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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsPickering Interfaces stellt neue PXI Chassis vor25. März 2009 - Pickering Interfaces erweitert seine PXI Produktpalette um zwei neue High Performance PXI Chassis mit 8 bzw. 18 Slots und verbesserten Eigenschaften. Boundary Scan Plattform für SPEA In-Circuit-Tester21. September 2006 - GÖPEL electronic, ein Hersteller von JTAG/Boundary Scan Lösungen, hat im Rahmen einer OEM-Kooperation mit SPEA für den In-Circuit-Tester (ICT) SPEA 3030 eine Boundary Scan Option der nächsten Generation entwickelt. Infineon Technologies tritt dem Semiconductor Test Consortium bei02. August 2006 - Das Semiconductor Test Consortium, Inc. (STC), eine Organisation zur Förderung der weltweiten Verbreitung des OPENSTAR-Standards (Open Semiconductor Test Architecture), meldet, dass Infineon Technologies AG (FSE/NYSE: IFX) dem Konsortium beigetreten ist. Basler steigt in den Solarmarkt ein
01. September 2006 - Die Basler AG erweitert seine Geschäftsaktivitäten im Unternehmensbereich Vision Systems (Inspektionssysteme für die industrielle Massenproduktion) und will künftig auch Inspektionslösungen für die Photovoltaikindustrie anbieten. Pickering Interfaces bietet neue PCI-Präzisionswiderstandsdekade an18. März 2009 - Pickering Interfaces erweitert seine PCI Produktreihe mit einer Präzisionswiderstandsdekade, die unterschiedliche Widerstandsbereiche sowie Kanalzahlen zur Verfügung stellt. Testsystem für 24GHz Blind-Spot-Radarsysteme16. März 2009 - Konrad Technologies stellt sein neuestes HF-Testsystem zum Serientest von 24GHz Blind-Spot-Radarmodulen vor, das bei einem führenden Automobilzulieferer in der Serienfertigung zum Einsatz kommt. Agilent zieht sich aus dem AOI- und AXI-Geschäft zurück19. Februar 2009 - Agilent konzentriert sich künftig verstärkt auf seine Kernkompetenzen und zieht sich bis Ende März 2009 aus den Bereichen AOI (automatische optische Inspektion) und AXI (automatische Röntgeninspektion) zurück. Die Bereiche In-Circuit- und Funktionstest werden weitergeführt. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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