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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsETS-Lindgren gibt die Übernahme der EMV GmbH bekannt25. März 2011 - ETS-Lindgren mit Sitz in Cedar Park, Texas, übernimmt die EMV Elektronische Messgeräte Vertriebs GmbH, einschließlich der Tochterfirma EMSCREEN Electromagnetic Screening GmbH (zusammen "EMV"). Die EMV ist ein Anbieter von EMV- und HF-Messsystemen, darunter auch die Entwicklung und Installation von architektonisch geschirmten Räumen sowie von Gleich- und Wechselspannungsquellen und hat ihren Sitz in Taufkirchen bei München. 20 Jahre Göpel electronic - 11 Jahre Boundary Scan Days23. März 2011 - Am 05. und 05. April 2011 veranstaltet die GÖPEL electronic GmbH zum elften Mal die Boundary Scan Days in Jena. Pünktlich zum Firmenjubiläum des Jenaer Unternehmens steht die diesjährige Veranstaltung unter dem Thema „20 Jahre GÖPEL electronic und JTAG/Boundary Scan". Auf dem Programm stehen Vorträge über Anwendungen, neue Technologien, Standards und technologische Trends. Elektronik Produkte des Jahres 201122. März 2011 - Die Leser der Zeitschrift Elektronik haben über insgesamt 111 Vorschläge der Elektronik-Redaktion abgestimmt und ihre Favoriten in zehn Kategorien gewählt. Auch einige Messtechnik-Produkte waren darunter. Viscom und CyberOptics kooperieren bei Sensortechnologie für 3D-Lotpasteninspektion22. März 2011 - Viscom AG, Hannover und CyberOptics Inc., Minneapolis, MA, USA, haben ein OEM-Abkommen geschlossen, das die Erweiterung der Viscom 3D-SPI-Systeme mit der 3D-Sensortechnologie von CyberOptics beinhaltet. Das Entwicklungs- und Lieferabkommen ermöglicht die Integration der CyberOptics SE500 Sensortechnologie in die Baureihen der Viscom Leiterplatteninspektionssysteme. Messgerät zur Optimierung der Solarzellen-Produktion21. März 2011 - Die GP Solar GmbH hat mit dem GP ISO-TEST .Waf ihre neueste Produktweiterentwicklung in der Labormesstechnik vorgestellt. Der GP ISO-TEST .Waf ist ein Messgerät für das Erreichen höchster Wirkungsgrade in Zellen. Es dient zum Prüfen des Isolationswiderstandes zwischen Vorder- und Rückseite von diffundierten Wafern nach der chemischen Kantenisolation. Batterietestgeräte für 48V-Batteriepacks und Hochspannungs-Batterien18. März 2011 - Mit den beiden neuen Tischgeräten 3562(BT) und 3563(BT) von HIOKI präsentiert die ASM Automation Sensorik Messtechnik GmbH ein Präzisions-Messgerät für die schnelle Messung von Kontaktwiderständen, Innenwiderständen und für die Beurteilung des Innenwiderstandes/der Ladekondition von Akkumulatoren. Die beiden neuen Geräte wurden speziell im Hinblick auf die erhöhten Anforderungen zum Testen von großen Akkupacks entwickelt, die in Hybrid- und Elektrofahrzeugen eingesetzt werden. BSDL-Testbench für Multi-Chip-Module und 3D-Chips02. März 2011 - GÖPEL electronic stellt eine neue Option für die erst kürzlich am Markt eingeführte EDA-Software TAPChecker vor, mit der die Funktionalität von TAPChecker als BSDL-Testbench Generator auch auf den Einsatz bei Multi-Chip-Modulen und 3D-Chips erweitert wird. Für die Anwender ergibt sich damit die Möglichkeit komplexere Designs mit mehreren Boundary Scan Chips oder Dies einschließlich der Zwischenverbindungen durch eine umfassende Verhaltens-Simulation zu verifizieren. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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