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Top 5 News der letzten 30 Tage

Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Test-Station für parametrische Bauteil-Messungen

meilhaus_Agilent_U2941A

Februar 2009 - Meilhaus bietet einen Testadapter für parametrische Messung von Agilent an, mit dem keine aufwändige Verkabelung und komplizierte Messaufbauten mehr notwendig sind.

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Schneider & Koch vertreibt PXI-Komponenten der Firma Geotest Inc.

14. Februar 2009 - Die Prüftechnik Schneider & Koch GmbH aus Bremen, ist künftig als Distributor für PXI-Messtechnik-Komponenten der Firma Geotest Inc. tätig.

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Pickering Interfaces stellt neue LXI- und PXI-Module vor

26. Januar 2009 - Pickering Interfaces erweitert sein Produktspektrum mit einer LXI-Schaltmatrixserie mit 256x16 elektromechanischen Relais und einem PXI Modul mit 32 digitalen I/O-Kanälen mit programmierbarer Eingangsschwellenspannung.

 

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Testsystem für analoge ICs mit wenigen Pins

10. Dezember 2008 - Advantest Kyushu Systems Co., Ltd. stellt ein neuea Testsystem für einen kostengünstigen Test von analogen ICs mit relativ wenigen Pins (bis 32 Pins) vor.

 

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Advantest stellt neues Memory Test System vor

20. November, 2008 - Advantest (Europe) GmbH stellt mit dem T5782 einen neuen Memory-Tester vor. Das T5782 Testsystem ist ab November 2008 verfügbar und zeichnet sich durch eine Per-Site-Architektur und eine marktführende Testgeschwindigkeit von 266MHz/533Mbps aus.

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Seica Deutschland eröffnet Demo- und Trainings-Center in München

30. Oktober 2008 - Seica Deutschland GmbH, ein Anbieter von Testlösungen für die Elektronikfertigung, expandiert weiter: Zum Juli wurde ein Demo- und Supportcenter in München eröffnet.

 

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Weitere News zum Thema:

Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu

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