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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsNeuer Geschäftsführer für Laser 2000 GmbH25. März 2013 - Dr. Rüdiger Hack ist seit 01. März neuer Geschäftsführer und zusätzlicher Gesellschafter der Laser 2000 GmbH. Er löst Armin Luft, den Gründer und Inhaber der Laser 2000, ab, der die Geschäfte seit nunmehr 27 Jahren geleitet hat. Armin Luft steht Laser 2000 weiterhin als Berater zur Verfügung. Mit Dr. Rüdiger Hack gewinnt das Unternehmen einen ausgewiesen Branchenexperten und Manager mit langjähriger Auslandserfahrung. Bit Error Rate Test (BERT) mittels FPGA Embedded Instruments22. März 2013 - Die IP-basierende ChipVORX-Technologie von GÖPEL electronic kann von nun an zur Ausführung von Bit Error Rate Tests (BERT) eingesetzt werden. Die hochautomatisierte Lösung ermöglicht den Einsatz von FPGA Embedded Instruments in Form von speziellen Softcores zum Test und zur Design-Validierung von Highspeed-I/O. Anwender können dadurch die Qualität der Übertragungskanäle durch Messung der Bitfehlerrate beurteilen. Zur Unterstützung der Design-Validierung ist auch eine grafische Auswertung per Augendiagramm möglich. Mixed-Signal-Oszilloskop-Serie mit bis zu 500 MHz Bandbreite22. März 2013 - Die neue Mixed-Signal-Oszilloskop-Serie HMO3000 von HAMEG Instruments umfasst Insgesamt 6 neue Modellvarianten mit Bandbreiten von 300 MHz bis 500 MHz und mit 2 oder 4 Kanälen. Durch die standardseitig vorhandene MSO-Funktionalität können zusätzlich zu den Analogkanälen bis zu 16 Digitalkanäle analysiert werden. Signifikantester Unterschied zur Vorgängerreihe ist neben der erhöhten Bandbreite die mit 8 MB doppelt so große Speichertiefe. Rotations-Federkontakte im 1,27 / 2,0 / 2.54mm Raster21. März 2013 - Die uwe electronic stellt mit dem Rotator einen Federkontaktstift besonders geeignet als Schicht-Durchdringungskontaktierung für Rastermaß 1,27/2,0/2,54 mm zur Verfügung. Sein spindelförmig gedrehter Kolben erzeugt beim Kontaktieren (einfedern) automatisch eine Drehbewegung, welche in eine Federkontaktkopf-Rotation resultiert. Messsoftware für LTE-Advanced Mobile-Call-Processing-Test21. März 2013 – Zeitgleich mit der starken Ausbreitung der LTE-Advanced-Mobilfunktechnologie stellt Anritsu eine neue Softwareoption für LTE-Advanced für den Mobilfunkanalysator MT8820C vor. Das Softwarepaket MX882012C-021 bietet Entwicklern und Herstellern von Mobilfunkgeräten die weltweit erste All-in-one Testlösung für LTE AdvancedCall-Processing-Tests. Darin enthalten sind Receiver und Lösungen für den Test des RF Throughputs. SMT Hybrid Packaging 2013 mit interessanten Schwerpunkten20. März 2013 - Die SMT Hybrid Packaging 2013 bietet vom 16. – 18.04.2013 in Nürnberg einen umfassenden Überblick über Produkte und Dienstleistungen zur Systemintegration in der Mikroelektronik. Zu den Schwerpunkten in diesem Jahr gehören unter anderem: die Live-Fertigungslinie „Power auf einer Linie“, der Gemeinschaftsstand „Molded Interconnect Devices“, Gemeinschaftsstand „Optics meets Electronics“ und der EMS Service Point. Zudem wurde das Kongress-Konzept etwas verändert. Tektronix steigt in den Markt für Leistungsanalysatoren ein20. März 2013 - Tektronix steigt in den Markt für Leistungsanalysatoren ein und wird in den kommenden Monaten eine komplette, neue Produktlinie vorstellen. Um diesen Schritt zu erleichtern, hat Tektronix eine Vereinbarung über einen Technologietransfer mit Voltech geschlossen, die Intellectual Property, Patente und Produkt-Designs für Leistungsanalysatoren umfasst. Voltech wird sich zum 30. September 2013 aus dem Markt für Leistungsanalysatoren zurückziehen. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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