|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Test-Station für parametrische Bauteil-MessungenFebruar 2009 - Meilhaus bietet einen Testadapter für parametrische Messung von Agilent an, mit dem keine aufwändige Verkabelung und komplizierte Messaufbauten mehr notwendig sind. Der U2941A bezieht seine Betriebsspannung von der modularen USB-SMU (Source/Monitor Unit) U2722A und bietet eine Vielzahl von Bauteilfassungen zur Auswahl. Das vereinfacht Messungen an elektronischen Bauteilen ganz erheblich. Die mitgelieferte Software erleichtert das Einrichten und Durchführen der Messung sowie das Aufzeichnen der Messdaten. Eine schließbare Abdeckung minimiert äußere Einwirkungen/ESD bei empfindlichen Prüflingen. Es werden bis zu 3 Source-/Mess-Kanäle unterstützt und es stehen mehrere, austauschbare Sockel-Module zur Anpassung an verschiedenste Pin-Konfigurationen zur Verfügung. Die Lieferung erfolgt zusammen mit der Agilent Parametric Measurement Manager CD und (optional oder im Bundle) VEE Pro. www.meilhaus.deWeitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |