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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsMixed-Signal-Oszilloskop mit Abtastraten bis 20 GSa/s07. März 2013 – Agilent Technologies hat seine Oszilloskop-Familie Infiniium 90000 X um ein weiteres extrem leistungsfähiges Mixed-Signal-Oszilloskop (MSO) erweitert. Außer sechs neuen MSO-Modellen sind noch 13-GHz-DSO- und DSA-Modelle zur Produktfamile hinzu gekommen. Durch die erweiterten Trigger-Funktionen von MSOs sparen Entwicklungsingenieure bei Debugging und Validierung ihrer Designs wertvolle Zeit. Kompakter Breitbandverstärker für EMV-Tests im Mikrowellenbereich06. März 2013 - Mit der Verstärkerfamilie R&S BBA150 für den Mikrowellenbereich baut Rohde & Schwarz sein EMV-Portfolio aus. Die kompakten und leichten Geräte verfügen über modernstes Verstärkerdesign. Sie sind für hohe Frequenzen ab 0,8 GHz optimiert. Das erste Modell der R&S BBA150-Familie ist für den Frequenzbereich von 0,8 GHz bis 3 GHz und in Leistungsklassen zwischen 30 W und 200 W erhältlich. Emissionsmessungen um Faktor 64 000 schneller06. März 2013 - GAUSS INSTRUMENTS stellt mit TDEMI eXtreme (kurz TDEMI X) eine neue Produktfamilie von Messempfängern mit stark erweiterten Analysefunktionen vor. Die Produktfamilie kann dank neuester FPGA Technologie die Messzeit um einen Faktor 64 000 reduzieren. Zudem wird durch hochauflösende Analog-Digital-Wandler die Dynamik um 25 dB gegenüber den Produkten TDEMI verbessert. Agilent erhöht Gewährleistung bei elektronischen Messgeräte auf drei Jahre05. März 2013 – Agilent Technologies gibt auf alle neue elektronischen Messgeräte, die ab dem 1. März 2013 verkauft werden, standardmäßig drei Jahre Reparatur-Gewährleistung. Die Verlängerung der Gewährleistungsfrist von bisher einem auf nunmehr drei Jahre ist das Ergebnis zahlreicher Maßnahmen zur kontinuierlichen Qualitätsverbesserung über die letzten Jahre, wodurch die Zuverlässigkeit der Produkte erheblich gesteigert werden konnte. Schneller PXI-Digitizer mit 10 Bit Auflösung als Oszilloskop-Ersatz04. März 2013 – National Instruments stellt den Digitizer NI PXIe-5162 und die aktualisierte Version des NI LabVIEW Jitter Analysis Toolkit vor. Dank einer vertikalen Auflösung von 10 Bit und einer Sample-Rate von 5 GS/s können mit dem Digitizer sehr schnelle Messungen mit der vierfachen vertikalen Auflösung gegenüber einem 8-Bit-Oszilloskop durchgeführt werden. Durch die Bandbreite von 1,5 GHz sowie vier Kanäle in nur einem Steckplatz ist der NI PXIe-5162 ideal für Digitizer-Systeme mit hoher Kanalanzahl im Fertigungstest, in der Forschung und der Charakterisierung geeignet. Oszilloskop-Tastköpfe für Ströme bis 300 A und Spannungen bis 7 kV04. März 2013 - Rigol Technologies Inc. erweitert sein Zubehörprogramm deutlich und stellt eine Reihe neuer Prüfadapter und Tastköpfe für die Oszilloskop-Serien DS1000, DS2000, DS4000 und DS6000 vor. Damit sind nun Stromtastköpfe für Ströme zwischen 50 A und 300 A und für für Differenzmessungen von Spannungen bis 7000 V erhältlich. EMV: Testsystem für Zulassungsprüfungen von Wireless-Geräte gemäß neuem Standard01. März 2013 — Auf der internationalen Fachmesse EMV Stuttgart 2013 präsentiert Rohde & Schwarz in Halle C2, Stand 328 das erste automatisierte Testsystem für Zulassungsprüfungen nach dem neuen Standard ETSI EN 300 328 v1.8.1 für Wireless-Geräte im 2,4 GHz-Band an. Die Norm wird ab 31. Dezember 2014 für alle in der Europäischen Union verkauften Geräte, die dieses Frequenzband nutzen, verpflichtend. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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