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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsNeues Wafer-Testsystem mit paralleler Testkapazität von 768 Bauteilen
TD-LTE-Handover in Mobilitätstests29. Juli 2009 - Aeroflex meldet erfolgreiche Handover-Tests zwischen mehreren TD-LTE-Basistationen mit dem Mobilfunktester TM500 TD-LTE bei mehreren Netzwerkinfrastruktur-Herstellern.
Signalgenerator erzeugt und analysiert komplexe Pulsfolgen28. Juli 2009 - Rohde & Schwarz hat den analogen High-End-Signalgenerator R&S SMA100A um zwei neue Optionen erweitert. Dies ermöglichen nicht nur eine Generierung komplexer Impulsfolgen sondern zudem auch eine Leistungsanalyse der Signale direkt mit dem Signalgenerator und einem zusätzlichen Leistungsmesskopf.
Analyse- und Debugging-Tools für serielle Audio Bus Standards27. Juli 2009 - LeCroy bietet ein neues Audio Bus Paket für seine WaveRunner® Xi und WaveSurfer® Xs Oszilloskope an, das alle notwendigen Werkzeuge für eine genaue Analyse und das Debugging verschiedener Audio Bus Standards enthält. "Yield Learning Solution" verkürzt Time-to-Market und maximiert Fertigungsausbeute24. Juli 2009 - Verigy stellt unter der Bezeichnung „Yield Learning Solution" eine umfassende Testlösung vor, die eine Echtzeit-Datenerfassung und statistische Analyse elektrischer Fehler von komplexen SoCs ermöglicht. Leistungsmessgeräte für Standby-Messungen gemäß IEC 6230124. Juli 2009 - Die beiden Leistungsmesser WT3000-2A und WT210 von Yokogawa wurden für ihre Eignung zur Messung der Standby Leistung gemäß dem Standard IEC 62301 zertifiziert. Dabei handelt es sich um die Bestimmung der Leerlaufverluste, wenn sich der Prüfling im Ruhezustand befindet. Entsprechende Vorgaben für den Standby-Leistungsverbrauch von Büro- und Haushaltsgeräten treten in allen 27 EU Mitgliedsländern am 1. Januar 2010 in Kraft. Diodenmesskopf für Leistungsmessungen bis 33 GHz24.Juli 2009 - Rohde & Schwarz bringt mit dem neuen R&S® NRP-Z31 den ersten Diodenmesskopf für Leistungsmessungen bis 33 GHz auf den Markt, der auch ohne Grundgerät genutzt werden kann. Er lässt sich über die USB-Schnittstelle am PC anschließen, wo das Messergebnis via mitgelieferter PC-Software angezeigt wird. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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30. Juli 2009 - Advantest Europe GmbH stellt das neue Speichertestsystem T5385 für DRAM-Wafer vor, welches 768 Bauteile parallel testen kann. Dies ist die derzeit höchste verfügbare parallele Testkapazität und doppelt so viel wie beim Vorgängermodell.