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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
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Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsTest-Station für parametrische Bauteil-MessungenFebruar 2009 - Meilhaus bietet einen Testadapter für parametrische Messung von Agilent an, mit dem keine aufwändige Verkabelung und komplizierte Messaufbauten mehr notwendig sind. Schneider & Koch vertreibt PXI-Komponenten der Firma Geotest Inc.14. Februar 2009 - Die Prüftechnik Schneider & Koch GmbH aus Bremen, ist künftig als Distributor für PXI-Messtechnik-Komponenten der Firma Geotest Inc. tätig. Pickering Interfaces stellt neue LXI- und PXI-Module vor26. Januar 2009 - Pickering Interfaces erweitert sein Produktspektrum mit einer LXI-Schaltmatrixserie mit 256x16 elektromechanischen Relais und einem PXI Modul mit 32 digitalen I/O-Kanälen mit programmierbarer Eingangsschwellenspannung.
Testsystem für analoge ICs mit wenigen Pins10. Dezember 2008 - Advantest Kyushu Systems Co., Ltd. stellt ein neuea Testsystem für einen kostengünstigen Test von analogen ICs mit relativ wenigen Pins (bis 32 Pins) vor.
Advantest stellt neues Memory Test System vor20. November, 2008 - Advantest (Europe) GmbH stellt mit dem T5782 einen neuen Memory-Tester vor. Das T5782 Testsystem ist ab November 2008 verfügbar und zeichnet sich durch eine Per-Site-Architektur und eine marktführende Testgeschwindigkeit von 266MHz/533Mbps aus. Seica Deutschland eröffnet Demo- und Trainings-Center in München30. Oktober 2008 - Seica Deutschland GmbH, ein Anbieter von Testlösungen für die Elektronikfertigung, expandiert weiter: Zum Juli wurde ein Demo- und Supportcenter in München eröffnet.
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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