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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News28-GHz-Transceiver für 5G-Standardisierung07. Juli 2017 – National Instruments (NI) stellt neue 28-GHz-Funkempfänger vor, die in Kombination mit dem mmWave Transceiver System von NI den ersten kommerziell verfügbaren Transceiver bilden, mit dem bandbreitenintensive Signale im Frequenzbereich von 27,5 bis 29,5 GHz mit einer Echtzeitbandbreite von 2 GHz gesendet und/oder empfangen werden können. Das mmWave Transceiver System bietet zusammen mit anwendungsspezifischer Software eine umfassende SDR-Plattform (Software-Defined Radio) für Messungen und Forschungen im Rahmen der 5G-Spezifikationen von 3GPP und Verizon. Inline-Röntgensystem mit kürzerer Taktzeit und schnellerem Baugruppenhandling06. Juli 2017 - GÖPEL electronic hat eine neue Version des X Line · 3D, des Inline-Röntgensystems für die 3D-Inspektion in der Großserienfertigung vorgestellt. Verbesserungen der Hardware und neue Softwarefunktionen sorgen für höhere Prüfgeschwindigkeit und somit verkürzte Taktzeiten. Labornetzgeräte mit sehr hoher Leistungsdichte05. Juli 2017 - Bei maximal 5 kW Ausgangsleistung im 1 HE-19”-Rackgehäuse setzt das erste Modell der neuen Generation der Labornetzteil-Familie Genesys+ von TDK-Lambda neue Maßstäbe auf dem Markt der Stromversorgungen. Die neue Serie liefert die momentan höchste am Markt erhältliche Leistungsdichte in einem 1 HE-19”-Rack bei einem Gewicht von weniger als 7,5 kg. Geschäftsbereich Messtechnik von Rohde & Schwarz unter neuer Leitung04. Juli 2017 - Andreas Pauly, bisher Leiter des Fachgebiets Signalgeneratoren, Audioanalysatoren und Leistungsmesser, hat zum 1. Juli 2017 die Leitung des Geschäftsbereichs Messtechnik bei Rohde & Schwarz übernommen. Damit einhergehend wurde er in die Geschäftsleitung berufen. Messung schneller serieller Schnittstellen bis 5 GBit/s03. Juli 2017 - Rohde & Schwarz bietet für die Oszilloskope der R&S RTO2000 Serie neue Testoptionen für Tests an schnellen Kommunikationsschnittstellen an. Die neuen Testoptionen unterstützen die 5 GBit/s-Schnittstellen SuperSpeed-USB und PCI Express (PCIe) 2.0. Hinzu kommt eine neue Lösung für USB Power Delivery (USB-PD). Kostengünstiger Wafer-Level Test unterschiedlicher Halbleiterspeicher30. Juni 2017 – Advantest stellt mit dem neuen Memory-Tester T5822 das neueste Mitglied seiner T5800 Produktserie vor. Dieser ist für den Test von DRAM-, NAND- und anderen nicht-flüchtigen Speicher-Bauteilen auf Wafer-Ebene optimiert. Derartige Bauteile kommen in tragbaren elektronischen Geräten zum Einsatz. Universelle Verstärker mit großer Bandbreite29. Juni 2017 - AR hat eine neue Familie von RF Solid State Klasse A Verstärker mit einer Bandbreite, welche fast unbegrenzte Anwendungen ermöglichen, vorgestellt. Die neue "U" Serie deckt den Frequenzbereich von 10 kHz bis 1 GHz mit einem einzigen Single-Band-Verstärker ab. Diese eignen sich hervorragend für EMV-Tests, Labor-Tests, Antenne & Component Tests, Wattmeter Kalibrierung, Medical/Physik-Forschung und vieles mehr. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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