|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Allgemeine Test- und MesstechnikDanaher übernimmt Keithley Instruments30. September 2010 - Der amerikanische Konzern Danaher Corporation übernimmt den Messtechnik-Hersteller Keithley Instruments, Inc. für einen Kaufpreis von etwa 300 Millionen US-Dollar. Das Board of Directors von Keithley hat der Übernahme durch Danaher bereits zugestimmt. Netzwerkanalysator misst lückenlos von 10 MHz bis 110 GHz29. September 2010 - Rohde & Schwarz stärkt seine Position in der Netzwerkanalyse mit einem neuen High-End-Netzwerkanalysator. Der R&S ZVA110 deckt den Frequenzbereich von 10 MHz bis 110 GHz durchgehend ab. Seine hohe Messdynamik, Ausgangsleistung und Messgeschwindigkeit machen das Gerät ideal für Messungen an passiven oder aktiven Komponenten bis in den Millimeterwellenbereich. Arbiträrgenerator speziell zur Steuerung von Stromversorgungen29. September 2010 - Die Firma Maren Ewert - UIandT.com hat mit dem AWG S1 ein preiswertes, externes Steuergerät entwickelt, mit dem sich in einfacher Weise Stromversorgungen über die Analogschnittstelle für automatisierte Tests steuern lassen. Rohde & Schwarz und NMDG kooperieren bei Netzwerkanalyse27. September 2010 - Rohde & Schwarz will gemeinsam mit dem belgischen Unternehmen NMDG, einem hoch spezialisierten Anbieter für nichtlineare Netzwerkanalyse-Lösungen, sein umfangreiches Netzwerkanalyse-Portfolio in Richtung nichtlineare Messungen ausweiten. Erfüllen FFT-basierte Emissions-Messsysteme die Anforderungen von CISPR 16?20. September 2010 - Seit der Einführung des ersten FFT-basierten Emissionsmesssystems für EMV-Messungen im Jahr 2008 wurde immer wieder diskutiert, ob derartige Geräte „CISPR- konform" sei. Wie die emv GmbH aus Taufkirchen mitteilt, wurde diese Frage nun durch eine Aktualisierung der CISPR 16 eindeutig in der Norm geklärt. Unterstützung für IEEE 1149.7 (cJTAG)16. September 2010 - GÖPEL electronic und IPextreme, ein Anbieter von IP (Intellectual Property) für System-On-Chip (Soc) Designer, haben im Rahmen einer längerfristigen Kooperation neue Instrumentierungen für den erst kürzlich verabschiedeten Debug- und Test-Standard IEEE1149.7 verifiziert. Dabei wurde im Ergebnis eine vollständige Kompatibilität zwischen der JTAG/Boundary Scan Hardwareplattform SCANFLEX® von GÖPEL electronic und dem IEEE1149.7 cJTAG Halbleiter-IP von IPextreme geschaffen. 16-/8-Kanal PXI-Karten für simultane Datenerfassung15. September 2010 - ADLINK Technology, Inc. stellt die kompakten Datenerfassungskarten PXI-2022/2020 für simultane Datenaufzeichnung vor. Als jüngste Ergänzung von ADLINKs umfassender Palette an Datenerfassungskarten bieten die Typen PXI-2022 und PXI-2020 simultane 16-Bit Datenerfassung mit 250 kSample/s über 16 bzw. 8 Kanäle. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |