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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Allgemeine Test- und MesstechnikAutarkes 5-Megapixel-Vision-System28. Juni 2010 - Cognex stellt mit In-Sight® 5605 ein hochauflösendes, autarkes Vision-System mit unübertroffener Leistungsstärke und Flexibilität für Anwendungen vor, die eine Visualisierung winziger Defekte selbst in einem großen Sichtfeld erfordern. Klima-Akustikkammer für Test kompletter Fahrzeuge25. Juni 2010 - IPETRONIK hat sein Consulting/Engineering-Angebotsspektrum um Dienstleistungen in den Bereichen Labor und Aggregate-Prüfstand erweitert und in seinem Technologiezentrum in Baden-Baden eine neue Klima-Akustikkammer erfolgreich in Betrieb genommen. Die Klima-Akustikkammer erlaubt zusammen mit ihrer umfangreichen messtechnischen Peripherie die Erfassung aller hinsichtlich Klima und NVH (Noise, Vibration & Harshness) relevanten Größen. Testentwurfswerkzeug mit Priorisierung der Testfälle23. Juni 2010 - Die Berner & Mattner Systemtechnik GmbH stellt auf der Automotive Testing Expo Europe 2010 vom 22. bis 24. Juni 2010 das neue Testfallentwurfswerkzeug CTE XL Professional vor. Neu am grafischen Klassifikationsbaum-Editor ist die Priorisierung von Testfällen, die sich automatisch aus der Gewichtung testrelevanter Aspekte ergibt. Testlösung für Haptik-Prüfung22. Juni 2010 - Konrad Technologies stellt mit dem KT Sound & Haptics Explorer eine neue Standardlösung zur Haptikprüfung von Automotive Interieur-Teilen, wie Schaltern, Blinkerhebeln, Multifunktionsdrehknöpfen, vor. Damit erhalten Hersteller und OEM-Kunden eine kostengünstige Testmöglichkeit für die Optimierung ihrer Produkte und Maximierung des Fahrkomforts. Boundary Scan Controller für PCI Express18. Juni 2010 - GÖPEL electronic hat unter der Bezeichnung ScanBooster/PCIe-DT einen weiteren leistungsfähigen low cost Controllers im Rahmen der ScanBooster Familie vorgestellt. Der neue Controller ergänzt das bereits vorhandene ScanBooster Produktspektrum um eine Lösung gemäß der PCI Express Bus-Spezifikation und unterstützt JTAG/Boundary Scan Test, VarioTAP® Emulationstest, PLD Programmierung und In-System Programmierung von Flash mit moderater Größe. Messtechnik München - Hightech auf dem Olympiaturm16. Juni 2010 - Die Veranstaltung "Messtechnik München - Hightech auf dem Olympiaturm" findet in diesem Jahr bereits zum 16-ten Mal statt. Und zwar am 30. Juni und 01. Juli 2010. Das Event wird vom Puchheimer Datenerfassungs-Spezialisten Meilhaus Electronic veranstaltet. Den Gast erwartet ein informativer Messe-Tag mit Fachvorträgen zu unterschiedlichen Themen aus Messtechnik, Test und Automation. Guter Start für IPTE11. Juni 2010 - Die mit Wirkung zum 1. März 2010 gestartete IPTE Factory Automation (FA) NV blickt zuversichtlich in die Zukunft. Die Ausgliederung ist inzwischen komplett vollzogen und der Auftragseingang liegt wir ca. zehn Prozent über dem Plan. Weitere Beiträge ...
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