test- und MesstechnikPXI-Schaltsystem für mehr als 8000 Kanäle29. Oktober 2010 - National Instruments hat mit dem NI SwitchBlock für PXI ein Schaltsystem mit hoher Kanaldichte vorgestellt, dessen innovative Architektur die Erweiterung der Schaltmatrix stark vereinfacht. Diese Lösung wurde insbesondere für anspruchsvolle automatisierte Prüfsysteme entworfen, die eine hohe Kanalanzahl aufweisen und eine hohe Anzahl an Kopplungspunkten benötigen. Frequenzkonverter ermöglicht Netzwerkanalyse bis 500 GHz27. Oktober 2010 - Für seine Netzwerkanalysatoren bietet Rohde & Schwarz die neuen R&S ZVA-Z500 Frequenzkonverter für den Bereich von 325 GHz bis 500 GHz. Rohde & Schwarz liefert damit eine schlüsselfertige Lösung: von der Entwicklung und Produktion der Konverter bis hin zu deren Einbindung in Applikationen. Die R&S ZVA-Z500-Modelle zeichnen sich durch höchste Dynamik und Ausgangsleistung über das gesamte Frequenzband aus und lassen sich vollständig über die Bedienoberfläche des Netzwerkanalysators einstellen. Geotest Marvin Testsystems zeigt neue PXI Instrumente26. Oktober 2010 - Der Test und Measurement Spezialist Geotest Marvin Testsystems wird auf der electronica 2010 in München auf dem Schneider und Koch Stand in Halle A1, Standnummer A1.621 u. a. seine beiden neuen PXI Instrumente GX5295 und GX5960 zeigen. Decodieren und Debuggen von seriellen Daten mit dem Oszilloskop19. Oktober 2010 - LeCroy hat sein PROTObus MAG (Measure, Analysis, Graph) Toolkit um weitere Decodier-Optionen für serielle Daten erweitert. Neu sind Optionen für ARINC 429, USB 2.0, MIPI D-PHY (inkl. CSI-2 und DSI) und DigRF 3G. PROTObus MAG enthält eine Reihe von Hilfsmitteln für die Datengewinnung und Messung an seriellen Bussystemen und die grafische Darstellung der Ergebnisse auf einem Oszilloskop. Bislang waren Optionen für I2C, SPI, UART, RS-232, CAN, LIN, FlexRay und MIL-STD-1553 verfügbar. Rohde & Schwarz zeigt neue Oszilloskope und zahlreiche weitere Neuheiten19. Oktober 2010 - Rohde & Schwarz stellt seine Messtechniklösungen auf der electronica 2010 ganz unter das Motto „Frequency meets Time": Mit seinen neuen Oszilloskopen ist das Unternehmen in den Bereich Time Domain vorgestoßen. Die Familien R&S RTO und R&S RTM sind daher auch ein Highlight auf dem Rohde & Schwarz-Stand 307 in Halle A1. Zu den weiteren Top-Produkten gehören der R&S FSVR als weltweit erster Echtzeit-Spektrumanalysator bis 30 GHz und eine Lösung zur Signalgenerierung bis 110 GHz. Kostengünstige und einfache S-Parameter Messungen bis 40 GHz15. Oktober 2010 - LeCroy stellt eine neue Messgeräteklasse vor: die SPARQ Signal Integrity Netzwerk Analyzer. Der SPARQ misst S-Parameter von DC bis 40 GHz an bis zu 4-Ports mit einem Knopfdruck und dies zu einem Bruchteil der Kosten eines traditionellen Netzwerkanalysators, die sehr teuer und schwierig zu bedienen sind. Durch den geringen Preis und die einfache Bedienung des SPARQ werden S-Parameter Messungen für eine breitere Kundenschicht bezahlbar. Meilhaus Electronic baut Produktportfolio im Automotive-Bereich aus12. Oktober 2010 - Meilhaus Electronic, der Master Distributor der englischen Firma Pico Technologies, verstärkt den Focus auf den Bereich der USB-Oszilloskope für automobile Anwendungen. Erstmals präsentiert wurde die verstärkte Zusammenarbeit auf der Messe Automechanika in Frankfurt, auf der beide Firmen gemeinsam auftraten. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |