|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsTestsystem für COM Express-Module18. März 2013 – Yamaichi Electronics stellt das neue, im European Design Center entwickelte Testsystem für COM Express-Module vor. Das Testsystem dient sowohl zur Funktionsprüfung als auch zur Qualitätssicherung der typischen und kundenspezifischen COM Express-Module. Optisches Wellenlängenmessgerät für 1270 bis 1650 nm18. März 2013 - Die neuen Wellenlängenmessgeräte AQ6150 und AQ6151 von Yokogawa sind schnell, hochgenau und erlauben eine kosteneffiziente Abstimmung von Lasern im Bereich der Telekommunikation. Yokogawa erweitert sein Portfolio im Bereich der hochgenauen Messungen und erreicht nun bei Wellenlängenmessung Genauigkeiten von 1 pm mit dem AQ6150 sowie von 0,3 pm mit dem AQ6151. Mit der neuen Geräteserie sind sowohl Mehrkanalmessungen für bis zu 1024 Laser als auch einfache Single Laser Messungen möglich. Kohärente Modulationsanalyse für 400G Multi-Carrier-Superchannel15. März 2013 - Tektronix stellt eine neue Software-Option für die optischen Modulationsanalysatoren der Familie OM4000 vor. Diese bietet eine automatische Testunterstützung für eine kohärente optische 400G Multi-Carrier-Modulation. Die Software-Option erlaubt Forschern, die an 400G und noch schnelleren kohärenten optischen Systemen arbeiten, eine deutliche Verkürzung der Testzeiten. Neue Mixed-Signal-Oszilloskope von Rigol Technologies14. März 2013 - Die Rigol Technologies Inc. stellt neue High-End-Mixed-Signal-Oszilloskope aus der Digital-Oszilloskop-Serie DS4000 mit großem 9”-Farb-Bildschirm und herausragender Speichertiefe vor. Die neuen Oszilloskope sind mit Bandbreiten zwischen 100 MHz und 500 MHz, Abtastraten von bis zu 4 GSa/s und bis zu 4 analogen Kanälen erhältlich. Die Erweiterung um einen 16-Kanal-Logikanalysator erlaubt nun auch die Busanalyse sowie die Triggerung auf den digitalen Kanälen in Kombination mit den jeweiligen Analogkanälen. High-Speed 3D In-line Röntgeninspektion14. März 2013 – MatriX Technologies präsentiert nach der erfolgreichen Einführung des ersten X3 In-line Röntgensystems im November 2011 nun das neue X3L-System. Dieses verfügt über ein innovatives duales Detektorkonzept aus High-Speed Line-Scanner für die Inspektion kompletter Baugruppen sowie über einen hochauflösenden digitalen Flatpanel-Detektor für selektive 3D-Aufnahmen. Das Modell X3 ist als universelles Standard 3D-System weiterhin erhältlich. ETSI-standardkonforme Lösung für Zertifizierungstests im 2,4 GHz-Band13. März 2013 - Unterschiedliche Funkdienste wie WLAN und Bluetooth aber auch Funkfernsteuerungen und schnurlose Geräte teilen sich das unlizenzierte und immer stärker genutzte 2,4 GHz-Band. Für die Hersteller solcher Geräte werden für den Verkauf in der EU ab 2015 neue Zulassungsprüfungen verpflichtend. Mit dem Testsystem R&S TS8997 präsentierte Rohde & Schwarz auf der internationalen Fachmesse EMV Stuttgart 2013 schon heute die erste Lösung für standardkonforme Zertifizierungstests. HAMEG Instruments erhöht den Frequenzbereich seiner Spektrumanalysatoren13. März 2013 - HAMEG Instruments hat den Frequenzbereich bei allen Spektrumanalysatoren der 1000er Serie von 1GHz auf 1,6GHz erhöht. Somit erhalten HAMEG Kunden beim Kauf eines HMS1000, HMS1010 und auch beim HMS1000E ab sofort 60% mehr Frequenzbereich ohne Aufpreis. Dafür muss die neueste Firmware-Version von der HAMEG-Website heruntergeladen, installiert und das Gerät mit der neuen Performance gestartet werden. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |