|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Digitizer-System mit 10 GS/s Abtastrate und bis zu 16 Kanälen30. Oktober 2023 - Eine neue Option von Spectrum Instrumentation ermöglicht die Realisierung Mehrkanal-Datenerfassungssystemen mit extrem hohen Abtastgeschwindigkeiten von bis zu 10 GS/s. Die Star-Hub genannte Option erlaubt die Kopplung von bis zu 8 PCIe-Digitalisierern des Unternehmens (M5i.33xx-Serie). Die einzelnen Karten teilen sich dann gemeinsame Takt- und Triggersignale, wodurch eine minimale Phasenverzögerung und Zeitverzögerung zwischen allen Kanälen gewährleistet wird. Die Star-Hub-Option lässt sich installieren, indem ein Huckepack-Modul auf eine der Karten der M5i-Serie im Mehrkanalsystem montiert wird. Über eine genau abgestimmte und abgeschirmte Koaxialverkabelung verteilt die Karte dann den Takt an die anderen Module und synchronisiert das Triggerereignis präzise mit dem Systemtakt. Star-Hub kann mit allen Karten aus der M5i.33xx-Digitizerfamilie verwendet werden. Es sind sieben verschiedene Modelle mit einem oder zwei Kanälen, Abtastraten von 3,2 bis 10 GS/s, 12 Bit vertikaler Auflösung und Bandbreiten von 1 bis 4,7 GHz erhältlich. Die Karten können unterschiedliche Signale verarbeiten und verfügen über programmierbare Eingangsspannungsbereiche, Offset-Funktionen, große On-Board-Speicher, erweiterte Triggerfunktionen und eine Reihe verschiedener Erfassungsmodi. In Verbindung mit Star-Hub lassen sich so Datenerfassungssysteme mit 2 bis 16 Kanälen und einer Abtastrate von bis zu 5 GS/s oder bis zu 8 Kanälen mit der maximalen Abtastrate von 10 GS/s relaisieren. www.spectrum-instrumentation.com/ Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |